Descubra as principais tecnologias da CIQTEK na JASIS 2025, estande 7B-407
Descubra as principais tecnologias da CIQTEK na JASIS 2025, estande 7B-407
August 01, 2025
Estamos felizes em anunciar que
CIQTEK
irá expor em
JASIS 2025
, uma das maiores exposições da Ásia para instrumentos analíticos e científicos. Convidamos você a nos visitar em
Estande 7B-407
para explorar nossas últimas inovações e se conectar com nossa equipe de especialistas.
Data:
3 a 5 de setembro de 2025
Localização:
Salão Internacional de Exposições Makuhari Messe, Chiba, Japão
Estande da CIQTEK:
7B-407
Na exposição deste ano, a CIQTEK destacará uma gama de tecnologias de ponta em diversas categorias, incluindo:
Descubra o nosso crescimento
Portfólio de produtos EPR
, incluindo
EPR de chão/bancada, EPR de pulso/CW
, amplamente utilizado em química, materiais, catálise e pesquisa biológica.
A CIQTEK também apresentará seu
Analisadores BET
e instrumentos relacionados para caracterização de área de superfície, tamanho de poro e adsorção de gás, que são ferramentas essenciais em áreas como produtos farmacêuticos, catalisadores e nanomateriais.
Vejo você no estande 7B-407
Junte-se a nós para descobrir como a CIQTEK está promovendo o futuro da instrumentação científica!
De alta velocidade Emissão de campo totalmente automatizada Microscópio Eletrônico de Varredura Estação de trabalho CIQTEK HEM6000 tecnologias de instalações como o canhão de elétrons de corrente de feixe grande de alto brilho, sistema de deflexão de feixe de elétrons de alta velocidade, desaceleração de estágio de amostra de alta tensão, eixo óptico dinâmico e lente objetiva combinada eletromagnética e eletrostática de imersão para obter aquisição de imagem em alta velocidade, garantindo resolução em nanoescala. O processo de operação automatizada foi projetado para aplicações como um fluxo de trabalho de geração de imagens de alta resolução em grandes áreas, mais eficiente e inteligente. Sua velocidade de geração de imagens é mais de cinco vezes mais rápida do que a de um microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (FESEM) convencional.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.
Espectrômetro de Ressonância Paramagnética Eletrônica de Bancada em Banda X O CIQTEK EPR200M é um projeto recém-desenhado Espectrômetro EPR de bancada Especializando-se na análise qualitativa e quantitativa de radicais livres, íons de metais de transição, dopagem de materiais e defeitos É uma excelente ferramenta de pesquisa para o monitoramento em tempo real de reações químicas, avaliação aprofundada das propriedades dos materiais e exploração dos mecanismos de degradação de poluentes em ciências ambientais. O EPR200M adota um design compacto e integra de forma eficiente a fonte de micro-ondas, o campo magnético, a sonda e o controlador principal, garantindo sensibilidade e estabilidade, além de ser compatível com diversas necessidades experimentais. A interface intuitiva permite que até mesmo usuários iniciantes comecem a utilizá-lo rapidamente, tornando o instrumento de EPR verdadeiramente fácil de usar. ★ Envie um e-mail aos nossos especialistas para soluções personalizadas, orçamentos ou brochuras detalhadas: info@ciqtek.com
Ga + Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focalizado O Microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de amostras. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa voltagem, alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons facilitam um Ga + Fonte de íons metálicos líquidos com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.