CIQTEK revela solução 4D-STEM para microscopia eletrônica avançada
CIQTEK revela solução 4D-STEM para microscopia eletrônica avançada
September 28, 2025
Microscopia eletrônica de transmissão de varredura quadridimensional (4D-STEM)
é uma das áreas mais avançadas da microscopia eletrônica. Ao realizar uma varredura bidimensional na superfície da amostra e, ao mesmo tempo, registrar um padrão de difração completo em cada ponto de varredura com um detector pixelado, o 4D-STEM gera um conjunto de dados quadridimensional contendo informações do espaço real e do espaço recíproco.
Esta técnica rompe as limitações da microscopia eletrônica convencional, que normalmente coleta apenas um único sinal de espalhamento. Em vez disso, ela captura e analisa todo o espectro de interações elétron-amostra. Com a 4D-STEM, os pesquisadores podem obter diversas funcionalidades avançadas em um único experimento, incluindo imagens virtuais, orientação de cristais e mapeamento de deformações, análise de distribuição de campos elétricos e magnéticos (contraste de fase diferencial) e até mesmo reconstrução de resolução atômica por empilhamento de difração. Ela expande significativamente a dimensionalidade e a profundidade da caracterização de materiais, oferecendo uma ferramenta sem precedentes para nanociência e pesquisa de materiais.
Na Conferência Nacional Chinesa sobre Microscopia Eletrônica 2025 (26 a 30 de setembro, Wuhan),
CIQTEK
libera seu
Solução 4D-STEM
, projetado para romper os limites da geração de imagens tradicionais e fornecer dados com dimensionalidade e poder analítico inigualáveis.
Fluxo de trabalho do sistema
O
Solução CIQTEK 4D-STEM
características
alta resolução espacial, análise multidimensional, operação de baixa dose
para minimizar danos ao feixe e processamento de dados flexível
, fornecendo aos pesquisadores métodos confiáveis e excelentes para análise avançada de materiais.
Ga + Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focalizado O Microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de amostras. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa voltagem, alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons facilitam um Ga + Fonte de íons metálicos líquidos com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.