CIQTEK lança solução de testes mecânicos in situ – uma plataforma aberta de P&D para pesquisa em múltiplos cenários

A pesquisa sobre o comportamento microscópico dos materiais está entrando em uma nova era de acoplamento multi-cenário e caracterização dinâmica in-situ . CIQTEK lançou um inovador Solução de teste mecânico in situ , projetado com excelente abertura e compatibilidade. Permite a integração perfeita de toda a gama de CIQTEK microscópios eletrônicos com dispositivos de teste in situ convencionais, fornecendo uma plataforma flexível e eficiente para análise acoplada em diversos cenários de pesquisa.

Quebrando as limitações dos sistemas fechados, a solução integra todos os elementos críticos necessários para EM in situ adaptabilidade, apresentando:

• Corrente de farol alto : >100 nA, ideal para análise rápida de EDS/EBSD

• Espaço amplo : 360 × 310 × 288 mm (C × L × A)

• Alta capacidade de carga : 5 kg (até 10 kg com acessórios personalizados)

• CCDs multivisualização : garantindo a segurança do sistema durante a operação in situ

• Múltiplas interfaces : suporte a acessórios de flange personalizados

• Pré-aceitação : depuração completa de acessórios antes da entrega, garantindo funcionalidade completa sem problemas de instalação no local

A solução pode ser configurada em A gama completa de produtos de microscopia eletrônica da CIQTEK , incluindo CIQTEK SEM3200 , SEM5000X , Sistemas de feixe duplo DB550 e muito mais. Também oferece compatibilidade perfeita com estágios de tração, estágios de aquecimento, nanoindentadores e estações de trabalho eletroquímicas de fornecedores líderes mundiais. Essa arquitetura aberta permite que os pesquisadores combinem com flexibilidade os equipamentos mais adequados, maximizando o desempenho experimental.

Solução de estágio in-situ da CIQTEK apoiou os clientes na publicação de um papel de alto impacto (DOI: 10.1126/science.adq6807).

Solução mecânica in-situ da CIQTEK também suporta acoplamento multicampo (mecânico, térmico, eletroquímico), permitindo a observação em nanoescala de materiais em tempo real em ambientes complexos. Ao sincronizar imagens de alta resolução com sinais in situ, os pesquisadores podem capturar fenômenos críticos, como propagação de trincas, transições de fase e reações interfaciais, com precisão.

Com uma faixa de temperatura de -170 a 1200 °C, controle avançado de carga e sistemas de resposta rápida, ele simula com precisão as condições de serviço de materiais em diversos setores. Combinado com EBSD e EDS, fornece conjuntos de dados abrangentes para a compreensão do comportamento dos materiais sob estímulos acoplados.

Aplicado com sucesso em materiais aeroespaciais, novos dispositivos de energia e materiais biomédicos , esta solução demonstra a compatibilidade e escalabilidade excepcionais do CIQTEK em plataformas avançadas de microscopia eletrônica.