Fácil de usar Filamento de tungstênio compacto Microscópio Eletrônico de Varredura
O Microscópio SEM CIQTEK SEM2100 Apresenta um processo operacional simplificado e segue os padrões da indústria e os hábitos do usuário em seu design de "Interface do Usuário". Apesar da interface de software minimalista, ele oferece funções automatizadas abrangentes, ferramentas de medição e anotação, recursos de gerenciamento de pós-processamento de imagens, navegação óptica de imagens e muito mais. O design do SEM2100 concretiza perfeitamente a ideia de "Simplicidade sem sacrificar a funcionalidade".
O uso de uma câmera de câmara montada verticalmente para capturar imagens ópticas para navegação no estágio da amostra permite um posicionamento mais intuitivo e preciso da amostra.
Neste modo, o valor de astigmatismo de X e Y varia com os pixels. A nitidez da imagem é maximizada no valor de astigmatismo ideal, permitindo um ajuste rápido do estigmador.
Funções aprimoradas de Brilho e Contraste Automáticos, Foco Automático e Correção Automática de Astigmatismo. Imagens com um único clique!
Módulo de filamento de substituição pré-alinhado pronto para uso.
>> Metalurgia
>> Semicondutor
>> Novos Materiais de Energia
>> Cerâmica
>> Materiais de polímeros e fibras
>> Biomédica
>> Comida
O software CIQTEK SEM Microscope emprega vários algoritmos de detecção e segmentação de alvos, adequados para diferentes tipos de amostras de partículas e poros. Ele permite a análise quantitativa de estatísticas de partículas e poros e pode ser aplicado em áreas como ciência dos materiais, geologia e ciência ambiental.
Execute pós-processamento de imagens on-line ou off-line em imagens capturadas por microscópios eletrônicos e integre funções de processamento de imagens EM comumente usadas, medição conveniente e ferramentas de anotação.
Reconhecimento automático de bordas de largura de linha, resultando em medições mais precisas e maior consistência. Suporta múltiplos modos de detecção de bordas, como Linha, Espaço, Passo, etc. Compatível com diversos formatos de imagem e equipado com diversas funções de pós-processamento de imagem comumente utilizadas. O software é fácil de usar, eficiente e preciso.
Fornece um conjunto de interfaces para controlar o microscópio SEM, incluindo aquisição de imagens, configurações de condições operacionais, ligar/desligar, controle de platina, etc. Definições concisas de interface permitem o desenvolvimento rápido de scripts e softwares específicos para operação de microscópio eletrônico, permitindo o rastreamento automatizado de regiões de interesse, aquisição de dados para automação industrial, correção de desvio de imagem e outras funções. Pode ser usado para desenvolvimento de software em áreas especializadas, como análise de diatomáceas, inspeção de impurezas de aço, análise de limpeza, controle de matéria-prima, etc.
Microscopia SEM de Filamento de Tungstênio CIQTEK SEM2100 |
Dentro da fábrica da CIQTEK: tour de fabricação de microscópios eletrônicos |
Microscópio SEM CIQTEK SEM2100 | ||||
Óptica Eletrônica | Resolução |
3,9 nm a 20 kV, SE
4,5 nm a 20 kV, BSE |
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Tensão de aceleração | 0,5 kV ~ 30 kV | |||
Ampliação (Polaroid) | 1 x ~ 300.000 x | |||
Câmara de Amostras | Câmera | Navegação Óptica | ||
Monitoramento de Câmara | ||||
Tipo de palco | Motorizado compatível com vácuo de 3 eixos e eixos XYZ | |||
Alcance XY | 125 milímetros | |||
Faixa Z | 50 milímetros | |||
Detectores SEM | Padrão | Detector Everhart-Thornley (ETD) | ||
Opcional |
Detector de elétrons retrodispersos retrátil (BSED)
Espectrômetro de Energia Dispersiva (EDS / EDX) Padrão de difração de elétrons retroespalhados (EBSD) |
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Opcional | Trava de troca de espécimes | |||
Painel de controle de trackball e botão | ||||
Interface do usuário | Sistema operacional | Windows | ||
Navegação | Navegação óptica, navegação rápida por gestos, trackball (opcional) | |||
Funções Automáticas | Brilho e contraste automáticos, foco automático, estigmatizador automático |