Discover CIQTEK Flagship Technologies at JASIS 2025, Booth 7B-407
Discover CIQTEK Flagship Technologies at JASIS 2025, Booth 7B-407
August 01, 2025
We are excited to announce that CIQTEK will exhibit at JASIS 2025, one of the largest exhibitions in Asia for analytical and scientific instruments. We warmly invite you to visit us at Booth 7B-407 to explore our latest innovations and connect with our expert team.
Date: September 3–5, 2025
Location: Makuhari Messe International Exhibition Hall, Chiba, Japan
CIQTEK Booth: 7B-407
At this year’s show, CIQTEK will highlight a range of cutting-edge technologies across multiple categories, including:
Discover our growing EPR product portfolio, including floor-standing/benchtop EPR, pulse/CW EPR, widely used in chemistry, materials, catalysis, and biological research.
CIQTEK will also showcase its BET analyzers and related instruments for surface area, pore size, and gas adsorption characterization, which are critical tools in fields like pharmaceuticals, catalysts, and nanomaterials.
See you at Booth 7B-407
Join us to discover how CIQTEK is advancing the future of scientific instrumentation!
Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focados em Ga+ O Microscópio Eletrônico de Varredura de Feixe Iônico Focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de espécimes. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa tensão e alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons proporcionam uma fonte de íons metálicos líquidos de Ga+ com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.
De alta velocidade Emissão de campo totalmente automatizada Microscópio Eletrônico de Varredura Estação de trabalho CIQTEK HEM6000 tecnologias de instalações como o canhão de elétrons de corrente de feixe grande de alto brilho, sistema de deflexão de feixe de elétrons de alta velocidade, desaceleração de estágio de amostra de alta tensão, eixo óptico dinâmico e lente objetiva combinada eletromagnética e eletrostática de imersão para obter aquisição de imagem em alta velocidade, garantindo resolução em nanoescala. O processo de operação automatizada foi projetado para aplicações como um fluxo de trabalho de geração de imagens de alta resolução em grandes áreas, mais eficiente e inteligente. Sua velocidade de geração de imagens é mais de cinco vezes mais rápida do que a de um microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (FESEM) convencional.
Espectrômetro de ressonância paramagnética eletrônica de bancada ou ressonância de spin eletrônico (EPR, ESR) de banda X O CIQTEK EPR200M é um projeto recém-projetado espectrômetro EPR de bancada especializada em análise qualitativa e quantitativa de radicais livres, íons de metais de transição, dopagem de materiais e defeitos . É uma excelente ferramenta de pesquisa para monitoramento em tempo real de reações químicas, avaliação aprofundada de propriedades de materiais e exploração de mecanismos de degradação de poluentes em ciências ambientais. O EPR200M adota um design compacto e integra perfeitamente a fonte de micro-ondas, o campo magnético, a sonda e o controlador principal, garantindo sensibilidade e estabilidade, além de ser compatível com diversas necessidades experimentais. A interface amigável permite que até mesmo usuários iniciantes comecem rapidamente, tornando o instrumento EPR realmente fácil de usar. ★ Envie um e-mail para nossos especialistas para obter soluções personalizadas, orçamentos ou folhetos detalhados: info@ciqtek.com
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.