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FESEM de ultra-alta resolução | SEM5000X

Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM)

O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.

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▶ Óptica Eletrônica

SEM5000X Electron Optics

Atualização da lente objetiva

A aberração cromática da lente foi reduzida em 12%, a aberração esférica da lente foi reduzida em 20% e a aberração geral foi reduzida em 30%.

SEM5000X Electron Optics

Tecnologia de desaceleração de feixe duplo

Desaceleração do feixe na lente, aplicável a espécimes com grandes volumes, seções transversais e superfícies irregulares. A tecnologia de desaceleração dupla (desaceleração do feixe na lente + desaceleração do feixe em tandem na plataforma do espécime) desafia os limites dos cenários de captura de sinais da superfície do espécime.

▶ Imagens de alta resolução e baixa tensão

▶ Detector de elétrons na lente / espécime

▶ Detector Everhart-Thornley (ETD)

▶ Detector de elétrons retrodispersos retrátil (BSED) *Opcional

FESEM Retractable Back-Scattered Electron Detector (BSED)

▶ Modo ECCI baseado em BSED (Imagem de contraste de canalização de elétrons)

O "efeito de canalização de elétrons" refere-se a uma redução significativa no espalhamento de elétrons por redes cristalinas, quando o feixe de elétrons incidente satisfaz a condição de difração de Bragg, permitindo que um grande número de elétrons passe pela rede, exibindo assim um efeito de "canalização".

Para materiais policristalinos com composição uniforme e superfícies planas polidas, a intensidade dos elétrons retroespalhados depende da orientação relativa entre o feixe de elétrons incidente e os planos cristalinos. Grãos com maior variação de orientação exibem sinais mais fortes, portanto, imagens mais brilhantes, permitindo a caracterização qualitativa com esse mapa de orientação de grãos.

▶ Imagens multicanal simultâneas por meio de vários detectores

▶ Detector retrátil de microscopia eletrônica de transmissão de varredura (STEM)

FESEM Retractable Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Detector

>> Vários modos de operação: Imagem de campo claro (BF), Imagem de campo escuro (DF), Imagem de campo escuro anular de alto ângulo (HAADF)

▶ Avanços em Microscopia Eletrônica CIQTEK - Mais Opções

>> Espectrometria de Energia Dispersiva

>> Catoluminescência

>> EBSD

▶ Software de análise de partículas e poros (partículas) *Opcional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

O software CIQTEK SEM Microscope emprega vários algoritmos de detecção e segmentação de alvos, adequados para diferentes tipos de amostras de partículas e poros. Ele permite a análise quantitativa de estatísticas de partículas e poros e pode ser aplicado em áreas como ciência dos materiais, geologia e ciência ambiental.

▶ Software de pós-processamento de imagem *Opcional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Execute pós-processamento de imagens on-line ou off-line em imagens capturadas por microscópios eletrônicos e integre funções de processamento de imagens EM comumente usadas, medição conveniente e ferramentas de anotação.

▶ Medição automática *Opcional

SEM Microscope software Auto Measure

Reconhecimento automático de bordas de largura de linha, resultando em medições mais precisas e maior consistência. Suporta múltiplos modos de detecção de bordas, como Linha, Espaço, Passo, etc. Compatível com diversos formatos de imagem e equipado com diversas funções de pós-processamento de imagem comumente utilizadas. O software é fácil de usar, eficiente e preciso.

▶ Kit de Desenvolvimento de Software (SDK) *Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fornece um conjunto de interfaces para controlar o microscópio SEM, incluindo aquisição de imagens, configurações de condições operacionais, ligar/desligar, controle de platina, etc. Definições concisas de interface permitem o desenvolvimento rápido de scripts e softwares específicos para operação de microscópio eletrônico, permitindo o rastreamento automatizado de regiões de interesse, aquisição de dados para automação industrial, correção de desvio de imagem e outras funções. Pode ser usado para desenvolvimento de software em áreas especializadas, como análise de diatomáceas, inspeção de impurezas de aço, análise de limpeza, controle de matéria-prima, etc.

▶ AutoMap *Opcional

FESEM Microscope software Auto Measure

Especificações do microscópio CIQTEK SEM5000X FESEM
Óptica Eletrônica Resolução 0,6 nm a 15 kV, SE
1,0 nm a 1 kV, SE
Tensão de aceleração 0,02 kV ~30 kV
Ampliação 1 ~ 2.500.000 x
Tipo de arma de elétrons Canhão de elétrons de emissão de campo Schottky
Câmara de Amostras Câmeras Câmeras duplas (navegação óptica + monitor de câmara)
Tipo de palco Estágio de amostra eucêntrico mecânico de 5 eixos
Alcance do estágio X=110 mm, Y=110 mm, Z=65 mm
T: -10*~+70°, R: 360°
Detectores e extensões SEM Padrão Detector na lente
Detector Everhart-Thornley (ETD)
Opcional

Detector de elétrons retrodispersos retrátil (BSED)

Detector retrátil de microscopia eletrônica de transmissão de varredura (STEM)

Detector de baixo vácuo (LVD)

Espectrômetro de Energia Dispersiva (EDS / EDX)

Padrão de difração de retroespalhamento de elétrons (EBSD)

Trava de carga para troca de espécimes (4 polegadas / 8 polegadas)

Painel de controle de trackball e botão

Modo Duo-Dec (Duo-Dec)

Interface do usuário Idiomas Inglês
Sistema operacional Windows
Navegação Navegação óptica, navegação rápida por gestos, trackball (opcional)
Funções Automáticas Brilho e contraste automáticos, foco automático, estigmatizador automático

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