NV Center ODMR Unlocks New Possibilities for 2D Materials and Spin Wave Detection In short Three research teams used CIQTEK ODMR instruments, including the scanning NV probe microscope (SNVM) and the diamond single-spin spectrometer, to move three different areas of advanced materials research forward. A team at the Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences, imaged spin waves in real space near magnetic defects and antiferromagnetically coupled stripe domains in YIG and LSMO films. They captured wavelength-selective scattering and, for the first time, a zig-zag wavefront distortion as spin waves crossed stripe domains. A team at the University of Science and Technology of China stripped selenium out of 2D CuCrSe₂ by vacuum annealing. The resulting Se vacancies produced room-temperature ferromagnetism while the layered crystal structure stayed intact. A team at the Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, mapped how a transverse magnetic field mixes NV center spin states, weakens optical readout, and shifts the balance between the NV⁻ and NV⁰ charge states, all of which matter for keeping NV-based sensors stable in real-world magnetic environments. Why this matters Optically detected magnetic resonance (ODMR) sits at the center of solid-state spin science. It is how researchers image microscopic magnetic fields, how they unpack spin dynamics, and how they turn a single atomic-scale defect in diamond into a working sensor. The three studies below all leaned on CIQTEK's ODMR product line, which includes the scanning NV probe microscope (SNVM) and the diamond single-spin spectrometer, to push into territory that older tools could not reach: spin wave imaging, room-temperature ferromagnetism in 2D materials, and the spin mixing behavior of NV centers themselves. Here is what each team found, and why it matters for anyone building magnonic devices, spintronic materials, or diamond-based sensors. Study 1: Scanning NV imaging reveals how spin waves actually propagate Where it was published: SCIENCE CHINA Physics, Mechanics & Astronomy Paper title: Visualizing modified spin-wave wavefronts near magnetic defects and domains using nitrogen-vacancy centers Research group: The Li Yangmu group at the Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences The team used scanning NV imaging to perform real-space imaging and phase analysis of spin wave propagation and wavefronts near nanoscale magnetic defects and antiferromagnetically coupled stripe domains in magnetic thin films (YIG and LSMO). The work revealed wavelength-selective scattering and waveform modulation, giving device designers a new set of tools for building and tuning spin wave devices. First, some background: why spin waves are hard to see Spin waves, also called magnons, are collective excitations of a magnetically ordered system. They carry information without the Joule heating losses that come with conventional charge-based devices, which makes them an attractive carri...

CIQTEK é listada no Shanghai STAR Market A CIQTEK realizou sua cerimônia de listagem na Bolsa de Valores de Xangai em 11 de agosto de 2026. A listagem marca uma nova etapa para a empresa, à medida que ela continua a desenvolver instrumentos científicos de ponta. A empresa é negociada sob o código de ações 688828 e desenvolve, fabrica e vende produtos, incluindo microscópios eletrônicos, espectrômetros de ressonância paramagnética eletrônica e espectrômetros de ressonância magnética nuclear.   Informações de Listagem A CIQTEK emitiu 40,0100 milhões de ações a RMB 21,22 por ação. A receita bruta da oferta de novas ações foi de RMB 849,0122 milhões. Após a oferta, a empresa passou a ter 400,0100 milhões de ações em circulação. Em 2025, a CIQTEK reportou uma receita de RMB 666,191845 milhões. A empresa está sediada em Hefei, na província de Anhui.   Da Pesquisa ao Uso no Mundo Real A CIQTEK concentra-se em transformar capacidades de pesquisa em instrumentos que podem ser usados em laboratórios e ambientes industriais. Na cerimônia, o Dr. He Yu, Presidente da CIQTEK, disse que a listagem é um marco importante e uma etapa na jornada da empresa do laboratório para o uso no mundo real. O Dr. He agradeceu aos clientes, parceiros, investidores e às equipes que apoiaram o processo de oferta e listagem.   Um Foco em Instrumentos Úteis e Confiáveis A CIQTEK desenvolve instrumentos científicos de ponta em diversas áreas de produtos. A empresa continua a investir em pesquisa e desenvolvimento e a expandir seu portfólio de produtos em torno das necessidades dos clientes. O Dr. He disse que o feedback dos clientes, a resolução de problemas técnicos e a entrega confiável são fundamentais para a melhoria de longo prazo da empresa. A CIQTEK continuará a promover projetos financiados pela oferta e a fortalecer uma governança transparente e padronizada.   Olhando para o Futuro O Dr. He observou que melhores ferramentas de medição apoiam a descoberta científica e que dados de alta qualidade permanecem essenciais à medida que a inteligência artificial muda a forma como a pesquisa é feita. A CIQTEK continuará a construir instrumentos para pesquisadores e usuários industriais em todo o mundo. “Continuaremos focados, continuaremos melhorando a longo prazo e avançando de forma constante”, disse o Dr. He ao encerrar.   Nota de Republicação As seções de abertura e “Informações de Listagem” foram republicadas a partir de um comunicado público da Bolsa de Valores de Xangai. As seções restantes foram adaptadas de um discurso original do Dr. He Yu, Presidente da CIQTEK, proferido na cerimônia de listagem.

O microscópio eletrônico de varredura de feixe duplo FIB-SEM CIQTEK DB550 reúne imagens eletrônicas de alta resolução e processamento preciso de feixe de íons em uma única plataforma. A CIQTEK validou seu Microscópio eletrônico de varredura com feixe de íons focalizado DB550 (FIB-SEM) em amostras reais de chips com processo de fabricação de 5nm, Demonstração de preparação de amostras TEM prontas para produção, com estruturas de aletas intactas, amorfização zero e camadas de filme claramente resolvidas. Os resultados confirmam que o DB550 atende às exigências rigorosas de laboratórios avançados de análise de falhas em semicondutores, que atuam na vanguarda da tecnologia de processos. Na pesquisa e fabricação de chips avançados, duas ferramentas são mais importantes do que todas as outras. O Microscópio Eletrônico de Transmissão (MET) permite visualizar estruturas em escala atômica. Mas, antes de poder observar, é necessário ter uma amostra fina o suficiente para que os elétrons a atravessem. É aí que entra o FIB-SEM de feixe duplo. É o laboratório de precisão que prepara essas amostras ultrafinas. Conheça o DB550: Uma plataforma para processamento de imagens e nanoescala. O CIQTEK DB550 FIB-SEM Integra duas capacidades poderosas em uma única plataforma. De um lado, um microscópio eletrônico de varredura (MEV) fornece imagens de superfície de alta resolução. Do outro, um feixe de íons focalizado (FIB) realiza a remoção de material em nanoescala com precisão cirúrgica. Juntos, eles preenchem a lacuna entre a observação e a fabricação em dimensões medidas em bilionésimos de metro. No coração do DB550 reside um coluna de elétrons de baixa voltagem e alta resolução combinado com a tecnologia proprietária da CIQTEK coluna de íons "Chengying" Desenvolvida inteiramente internamente, a coluna Chengying é o motor por trás das capacidades de corte e gravação em nanoescala do sistema. A CIQTEK controla todo o processo de projeto e fabricação deste componente crítico. O desafio dos 5nm: por que a preparação de amostras fica mais difícil a cada nó tecnológico? No 5nm e abaixo As arquiteturas de chips atuais dependem de transistores de efeito de campo do tipo aleta (FinFETs) com larguras e espaçamentos de aletas medidos em apenas alguns nanômetros. O DB550 foi projetado para lidar com todo o fluxo de trabalho de preparação de amostras para esses nós de processo exigentes. Ele começa com corte bruto de alta corrente para remover rapidamente o material em grande quantidade e atingir a região desejada. Em seguida, passa para polimento fino de baixa tensão para reduzir a espessura da amostra até dimensões adequadas para TEM sem danificar as estruturas delicadas subjacentes. Validação por TEM: A prova está na imagem. CIQTEK Preparamos uma amostra de chip com processo de fabricação de 5 nm no DB550 e a transferimos para um TEM para caracterização. Os resultados falam por si. A caracterização por TEM de uma amostra de chip de 5 nm preparada no DB550 mostra estruturas d...