CIQTEK na M&M 2025: Avançando em nossa jornada de microscopia eletrônica na América do Norte
CIQTEK na M&M 2025: Avançando em nossa jornada de microscopia eletrônica na América do Norte
July 31, 2025
CIQTEK
concluiu com sucesso uma semana dinâmica e gratificante em
Microscopia e Microanálise 2025 (M&M 2025)
, um dos eventos mais influentes na comunidade global de microscopia. Este é mais um marco importante à medida que continuamos a expandir nossa presença no
norte-americano
mercado de microscopia eletrônica.
No estande, nossa equipe interagiu com uma ampla gama de pesquisadores e profissionais de ciência dos materiais, ciências da vida e muito mais. Apresentamos nossas últimas inovações em
alto desempenho
microscopia eletrônica de varredura por emissão de campo (FESEM)
, com foco em velocidade de imagem, resolução e operação intuitiva. O grande interesse e o feedback positivo que recebemos no local reafirmaram o valor de nossas tecnologias para a comunidade científica.
Um dos principais destaques do evento foi a nossa grande presença
Tutorial do fornecedor
, apresentando
Microscopia eletrônica CIQTEK
especialista Sr. Luke Ren. Sua apresentação sobre
FESEM de alta velocidade (
BAINHA
) imagem
gerou discussões perspicazes e engajamento ativo do público. Ficamos entusiasmados com o alto nível de interesse e agradecemos sinceramente a todos que participaram e contribuíram para o sucesso desta sessão.
Também estendemos nossos sinceros agradecimentos aos nossos confiáveis
distribuidor nos EUA
, JH Technologies, pelo excelente suporte durante todo o evento. Seu profissionalismo e dedicação foram cruciais para nos ajudar a conectar com mais usuários e parceiros em todo o país. Juntos, estamos construindo uma base mais sólida para o crescimento de longo prazo da CIQTEK na América do Norte.
A M&M 2025 não foi apenas uma feira comercial; foi um passo significativo em nossa jornada para levar soluções de microscopia eletrônica de ponta a mais cientistas e instituições. Estamos animados com as conversas e inspirados pelas colaborações, e já estamos de olho em oportunidades futuras.
Estamos ansiosos para vê-lo em
M&M 2026 em Milwaukee!
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.
Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focados em Ga+ O Microscópio Eletrônico de Varredura de Feixe Iônico Focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de espécimes. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa tensão e alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons proporcionam uma fonte de íons metálicos líquidos de Ga+ com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.
De alta velocidade Emissão de campo totalmente automatizada Microscópio Eletrônico de Varredura Estação de trabalho CIQTEK HEM6000 tecnologias de instalações como o canhão de elétrons de corrente de feixe grande de alto brilho, sistema de deflexão de feixe de elétrons de alta velocidade, desaceleração de estágio de amostra de alta tensão, eixo óptico dinâmico e lente objetiva combinada eletromagnética e eletrostática de imersão para obter aquisição de imagem em alta velocidade, garantindo resolução em nanoescala. O processo de operação automatizada foi projetado para aplicações como um fluxo de trabalho de geração de imagens de alta resolução em grandes áreas, mais eficiente e inteligente. Sua velocidade de geração de imagens é mais de cinco vezes mais rápida do que a de um microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (FESEM) convencional.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.