SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenhoMicroscópio
OMicroscópio SEM CIQTEK SEM3200é um excelente Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) de Filamento de Tungstênio para uso geral, com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelentes capacidades de expansão.
Ânodo intermitente
O ânodo intermitente é instalado entre o conjunto catódico e o ânodo. Sob baixa tensão de excitação, a eficiência de extração do feixe de elétrons pode ser melhorada, a resolução pode ser aumentada em 10% e a relação sinal-ruído pode ser aumentada em 30%.
Para amostras de material de carbono, sob baixas tensões de excitação, a profundidade de penetração do feixe é rasa, permitindo a captura de informações reais da morfologia da superfície com detalhes mais ricos do espécime.
Para amostras de fibras de polímero, altas tensões de excitação causam danos ao feixe da amostra, enquanto o feixe de baixa tensão permite a preservação de detalhes da superfície sem danos.
O microscópio SEM CIQTEK SEM3200 suporta modos de baixo vácuo de 2 estágios: a pressão da câmara de 5 a 180 Pa pode ser alcançada sem a abertura limitadora de pressão, e 180 a 1000 Pa é possível com PLA. A câmara de vácuo da lente objetiva especialmente projetada minimiza o caminho livre médio do elétron em baixo vácuo e mantém a resolução em 3 nm a 30 kV.
O feixe de elétrons incidente ioniza as moléculas de ar na parte superior da superfície, produzindo elétrons e íons, nos quais os íons neutralizam as partículas carregadas geradas na superfície da amostra, alcançando o efeito de mitigação de carga.
A emissão secundária de elétrons da superfície da amostra ioniza moléculas de ar, gerando elétrons, íons e sinais fotográficos simultaneamente. Os elétrons gerados ionizam outras moléculas de ar e um grande número de sinais fotográficos é produzido e capturado por um Detector de Baixo Vácuo (LVD).
No modo de alto vácuo, o LVD detecta diretamente o sinal de catodoluminescência emitido pela amostra, que pode ser capturado para geração de imagens de catodoluminescência, com imagens simultâneas do canal BSED.
O uso de uma câmera de câmara montada verticalmente para capturar imagens ópticas para navegação no estágio da amostra permite um posicionamento mais intuitivo e preciso da amostra.
Neste modo, o valor de astigmatismo de X e Y varia com os pixels. A nitidez da imagem é maximizada no valor de astigmatismo ideal, permitindo um ajuste rápido do estigmador.
Funções aprimoradas de Brilho e Contraste Automáticos, Foco Automático e Correção Automática de Astigmatismo. Imagens com um único clique!
Módulo de filamento de substituição pré-alinhado pronto para uso.
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O software CIQTEK SEM Microscope emprega vários algoritmos de detecção e segmentação de alvos, adequados para diferentes tipos de amostras de partículas e poros. Ele permite a análise quantitativa de estatísticas de partículas e poros e pode ser aplicado em áreas como ciência dos materiais, geologia e ciência ambiental.
Execute pós-processamento de imagens on-line ou off-line em imagens capturadas por microscópios eletrônicos e integre funções de processamento de imagens EM comumente usadas, medição conveniente e ferramentas de anotação.
Reconhecimento automático de bordas de largura de linha, resultando em medições mais precisas e maior consistência. Suporta múltiplos modos de detecção de bordas, como Linha, Espaço, Passo, etc. Compatível com diversos formatos de imagem e equipado com diversas funções de pós-processamento de imagem comumente utilizadas. O software é fácil de usar, eficiente e preciso.
Fornece um conjunto de interfaces para controlar o microscópio SEM, incluindo aquisição de imagens, configurações de condições operacionais, ligar/desligar, controle de platina, etc. Definições concisas de interface permitem o desenvolvimento rápido de scripts e softwares específicos para operação de microscópio eletrônico, permitindo o rastreamento automatizado de regiões de interesse, aquisição de dados para automação industrial, correção de desvio de imagem e outras funções. Pode ser usado para desenvolvimento de software em áreas especializadas, como análise de diatomáceas, inspeção de impurezas de aço, análise de limpeza, controle de matéria-prima, etc.
Microscópio SEM CIQTEK SEM3200 | ||||
Óptica Eletrônica | Resolução | 3 nm a 30 kV, SE 7 nm a 3 kV, SE 4 nm a 30 kV, BSE 3 nm a 30 kV, SE, 30 Pa |
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Tensão de aceleração | 0,2 kV ~ 30 kV | |||
Ampliação (Polaroid) | 1 x ~ 300.000 x | |||
Câmara de Amostras | Baixo vácuo | 5 ~ 1000 Pa (Opcional) | ||
Câmera | Navegação Óptica | |||
Monitoramento de Câmara | ||||
Tipo de palco | Motorizado compatível com vácuo de 5 eixos | |||
Alcance XY | 125 milímetros | |||
Faixa Z | 50 milímetros | |||
Faixa T | - 10° ~ 90° | |||
Faixa R | 360° | |||
Detectores SEM | Padrão | Detector Everhart-Thornley (ETD) | ||
Opcional | Detector de elétrons retrodispersos retrátil (BSED) Espectrômetro de Energia Dispersiva (EDS / EDX) Padrão de difração de elétrons retroespalhados (EBSD) |
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Opcional | Trava de troca de espécimes | |||
Painel de controle de trackball e botão | ||||
Interface do usuário | Sistema operacional | Windows | ||
Navegação | Navegação óptica, navegação rápida por gestos, trackball (opcional) | |||
Funções Automáticas | Brilho e contraste automáticos, foco automático, estigmatizador automático |