Em resumo Três equipes de pesquisa utilizaram instrumentos CIQTEK ODMR, incluindo o microscópio de varredura com sonda NV (SNVM) e o espectrômetro de spin único de diamante, para impulsionar três áreas diferentes da pesquisa de materiais avançados.   Uma equipe do Instituto de Física da Academia Chinesa de Ciências mapeou ondas de spin no espaço real perto de defeitos magnéticos e domínios de listras acoplados antiferromagneticamente em filmes de YIG e LSMO. Eles capturaram o espalhamento seletivo por comprimento de onda e, pela primeira vez, uma distorção de frente de onda em ziguezague à medida que as ondas de spin cruzavam os domínios de listras.   Uma equipe da Universidade de Ciência e Tecnologia da China removeu selênio de CuCrSe₂ 2D por recozimento a vácuo. As vacâncias de Se resultantes produziram ferromagnetismo à temperatura ambiente, enquanto a estrutura cristalina em camadas permaneceu intacta.   Uma equipe do Instituto de Semicondutores da Academia Chinesa de Ciências mapeou como um campo magnético transversal mistura estados de spin de centros NV, enfraquece a leitura óptica e altera o equilíbrio entre os estados de carga NV⁻ e NV⁰, tudo o que é importante para manter sensores baseados em NV estáveis em ambientes magnéticos do mundo real.   Por que isso é importante A ressonância magnética detectada opticamente (ODMR) está no centro da ciência de spin em estado sólido. É assim que os pesquisadores mapeiam campos magnéticos microscópicos, como eles desvendam a dinâmica de spin e como transformam um único defeito em escala atômica no diamante em um sensor funcional. Os três estudos abaixo basearam-se na linha de produtos ODMR da CIQTEK, que inclui o microscópio de varredura com sonda NV (SNVM) e o espectrômetro de spin único de diamante, para avançar em territórios que ferramentas mais antigas não conseguiam alcançar: mapeamento de ondas de spin, ferromagnetismo à temperatura ambiente em materiais 2D e o comportamento de mistura de spin dos próprios centros NV.   Aqui está o que cada equipe descobriu e por que isso é importante para qualquer pessoa que esteja construindo dispositivos magnônicos, materiais spintrônicos ou sensores baseados em diamante. Estudo 1: O mapeamento por varredura NV revela como as ondas de spin realmente se propagam Onde foi publicado: SCIENCE CHINA Physics, Mechanics & Astronomy   Título do artigo: Visualizando frentes de onda de ondas de spin modificadas perto de defeitos magnéticos e domínios usando centros de vacância de nitrogênio   Grupo de pesquisa: O grupo de Li Yangmu no Instituto de Física da Academia Chinesa de Ciências   A equipe usou o mapeamento por varredura NV para realizar o mapeamento no espaço real e a análise de fase da propagação de ondas de spin e frentes de onda perto de defeitos magnéticos em nanoescala e domínios de listras acoplados antiferromagneticamente em filmes magnéticos finos (YIG e LSMO). O trabalho revelou espalhamento seletivo por comprimento de onda e modulação de forma...

CIQTEK é listada no Shanghai STAR Market A CIQTEK realizou sua cerimônia de listagem na Bolsa de Valores de Xangai em 11 de agosto de 2026. A listagem marca uma nova etapa para a empresa, à medida que ela continua a desenvolver instrumentos científicos de ponta. A empresa é negociada sob o código de ações 688828 e desenvolve, fabrica e vende produtos, incluindo microscópios eletrônicos, espectrômetros de ressonância paramagnética eletrônica e espectrômetros de ressonância magnética nuclear.   Informações de Listagem A CIQTEK emitiu 40,0100 milhões de ações a RMB 21,22 por ação. A receita bruta da oferta de novas ações foi de RMB 849,0122 milhões. Após a oferta, a empresa passou a ter 400,0100 milhões de ações em circulação. Em 2025, a CIQTEK reportou uma receita de RMB 666,191845 milhões. A empresa está sediada em Hefei, na província de Anhui.   Da Pesquisa ao Uso no Mundo Real A CIQTEK concentra-se em transformar capacidades de pesquisa em instrumentos que podem ser usados em laboratórios e ambientes industriais. Na cerimônia, o Dr. He Yu, Presidente da CIQTEK, disse que a listagem é um marco importante e uma etapa na jornada da empresa do laboratório para o uso no mundo real. O Dr. He agradeceu aos clientes, parceiros, investidores e às equipes que apoiaram o processo de oferta e listagem.   Um Foco em Instrumentos Úteis e Confiáveis A CIQTEK desenvolve instrumentos científicos de ponta em diversas áreas de produtos. A empresa continua a investir em pesquisa e desenvolvimento e a expandir seu portfólio de produtos em torno das necessidades dos clientes. O Dr. He disse que o feedback dos clientes, a resolução de problemas técnicos e a entrega confiável são fundamentais para a melhoria de longo prazo da empresa. A CIQTEK continuará a promover projetos financiados pela oferta e a fortalecer uma governança transparente e padronizada.   Olhando para o Futuro O Dr. He observou que melhores ferramentas de medição apoiam a descoberta científica e que dados de alta qualidade permanecem essenciais à medida que a inteligência artificial muda a forma como a pesquisa é feita. A CIQTEK continuará a construir instrumentos para pesquisadores e usuários industriais em todo o mundo. “Continuaremos focados, continuaremos melhorando a longo prazo e avançando de forma constante”, disse o Dr. He ao encerrar.   Nota de Republicação As seções de abertura e “Informações de Listagem” foram republicadas a partir de um comunicado público da Bolsa de Valores de Xangai. As seções restantes foram adaptadas de um discurso original do Dr. He Yu, Presidente da CIQTEK, proferido na cerimônia de listagem.

O microscópio eletrônico de varredura de feixe duplo FIB-SEM CIQTEK DB550 reúne imagens eletrônicas de alta resolução e processamento preciso de feixe de íons em uma única plataforma. A CIQTEK validou seu Microscópio eletrônico de varredura com feixe de íons focalizado DB550 (FIB-SEM) em amostras reais de chips com processo de fabricação de 5nm, Demonstração de preparação de amostras TEM prontas para produção, com estruturas de aletas intactas, amorfização zero e camadas de filme claramente resolvidas. Os resultados confirmam que o DB550 atende às exigências rigorosas de laboratórios avançados de análise de falhas em semicondutores, que atuam na vanguarda da tecnologia de processos. Na pesquisa e fabricação de chips avançados, duas ferramentas são mais importantes do que todas as outras. O Microscópio Eletrônico de Transmissão (MET) permite visualizar estruturas em escala atômica. Mas, antes de poder observar, é necessário ter uma amostra fina o suficiente para que os elétrons a atravessem. É aí que entra o FIB-SEM de feixe duplo. É o laboratório de precisão que prepara essas amostras ultrafinas. Conheça o DB550: Uma plataforma para processamento de imagens e nanoescala. O CIQTEK DB550 FIB-SEM Integra duas capacidades poderosas em uma única plataforma. De um lado, um microscópio eletrônico de varredura (MEV) fornece imagens de superfície de alta resolução. Do outro, um feixe de íons focalizado (FIB) realiza a remoção de material em nanoescala com precisão cirúrgica. Juntos, eles preenchem a lacuna entre a observação e a fabricação em dimensões medidas em bilionésimos de metro. No coração do DB550 reside um coluna de elétrons de baixa voltagem e alta resolução combinado com a tecnologia proprietária da CIQTEK coluna de íons "Chengying" Desenvolvida inteiramente internamente, a coluna Chengying é o motor por trás das capacidades de corte e gravação em nanoescala do sistema. A CIQTEK controla todo o processo de projeto e fabricação deste componente crítico. O desafio dos 5nm: por que a preparação de amostras fica mais difícil a cada nó tecnológico? No 5nm e abaixo As arquiteturas de chips atuais dependem de transistores de efeito de campo do tipo aleta (FinFETs) com larguras e espaçamentos de aletas medidos em apenas alguns nanômetros. O DB550 foi projetado para lidar com todo o fluxo de trabalho de preparação de amostras para esses nós de processo exigentes. Ele começa com corte bruto de alta corrente para remover rapidamente o material em grande quantidade e atingir a região desejada. Em seguida, passa para polimento fino de baixa tensão para reduzir a espessura da amostra até dimensões adequadas para TEM sem danificar as estruturas delicadas subjacentes. Validação por TEM: A prova está na imagem. CIQTEK Preparamos uma amostra de chip com processo de fabricação de 5 nm no DB550 e a transferimos para um TEM para caracterização. Os resultados falam por si. A caracterização por TEM de uma amostra de chip de 5 nm preparada no DB550 mostra estruturas d...