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À medida que a fabricação de semicondutores avança para nós de processo mais refinados, a análise de defeitos em nível de wafer, a localização de falhas e a micro-nanofabricação se tornaram essenciais para melhorar o rendimento. CIQTEK apresenta o Solução de processamento de tamanho completo de feixe duplo de wafer de 8 polegadas , combinando imagens de alta resolução e processamento preciso de feixe de íons para alcançar "observação-análise-corte" em todo o wafer, fornecendo forte suporte técnico para processos avançados de semicondutores. Esta solução conta com um estágio de amostra de alta precisão e curso longo de 150 mm, permitindo a observação e o processamento não destrutivos de wafers de 8 polegadas em toda a superfície do wafer. Com um sistema de navegação óptica externo e algoritmos anticolisão inteligentes, garante o posicionamento rápido e preciso do wafer e uma operação segura. O sistema é equipado com um canhão de elétrons de emissão de campo Schottky, com resolução de 0,9 nm a 15 kV e resolução de feixe de íons de 3 nm a 30 kV, capaz de detectar defeitos, fatiar seções transversais e fabricar microestruturas em nanoescala. Principais vantagens: Estágio de deslocamento de 150 mm: Combina longo curso com alta precisão para um amplo alcance de observação. Excelente compatibilidade com luminárias de diferentes tamanhos. Estrutura robusta garante estabilidade do wafer e carregamento rápido e confiável. Troca rápida de 8 polegadas: Design inteligente de suporte de peso com base deslizante para estabilidade e durabilidade. Compatibilidade de tamanho completo: suporta wafers de 2/4/6/8 polegadas. Troca rápida de amostras: bombeamento a vácuo e carregamento de amostras em um minuto. Software e Anticolisão: Navegação inteligente totalmente automática com movimento e posicionamento precisos. Movimento coordenado multieixo para observação de wafer completo. Anticolisão inteligente: Simulação de trajetória e cálculos espaciais algorítmicos para evitar riscos. Monitoramento múltiplo em tempo real: monitoramento multiângulo em tempo real da posição do wafer. Navegação óptica externa: O design da estrutura ultraestável suprime a trepidação da imagem. Imagens de alta definição com um campo de visão preciso para exibição de wafer completo. A iluminação profissional antirreflexo reduz o reflexo da superfície do wafer. Faixa de observação de wafer Solução para microscópio eletrônico de feixe duplo CIQTEK combina hardware excepcional com sistemas de software inteligentes, permitindo detecção eficiente de defeitos e otimização de processos por meio de ajuste de brilho e contraste com um clique, foco automático e saída de imagem multiformato, capacitando os usuários a concluir toda a cadeia de tarefas, desde a descoberta de defeitos até a otimização do processo.

Nas ciências biológicas, alcançar análises estruturais e dinâmicas 3D de alta precisão e em larga escala de amostras biológicas, como células e tecidos, tornou-se essencial para superar gargalos na pesquisa. CIQTEK introduziu um rota multitecnológica Microscopia Eletrônica Volumétrica (MEV) solução, integrando SS-SEM, SBF-SEM e FIB-SEM . Isso fornece uma plataforma completa, de alto desempenho e inteligente para reconstrução biológica 3D, ajudando os pesquisadores a descobrir os mistérios da vida em nível micro. Três Rotas Técnicas Avançadas 01. Imagem de alta velocidade SS-SEM Ao combinar o seccionamento serial externo com o CIQTEK SEM HEM6000-Bio de alta velocidade Esta solução permite a obtenção rápida de imagens e a aquisição automatizada de amostras de grande volume. A eficiência da aquisição de dados é mais de 5 vezes maior do que a do SEM convencional, permitindo operação autônoma de alto rendimento 24 horas por dia, 7 dias por semana. 02. Seccionamento In Situ SBF-SEM Com base no CIQTEK SEM5000X de ultra-alta resolução Com um micrótomo integrado, esta abordagem permite ciclos de seccionamento e geração de imagens in situ. Oferece operação simples, alta automação e evita efetivamente a contaminação da superfície. 03. FIB-SEM Análise de alta precisão Utilizando sistemas de feixe duplo de íons focalizados e feixes de elétrons, esta rota oferece resolução nanométrica do eixo Z para analisar estruturas finas, como organelas e membranas. Ela permite a reconstrução 3D in situ sem fatiamento físico. Integração Inteligente e Amplas Aplicações A solução CIQTEK VEM integra-se profundamente Algoritmos de IA e uma plataforma de software multilíngue , suportando um fluxo de trabalho completo, desde a aquisição de dados, alinhamento de imagens e segmentação até a visualização 3D. Compatível com softwares de reconstrução convencionais, reduz significativamente a curva de aprendizado. Os casos de aplicação abrangem neurociência, biologia celular e microbiologia patogênica, oferecendo uma ferramenta poderosa para o avanço da pesquisa em ciências biológicas.

A pesquisa sobre o comportamento microscópico dos materiais está entrando em uma nova era de acoplamento multi-cenário e caracterização dinâmica in-situ . CIQTEK lançou um inovador Solução de teste mecânico in situ , projetado com excelente abertura e compatibilidade. Permite a integração perfeita de toda a gama de CIQTEK microscópios eletrônicos com dispositivos de teste in situ convencionais, fornecendo uma plataforma flexível e eficiente para análise acoplada em diversos cenários de pesquisa. Quebrando as limitações dos sistemas fechados, a solução integra todos os elementos críticos necessários para EM in situ adaptabilidade, apresentando: Corrente de farol alto : >100 nA, ideal para análise rápida de EDS/EBSD Espaço amplo : 360 × 310 × 288 mm (C × L × A) Alta capacidade de carga : 5 kg (até 10 kg com acessórios personalizados) CCDs multivisualização : garantindo a segurança do sistema durante a operação in situ Múltiplas interfaces : suporte a acessórios de flange personalizados Pré-aceitação : depuração completa de acessórios antes da entrega, garantindo funcionalidade completa sem problemas de instalação no local A solução pode ser configurada em A gama completa de produtos de microscopia eletrônica da CIQTEK , incluindo CIQTEK SEM3200 , SEM5000X , Sistemas de feixe duplo DB550 e muito mais. Também oferece compatibilidade perfeita com estágios de tração, estágios de aquecimento, nanoindentadores e estações de trabalho eletroquímicas de fornecedores líderes mundiais. Essa arquitetura aberta permite que os pesquisadores combinem com flexibilidade os equipamentos mais adequados, maximizando o desempenho experimental. Solução de estágio in-situ da CIQTEK apoiou os clientes na publicação de um papel de alto impacto (DOI: 10.1126/science.adq6807). Solução mecânica in-situ da CIQTEK também suporta acoplamento multicampo (mecânico, térmico, eletroquímico), permitindo a observação em nanoescala de materiais em tempo real em ambientes complexos. Ao sincronizar imagens de alta resolução com sinais in situ, os pesquisadores podem capturar fenômenos críticos, como propagação de trincas, transições de fase e reações interfaciais, com precisão. Com uma faixa de temperatura de -170 a 1200 °C, controle avançado de carga e sistemas de resposta rápida, ele simula com precisão as condições de serviço de materiais em diversos setores. Combinado com EBSD e EDS, fornece conjuntos de dados abrangentes para a compreensão do comportamento dos materiais sob estímulos acoplados. Aplicado com sucesso em materiais aeroespaciais, novos dispositivos de energia e materiais biomédicos , esta solução demonstra a compatibilidade e escalabilidade excepcionais do CIQTEK em plataformas avançadas de microscopia eletrônica.

Microscopia eletrônica de transmissão de varredura quadridimensional (4D-STEM) é uma das áreas mais avançadas da microscopia eletrônica. Ao realizar uma varredura bidimensional na superfície da amostra e, ao mesmo tempo, registrar um padrão de difração completo em cada ponto de varredura com um detector pixelado, o 4D-STEM gera um conjunto de dados quadridimensional contendo informações do espaço real e do espaço recíproco. Esta técnica rompe as limitações da microscopia eletrônica convencional, que normalmente coleta apenas um único sinal de espalhamento. Em vez disso, ela captura e analisa todo o espectro de interações elétron-amostra. Com a 4D-STEM, os pesquisadores podem obter diversas funcionalidades avançadas em um único experimento, incluindo imagens virtuais, orientação de cristais e mapeamento de deformações, análise de distribuição de campos elétricos e magnéticos (contraste de fase diferencial) e até mesmo reconstrução de resolução atômica por empilhamento de difração. Ela expande significativamente a dimensionalidade e a profundidade da caracterização de materiais, oferecendo uma ferramenta sem precedentes para nanociência e pesquisa de materiais. Na Conferência Nacional Chinesa sobre Microscopia Eletrônica 2025 (26 a 30 de setembro, Wuhan), CIQTEK libera seu Solução 4D-STEM , projetado para romper os limites da geração de imagens tradicionais e fornecer dados com dimensionalidade e poder analítico inigualáveis. Fluxo de trabalho do sistema O Solução CIQTEK 4D-STEM características alta resolução espacial, análise multidimensional, operação de baixa dose para minimizar danos ao feixe e processamento de dados flexível , fornecendo aos pesquisadores métodos confiáveis e excelentes para análise avançada de materiais.

De 23 a 25 de setembro de 2025, CIQTEK causou uma forte impressão em ÁRABE 2025, realizada no Dubai World Trade Center. No estande H1-C24 do Sheikh Saeed Hall 1, demonstramos nossos mais recentes instrumentos científicos e tecnologias de campos petrolíferos para um público internacional diversificado. Destaques e Conquistas Portfólio abrangente exibido Apresentamos sistemas emblemáticos em microscopia eletrônica (FIB/SEM, TEM), espectrômetros de ressonância magnética nuclear (RMN) e analisadores de área de superfície e porosimetria BET, ressaltando nosso compromisso com o avanço da ciência analítica. Integração de soluções de campos petrolíferos sob a marca QOILTECH Em nossa linha especializada QOILTECH, introduzimos ferramentas para exploração de petróleo, incluindo RSS, sistemas MWD/LWD e ferramentas gama de bits próximos. Essas ofertas foram bem recebidas pelos participantes que buscavam instrumentação robusta para ambientes extremos. Forte engajamento e feedback No estande, abordamos dúvidas técnicas e compartilhamos histórias de sucesso de todos os setores de pesquisa e indústria. Muitos participantes demonstraram interesse em colaborações futuras, demonstrações e oportunidades de testes. Networking e Parcerias Globais A ARABLAB 2025 reuniu distribuidores, usuários finais e instituições científicas de todo o mundo. A CIQTEK fortaleceu relacionamentos e abriu diálogos para futuros projetos e parcerias regionais no Oriente Médio e além. A CIQTEK agradece a todos os visitantes, parceiros e colegas que se juntaram a nós em Dubai! Estamos ansiosos para continuar colaborando e realizando pesquisas impactantes no futuro!

Nos campos de pesquisa de desempenho de materiais de alta temperatura e análise de mecanismos de transição de fase, os métodos tradicionais de aquecimento externo muitas vezes falham em combinar o controle preciso da temperatura da microrregião com a observação em tempo real. CIQTEK , em colaboração com o Centro Micro-Nano da Universidade de Ciência e Tecnologia da China, desenvolveu um inovador solução de chip de aquecimento in-situ . Ao integrar chips de aquecimento MEMS com microscópios eletrônicos de feixe duplo, esta solução permite o controle preciso da temperatura (da temperatura ambiente até 1100 °C) e a análise microdinâmica de amostras, oferecendo uma nova ferramenta para estudar o comportamento do material em ambientes de alta temperatura. Esta solução utiliza o SEM de feixe duplo CIQTEK e chips de aquecimento MEMS especializados , com precisão de controle de temperatura superior a 0,1 °C e resolução de temperatura superior a 0,1 °C. O sistema também apresenta excelente uniformidade de temperatura e baixa radiação infravermelha, garantindo análises estáveis em altas temperaturas. O sistema suporta diversas técnicas de caracterização durante o aquecimento, incluindo observação da morfologia de microrregiões, análise de orientação de cristais por EBSD e análise de composição por EDS. Isso permite uma compreensão abrangente das transições de fase, evolução de tensões e migração de composição sob efeitos térmicos. O sistema opera sem quebrar o vácuo, atendendo a todos os requisitos do processo para preparação e caracterização de amostras (EBSD de microrregião in-situ). O design integrado do fluxo de trabalho abrange todo o processo, desde a preparação da amostra (processamento por feixe de íons, extração por nanomanipulador) até os testes de soldagem e aquecimento in situ. O sistema suporta operação multiângulo, com um chip de aquecimento de 45° e uma grade de cobre posicionada a 36°, atendendo às complexas necessidades experimentais. O sistema foi aplicado com sucesso em pesquisas de desempenho em alta temperatura de ligas, cerâmicas e semicondutores, ajudando os usuários a obter insights mais profundos sobre as respostas dos materiais em ambientes do mundo real. 26 a 30 de setembro, Wuhan | Conferência Nacional Chinesa de Microscopia Eletrônica de 2025 As oito principais soluções de microscopia eletrônica da CIQTEK serão apresentadas!

CIQTEK apresentou sua próxima geração wafer de 12 polegadas microscópio eletrônico de varredura (MEV) solução , projetado para atender às demandas de processos avançados de fabricação de semicondutores. Oferecendo inspeção completa do wafer sem a necessidade de rotação ou inclinação, esta solução inovadora garante análises não destrutivas de alta resolução para apoiar o desenvolvimento de processos críticos. Equipado com um palco de viagem ultragrande (X/Y ≥ 300 mm), o sistema oferece cobertura completa de wafers de 12 polegadas, eliminando a necessidade de corte ou transferência de amostras. Isso garante uma observação fiel do "tamanho original, posição original". Com um Canhão de elétrons de emissão de campo Schottky , atinge uma resolução de 1,0 nm a 15 kV e 1,5 nm a 1 kV, minimizando os danos do feixe de elétrons, tornando-o ideal para materiais e estruturas sensíveis. Principais características incluem: Palco de viagem ultra grande (X/Y > 300 mm) para inspeção de wafer completo Imagens de alta resolução : 1,0 nm a 15 kV e 1,5 nm a 1 kV Carregamento automatizado e sistema de navegação óptica para troca rápida de wafers e posicionamento preciso Software inteligente para foco automático, correção de astigmatismo e saída de imagem multiformato O SEM de inspeção de wafers de 12 polegadas da CIQTEK é mais do que apenas uma ferramenta de observação; é um instrumento essencial que gera maiores rendimentos e nós menores na fabricação de semicondutores. 26 a 30 de setembro, Wuhan A CIQTEK irá revelar oito soluções de microscopia eletrônica de ponta no Conferência Nacional Chinesa de Microscopia Eletrônica de 2025 !

Nas áreas de ciências biológicas, biomedicina, inspeção de alimentos e pesquisa de matéria mole, obter imagens de alta resolução de amostras hidratadas e sensíveis ao feixe sempre foi um grande desafio. Métodos convencionais de preparação de amostras, como fixação química, desidratação e secagem, frequentemente resultam em encolhimento, deformação ou danos estruturais, levando a resultados que se desviam do estado real da amostra. Aproveitando seu avançado microscopia eletrônica de varredura tecnologia, CIQTEK introduziu o Solução Crio-SEM , que integra congelamento em baixa temperatura e transferência a vácuo. Isso permite a observação microscópica in situ, não destrutiva e de alta fidelidade de amostras biológicas e sensíveis, realmente "congelando" os detalhes microscópicos da vida. Com a tecnologia de congelamento rápido por congelamento rápido com nitrogênio líquido, as amostras podem ser vitrificadas instantaneamente a -210 °C, preservando ao máximo sua morfologia e composição química originais. O sistema integrado de criopreparação combina criofratura, revestimento por sublimação e transferência em baixa temperatura, evitando a complexidade e os potenciais erros da preparação manual convencional. Durante todo o processo, as amostras são mantidas em condições de vácuo criogênico e transferidas para o estágio criogênico do SEM, onde a geração de imagens de alta resolução a -180 °C suprime eficazmente os danos causados pelo feixe de elétrons e melhora significativamente a qualidade da imagem. Folha de buxo criopreparada mostrando estruturas de nervuras intactas , enquanto a amostra não tratada apresenta retração severa. Iogurte Mofo Amostra de iogurte criopreparado revela claramente redes de proteínas e hifas fúngicas. Além disso, o sistema oferece forte compatibilidade, adaptável em A gama completa de SEMs da CIQTEK e sistemas FIBSEM de feixe duplo , atendendo a diversas necessidades, desde observação de rotina até análise avançada. O Solução CIQTEK Cryo-SEM é mais do que apenas um conjunto de instrumentos. Ele incorpora uma abordagem científica dedicada a restaurar fielmente o mundo microscópico. Capacita pesquisadores a superar limitações técnicas, capturar detalhes críticos na microescala da vida e impulsionar a pesquisa fundamental e o desenvolvimento aplicado a novos patamares. 26 a 30 de setembro, Wuhan No Conferência Acadêmica Chinesa de Microscopia Eletrônica de 2025 , a CIQTEK irá revelar oito soluções EM de ponta . Fique atento!