CIQTEK e Beyond Nano irão expor conjuntamente na IMRC 2025 no México

Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.

Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focados em Ga+ O Microscópio Eletrônico de Varredura de Feixe Iônico Focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de espécimes. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa tensão e alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons proporcionam uma fonte de íons metálicos líquidos de Ga+ com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.

De alta velocidade Emissão de campo totalmente automatizada Microscópio Eletrônico de Varredura Estação de trabalho CIQTEK HEM6000 tecnologias de instalações como o canhão de elétrons de corrente de feixe grande de alto brilho, sistema de deflexão de feixe de elétrons de alta velocidade, desaceleração de estágio de amostra de alta tensão, eixo óptico dinâmico e lente objetiva combinada eletromagnética e eletrostática de imersão para obter aquisição de imagem em alta velocidade, garantindo resolução em nanoescala. O processo de operação automatizada foi projetado para aplicações como um fluxo de trabalho de geração de imagens de alta resolução em grandes áreas, mais eficiente e inteligente. Sua velocidade de geração de imagens é mais de cinco vezes mais rápida do que a de um microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (FESEM) convencional.

Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.