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Filamento de tungstênio SEM | SEM3300

Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio

O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.

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▶ Detector de elétrons na lente

  • SEM In-lens Electron Detector
  • SEM3300 analysis images

    Imagens do diafragma da bateria de lítio tiradas a 1 kV com uma ampliação de 20.000 vezes em filme, imagens tiradas com SEM3300

▶ Navegação Óptica

O uso de uma câmera de câmara montada verticalmente para capturar imagens ópticas para navegação no estágio da amostra permite um posicionamento mais intuitivo e preciso da amostra.

▶ Funções Automáticas

Funções aprimoradas de Brilho e Contraste Automáticos, Foco Automático e Correção Automática de Astigmatismo. Imagens com um único clique!

>> Foco Automático

>> Correção Automática de Astigmatismo

>> Brilho e contraste automáticos

▶ Mais seguro de usar

▶ Substituição fácil de filamentos

Módulo de filamento de substituição pré-alinhado pronto para uso.

Galeria de imagens do microscópio SEM3300 da CIQTEK

▶ Software de análise de partículas e poros (partículas) *Opcional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

O software CIQTEK SEM Microscope emprega vários algoritmos de detecção e segmentação de alvos, adequados para diferentes tipos de amostras de partículas e poros. Ele permite a análise quantitativa de estatísticas de partículas e poros e pode ser aplicado em áreas como ciência dos materiais, geologia e ciência ambiental.

▶ Software de pós-processamento de imagem

SEM Microscope Image Post-processing Software

Execute pós-processamento de imagens on-line ou off-line em imagens capturadas por microscópios eletrônicos e integre funções de processamento de imagens EM comumente usadas, medição conveniente e ferramentas de anotação.

▶ Medição automática *Opcional

SEM Microscope software Auto Measure

Reconhecimento automático de bordas de largura de linha, resultando em medições mais precisas e maior consistência. Suporta múltiplos modos de detecção de bordas, como Linha, Espaço, Passo, etc. Compatível com diversos formatos de imagem e equipado com diversas funções de pós-processamento de imagem comumente utilizadas. O software é fácil de usar, eficiente e preciso.

▶ Kit de Desenvolvimento de Software (SDK) *Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fornece um conjunto de interfaces para controlar o microscópio SEM, incluindo aquisição de imagens, configurações de condições operacionais, ligar/desligar, controle de platina, etc. Definições concisas de interface permitem o desenvolvimento rápido de scripts e softwares específicos para operação de microscópio eletrônico, permitindo o rastreamento automatizado de regiões de interesse, aquisição de dados para automação industrial, correção de desvio de imagem e outras funções. Pode ser usado para desenvolvimento de software em áreas especializadas, como análise de diatomáceas, inspeção de impurezas de aço, análise de limpeza, controle de matéria-prima, etc.

▶ AutoMap *Opcional

Especificações do microscópio SEM CIQTEK SEM3300
Óptica Eletrônica Resolução 2,5 nm a 15 kV, SE
4 nm a 3 kV, SE
5 nm a 1 kV, SE
Tensão de aceleração 0,1 kV ~ 30 kV
Ampliação (Polaroid) 1 x ~ 300.000 x
Câmara de Amostras Câmera Navegação Óptica
Monitoramento de Câmara
Tipo de palco Motorizado compatível com vácuo de 5 eixos
Alcance XY 125 milímetros
Faixa Z 50 milímetros
Faixa T - 10° ~ 90°
Faixa R 360°
Detectores SEM Padrão Detector de elétrons na lente (Inlens)
Detector Everhart-Thornley (ETD)
Opcional Detector de elétrons retrodispersos retrátil (BSED)
Espectrômetro de Energia Dispersiva (EDS / EDX)
Padrão de difração de elétrons retroespalhados (EBSD)
Opcional Trava de troca de espécimes
Painel de controle de trackball e botão
Interface do usuário Sistema operacional Windows
Navegação Navegação óptica, navegação rápida por gestos, trackball (opcional)
Funções Automáticas Brilho e contraste automáticos, foco automático, estigmatizador automático
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