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Baixa Tensão Alta Resolução
Alta estabilidade
Detector de elétrons na lente

*Trava de troca de espécimes (compatível com 8 polegadas)
Deflexão de feixe eletromagnético com aberturas multifuros
Excelente expansibilidade

▶ Óptica Eletrônica

★ Tecnologia de coluna óptica eletrônica "Super Tunnel"/desaceleração do feixe na lente
Diminui o efeito de carga espacial, garantindo resolução de baixa tensão.

★ Sem cruzamento no caminho do feixe de elétrons
Reduza efetivamente as aberrações da lente e melhore a resolução.

★ Lente objetiva composta eletromagnética e eletrostática
Reduza aberrações, melhore significativamente a resolução em baixas tensões e permita a observação de amostras magnéticas.

★ Lente objetiva de temperatura constante resfriada a água
Garantir a estabilidade, confiabilidade e repetibilidade da operação da lente objetiva.

★ Abertura variável de múltiplos furos com sistema de deflexão de feixe eletromagnético
Troca automática entre aberturas sem movimento mecânico, permitindo troca rápida entre modos de imagem.

▶ Modo ECCI baseado em BSED (Imagem de contraste de canalização de elétrons)

O "efeito de canalização de elétrons" refere-se a uma redução significativa no espalhamento de elétrons por redes cristalinas, quando o feixe de elétrons incidente satisfaz a condição de difração de Bragg, permitindo que um grande número de elétrons passe pela rede, exibindo assim um efeito de "canalização".

Para materiais policristalinos com composição uniforme e superfícies planas polidas, a intensidade dos elétrons retroespalhados depende da orientação relativa entre o feixe de elétrons incidente e os planos cristalinos. Grãos com maior variação de orientação exibem sinais mais fortes, portanto, imagens mais brilhantes, permitindo a caracterização qualitativa com esse mapa de orientação de grãos.

Ligas impressas em 3D (preparadas com polimento por feixe de íons)
Aço inoxidável (preparado com polimento por feixe de íons)

▶ Imagens multicanal simultâneas por meio de vários detectores

Uma grande resolução foi alcançada em características topográficas de superfície com imagens de detector de elétrons na lente
Boas imagens estereoscópicas de características morfológicas com imagens do detector Everhart-Thornley
Imagem de contraste de número atômico (contraste Z) com detector de elétrons retrodispersos retrátil

▶ Detector retrátil de microscopia eletrônica de transmissão de varredura (STEM)

FESEM Retractable Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Detector

>> Vários modos de operação: Imagem de campo claro (BF), Imagem de campo escuro (DF), Imagem de campo escuro anular de alto ângulo (HAADF)

Imagem de campo claro de seção de planta (STEM-BF)
Imagem de campo escuro de seção de planta (STEM-DF)
Imagem de contraste de número atômico (contraste Z) com detector de elétrons retrodispersos retrátil

▶ Avanços em Microscopia Eletrônica CIQTEK - Mais Opções

>> Espectrometria de Energia Dispersiva

>> Catoluminescência

>> EBSD

Galeria de imagens do microscópio CIQTEK FESEM SEM5000Pro

>> Ciência dos Materiais - Nanomateriais

Material bidimensional não condutor C3N4, caracterização não destrutiva de sua estrutura de camada fina em condições de baixa tensão a 500 V
Imagem de espuma de níquel com forte efeito tridimensional usando uma tensão de excitação de 2 kV com detector Everhart-Thornley (ETD)
Imagem de pó de prata subnanométrico usando um detector de elétrons na lente a 3 kV em condições de alto vácuo

>> Ciência dos Materiais - Materiais Energéticos

Precursor de cátodo de bateria de íons de lítio - Fosfato de ferro com baixa condutividade, obtido por meio de um detector de elétrons na lente (na lente) em condições de baixa tensão (1 kV)
Qualidade de metalização da superfície de wafers de silício fotovoltaicos, obtida por meio de um detector Everhart-Thornley (ETD) montado em câmara a 2 kV
Filme de superfície SEI (Solid Electrolyte Interphase) no eletrodo negativo com falha, obtido em condições de alto vácuo usando um detector de elétrons na lente (na lente) a 3 kV

>> Ciência dos Materiais - Materiais poliméricos e materiais metálicos

Utilizando o Detector Everhart-Thornley (ETD) em condições de alto vácuo e baixa tensão (1 kV) para obter imagens da morfologia de microesferas de poliestireno. Nenhum fenômeno de carga foi observado, resultando em uma forte percepção tridimensional.
Imagem não destrutiva de 500 V de fibras de membrana de polímero de bateria de íon-lítio sob condição de sensibilidade de superfície
$sem image analysis High-resolution imaging of nano-sized precipitates in fracture surfaces using the Retractable Back-Scattered Electron Detector(BSED)$
Imagens de alta resolução de precipitados nanométricos em superfícies de fratura usando o Detector de Elétrons Retrodispersos Retrátil (BSED)

>> Materiais Magnéticos - Materiais Poliméricos e Materiais Metálicos

Esferas magnéticas de polímero, com baixa condutividade, caracterizadas usando uma baixa tensão a 2 kV com detector Everhart-Thornley (ETD) para a caracterização de entrega de fármacos biologicamente direcionada
$sem image analysis 10 kV imaging with Everhart-Thornley Detector (ETD) used to characterize the fracture surface of iron-nickel alloy metal.$
A imagem de 10 kV com detector Everhart-Thornley (ETD) foi usada para caracterizar a superfície de fratura do metal da liga de ferro-níquel
Contas magnéticas de polímero, caracterizadas usando um detector Everhart-Thornley (ETD) de baixa tensão de 2 kV, exibem um forte senso de tridimensionalidade

>> Materiais Semicondutores

Imagem dos padrões de superfície e circuitos em um chip usando um detector de elétrons retrodispersos retrátil (BSED)
Caracterização de detector t-Thornley Everhar (ETD) de baixa tensão (2 kV) das texturas de superfície e borda de furo de uma fotorresistência
Imagem das juntas de solda de fios de ouro em um chip usando um Detector de Elétrons Retrodispersos Retrátil (BSED). Amostra preparada com polimento por feixe de íons.

>> Ciências da Vida

Caracterização de iridóforos em células da pele de lagarto, usando o detector STEM no CIQTEK SEM5000Pro FE-SEM.

As cores animais na natureza podem ser classificadas em duas categorias com base em seus mecanismos de formação: cores pigmentares e cores estruturais.
As cores dos pigmentos são obtidas por meio de variações na composição dos pigmentos e da sobreposição de cores, semelhante aos princípios das "cores primárias".
As cores estruturais, por outro lado, são geradas pela reflexão da luz em diferentes comprimentos de onda por estruturas fisiológicas complexas, baseadas principalmente em princípios ópticos. Os iridóforos, encontrados nas células da pele dos lagartos, possuem estruturas semelhantes a grades de difração. Chamamos essas estruturas de "placas cristalinas". Placas cristalinas podem refletir e dispersar luz em diferentes comprimentos de onda. Estudos demonstraram que, ao variar o tamanho, o espaçamento e o ângulo das placas cristalinas nos iridóforos dos lagartos, os comprimentos de onda da luz espalhada e refletida por sua pele podem ser alterados. Essa descoberta é significativa para a compreensão dos mecanismos por trás da mudança de cor na pele dos lagartos.

▶ Software de análise de partículas e poros (partículas) *Opcional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

O software CIQTEK SEM Microscope emprega vários algoritmos de detecção e segmentação de alvos, adequados para diferentes tipos de amostras de partículas e poros. Ele permite a análise quantitativa de estatísticas de partículas e poros e pode ser aplicado em áreas como ciência dos materiais, geologia e ciência ambiental.

▶ Software de pós-processamento de imagem *Opcional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Execute pós-processamento de imagens on-line ou off-line em imagens capturadas por microscópios eletrônicos e integre funções de processamento de imagens EM comumente usadas, medição conveniente e ferramentas de anotação.

▶ Medição automática *Opcional

Reconhecimento automático de bordas de largura de linha, resultando em medições mais precisas e maior consistência. Suporta múltiplos modos de detecção de bordas, como Linha, Espaço, Passo, etc. Compatível com diversos formatos de imagem e equipado com diversas funções de pós-processamento de imagem comumente utilizadas. O software é fácil de usar, eficiente e preciso.

▶ Kit de Desenvolvimento de Software (SDK) *Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fornece um conjunto de interfaces para controlar o microscópio SEM, incluindo aquisição de imagens, configurações de condições operacionais, ligar/desligar, controle de platina, etc. Definições concisas de interface permitem o desenvolvimento rápido de scripts e softwares específicos para operação de microscópio eletrônico, permitindo o rastreamento automatizado de regiões de interesse, aquisição de dados para automação industrial, correção de desvio de imagem e outras funções. Pode ser usado para desenvolvimento de software em áreas especializadas, como análise de diatomáceas, inspeção de impurezas de aço, análise de limpeza, controle de matéria-prima, etc.

▶ AutoMap *Opcional

Microscópio CIQTEK FESEM SEM5000Pro no Campus de Ulsan, Universidade Politécnica da Coreia
Nossos clientes coreanos instalaram com sucesso o FESEM SEM5000 no Campus de Ulsan. É amplamente considerado um dos SEMs mais avançados da atualidade. (Vídeo incluso)

>> Leia mais

Introdução ao CIQTEK FESEM SEM5000Pro

CIQTEK FESEM SEM5000Pro no Campus de Ulsan da Universidade Politécnica, Coreia

Dentro da fábrica da CIQTEK: tour de fabricação de microscópios eletrônicos

Especificações do microscópio CIQTEK FESEM SEM5000Pro
Óptica Eletrônica	Resolução	0,8 nm a 15 kV, SE 1,2 nm a 1,0 kV, SE
	Tensão de aceleração	0,02 kV ~ 30 kV
	Ampliação (Polaroid)	1 ~ 2.500.000 x
	Tipo de arma de elétrons	Canhão de elétrons de emissão de campo Schottky
Câmara de Amostras	Câmera	Câmeras duplas (navegação óptica + monitor de câmara)
	Câmera	Câmeras duplas (navegação óptica + monitor de câmara)
	Alcance do estágio	X: 110 mm, Y: 110 mm, Z: 65 mm T: -10°～ +70°, R: 360°
Detectores e extensões SEM	Padrão	Detector de elétrons Inlens Detector Everhart-Thornley (ETD)
Detectores e extensões SEM	Opcional	Detector de elétrons retrodispersos retrátil (BSED) Microscópio Eletrônico de Transmissão de Varredura Retrátil (STEM) Detector de baixo vácuo (LVD) Espectroscopia de Dispersão de Energia (EDS / EDX) Padrão de difração de retroespalhamento de elétrons (EBSD) Trava de troca de espécimes (4 polegadas / 8 polegadas) Painel de controle de trackball e botão
Software	Linguagem	Inglês
	Sistema operacional	Windows
	Navegação	Navegação óptica, navegação rápida por gestos, trackball (opcional)
	Funções Automáticas	Brilho e contraste automáticos, foco automático, estigmatizador automático