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FESEM | SEM4000X

Estável, versátil, flexível e eficiente.

O CIQTEK SEM4000X É estável, versátil, flexível e eficiente. microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (MEV-FEG) Atinge uma resolução de 1,8 nm a 1,0 kV e lida facilmente com desafios de imagem de alta resolução para diversos tipos de amostras. Pode ser atualizado com um modo de desaceleração de feixe ultra-rápido para melhorar ainda mais a resolução em baixa tensão.

O microscópio utiliza tecnologia multidetectora, com um detector de elétrons (UD) na coluna capaz de detectar sinais de elétrons secundários (SE) e elétrons retroespalhados (BSE), proporcionando alta resolução. O detector de elétrons (LD) montado na câmara incorpora um cristal cintilador e tubos fotomultiplicadores, oferecendo maior sensibilidade e eficiência, resultando em imagens estereoscópicas de excelente qualidade. A interface gráfica do usuário é intuitiva e apresenta funções de automação como ajuste automático de brilho e contraste, foco automático, estigmatizador automático e alinhamento automático, permitindo a captura rápida de imagens de altíssima resolução.

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▶ Óptica Eletrônica

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▶ Software de análise de partículas e poros (Partículas) *Opcional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

O software CIQTEK SEM Microscope emprega diversos algoritmos de detecção e segmentação de alvos, adequados para diferentes tipos de amostras de partículas e poros. Ele permite a análise quantitativa de estatísticas de partículas e poros e pode ser aplicado em áreas como ciência dos materiais, geologia e ciências ambientais.

▶ Software de pós-processamento de imagens *Opcional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Realize o pós-processamento de imagens online ou offline em imagens capturadas por microscópios eletrônicos e integre funções de processamento de imagens de ME comumente usadas, além de ferramentas práticas de medição e anotação.

▶ Medição automática *Opcional

SEM Microscope software Auto Measure

Reconhecimento automático das bordas da largura da linha, resultando em medições mais precisas e maior consistência. Suporta múltiplos modos de detecção de bordas, como Linha, Espaço, Passo, etc. Compatível com diversos formatos de imagem e equipado com várias funções de pós-processamento de imagem comumente utilizadas. O software é fácil de usar, eficiente e preciso.

▶ Kit de Desenvolvimento de Software (SDK) *Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fornece um conjunto de interfaces para o controle do microscópio eletrônico de varredura (MEV), incluindo aquisição de imagens, configurações de operação, ligar/desligar, controle da platina, etc. Definições de interface concisas permitem o rápido desenvolvimento de scripts e softwares específicos para operação do microscópio eletrônico, possibilitando o rastreamento automatizado de regiões de interesse, aquisição de dados para automação industrial, correção de desvio de imagem e outras funções. Pode ser utilizado para o desenvolvimento de software em áreas especializadas como análise de diatomáceas, inspeção de impurezas em aço, análise de limpeza, controle de matéria-prima, etc.

▶ Mapa automático *Opcional

FESEM Microscope software Auto Measure

Especificações do Microscópio CIQTEK SEM4000X FESEM
Óptica Eletrônica Resolução 0,9 nm a 30 kV, SE
1,0 nm a 15 kV, SE
1,8 nm a 1 kV, SE
1,5 nm a 1 kV (Desaceleração ultra do feixe)
0,8 nm a 15 kV (Desaceleração do feixe Ultra)
Tensão de aceleração 0,2 kV ~ 30 kV
Ampliação (Polaroid) 1 ~ 1.000.000 x
Tipo de canhão de elétrons Canhão de Elétrons de Emissão de Campo Schottky
Câmara de Amostras Câmera Câmeras duplas (navegação óptica + monitoramento da câmara)
Alcance do palco

X: 110 mm

Y: 110 mm

Z: 65 mm

T: -10° ~ +70°

R: 360°

Detectores e extensões para MEV Padrão

Detector de elétrons na lente: UD-BSE/UD-SE

Detector Everhart-Thornley: LD

Opcional

Detector de Elétrons Retroespalhados (BSED)

Detector retrátil de microscopia eletrônica de transmissão por varredura (STEM)

Detector de baixo vácuo (LVD)

Espectrômetro de Dispersão de Energia (EDS / EDX)

Padrão de difração de retroespalhamento de elétrons (EBSD)

Câmara de troca de espécimes (4 polegadas / 8 polegadas)

Painel de controle com trackball e botão giratório

Tecnologia de Modo de Desaceleração Ultra Beam

Interface do usuário Linguagem Inglês
SO Windows
Navegação Navegação óptica, navegação rápida por gestos, trackball (opcional)
Funções automáticas Brilho e contraste automáticos, foco automático, estigmatizador automático
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