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FESEM | SEM4000X

Estável, versátil, flexível e eficiente

O CIQTEK SEM4000X é estável, versátil, flexível e eficiente microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (FE-SEM) . Ele atinge uma resolução de 1,9 nm a 1,0 kV e enfrenta facilmente desafios de imagens de alta resolução para vários tipos de amostras. Pode ser atualizado com um modo de desaceleração de ultra-feixe para aprimorar ainda mais a resolução em baixa tensão.

O microscópio utiliza tecnologia multidetectora, com um detector de elétrons (UD) na coluna capaz de detectar sinais SE e BSE, proporcionando desempenho de alta resolução. O detector de elétrons (LD) montado na câmara incorpora tubos cintiladores de cristal e fotomultiplicadores, oferecendo maior sensibilidade e eficiência, resultando em imagens estereoscópicas de excelente qualidade. A interface gráfica do usuário é intuitiva, com funções de automação como brilho e contraste automáticos, foco automático, estigmatizador automático e alinhamento automático, permitindo a captura rápida de imagens de ultra-alta resolução.

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▶ Óptica Eletrônica

sem Electron Optics

▶ Software de análise de partículas e poros (partículas) *Opcional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

O software CIQTEK SEM Microscope emprega vários algoritmos de detecção e segmentação de alvos, adequados para diferentes tipos de amostras de partículas e poros. Ele permite a análise quantitativa de estatísticas de partículas e poros e pode ser aplicado em áreas como ciência dos materiais, geologia e ciência ambiental.

▶ Software de pós-processamento de imagem *Opcional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Execute pós-processamento de imagens on-line ou off-line em imagens capturadas por microscópios eletrônicos e integre funções de processamento de imagens EM comumente usadas, medição conveniente e ferramentas de anotação.

▶ Medição automática *Opcional

SEM Microscope software Auto Measure

Reconhecimento automático de bordas de largura de linha, resultando em medições mais precisas e maior consistência. Suporta múltiplos modos de detecção de bordas, como Linha, Espaço, Passo, etc. Compatível com diversos formatos de imagem e equipado com diversas funções de pós-processamento de imagem comumente utilizadas. O software é fácil de usar, eficiente e preciso.

▶ Kit de Desenvolvimento de Software (SDK) *Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fornece um conjunto de interfaces para controlar o microscópio SEM, incluindo aquisição de imagens, configurações de condições operacionais, ligar/desligar, controle de platina, etc. Definições concisas de interface permitem o desenvolvimento rápido de scripts e softwares específicos para operação de microscópio eletrônico, permitindo o rastreamento automatizado de regiões de interesse, aquisição de dados para automação industrial, correção de desvio de imagem e outras funções. Pode ser usado para desenvolvimento de software em áreas especializadas, como análise de diatomáceas, inspeção de impurezas de aço, análise de limpeza, controle de matéria-prima, etc.

▶ AutoMap *Opcional

FESEM Microscope software Auto Measure

Especificações do microscópio CIQTEK SEM4000X FESEM
Óptica Eletrônica Resolução 0,9 nm a 30 kV, SE
1,2 nm a 15 kV, SE
1,9 nm a 1 kV, SE
1,5 nm@1 kV (Desaceleração de ultra feixe)
1 nm@15 kV (Desaceleração de ultra feixe)
Tensão de aceleração 0,2 kV ~ 30 kV
Ampliação (Polaroid) 1 ~ 1.000.000 x
Tipo de arma de elétrons Canhão de elétrons de emissão de campo Schottky
Câmara de Amostras Câmera Câmeras duplas (navegação óptica + monitoramento de câmara)
Alcance do estágio

X: 110 mm

Y: 110 mm

Z: 65 mm

Temperatura: -10°~ +70°

R: 360°

Detectores e extensões SEM Padrão

Detector de elétrons na lente: UD-BSE/UD-SE

Detector Everhart-Thornley: LD

Opcional

Detector de elétrons retrodispersos (BSED)

Detector retrátil de microscopia eletrônica de transmissão de varredura (STEM)

Detector de baixo vácuo (LVD)

Espectrômetro de Energia Dispersiva (EDS / EDX)

Padrão de difração de retroespalhamento de elétrons (EBSD)

Trava de carga para troca de espécimes (4 polegadas / 8 polegadas)

Painel de controle de trackball e botão

Tecnologia de modo de desaceleração de ultra feixe

Interface do usuário Linguagem Inglês
SO Windows
Navegação Navegação óptica, navegação rápida por gestos, trackball (opcional)
Funções Automáticas Brilho e contraste automáticos, foco automático, estigmatizador automático
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