À medida que a fabricação de semicondutores avança para nós de processo mais refinados, a análise de defeitos em nível de wafer, a localização de falhas e a micro-nanofabricação se tornaram essenciais para melhorar o rendimento. CIQTEK apresenta o Solução de processamento de tamanho completo de feixe duplo de wafer de 8 polegadas , combinando imagens de alta resolução e processamento preciso de feixe de íons para alcançar "observação-análise-corte" em todo o wafer, fornecendo forte suporte técnico para processos avançados de semicondutores. Esta solução conta com um estágio de amostra de alta precisão e curso longo de 150 mm, permitindo a observação e o processamento não destrutivos de wafers de 8 polegadas em toda a superfície do wafer. Com um sistema de navegação óptica externo e algoritmos anticolisão inteligentes, garante o posicionamento rápido e preciso do wafer e uma operação segura. O sistema é equipado com um canhão de elétrons de emissão de campo Schottky, com resolução de 0,9 nm a 15 kV e resolução de feixe de íons de 3 nm a 30 kV, capaz de detectar defeitos, fatiar seções transversais e fabricar microestruturas em nanoescala. Principais vantagens: Estágio de deslocamento de 150 mm: Combina longo curso com alta precisão para um amplo alcance de observação. Excelente compatibilidade com luminárias de diferentes tamanhos. Estrutura robusta garante estabilidade do wafer e carregamento rápido e confiável. Troca rápida de 8 polegadas: Design inteligente de suporte de peso com base deslizante para estabilidade e durabilidade. Compatibilidade de tamanho completo: suporta wafers de 2/4/6/8 polegadas. Troca rápida de amostras: bombeamento a vácuo e carregamento de amostras em um minuto. Software e Anticolisão: Navegação inteligente totalmente automática com movimento e posicionamento precisos. Movimento coordenado multieixo para observação de wafer completo. Anticolisão inteligente: Simulação de trajetória e cálculos espaciais algorítmicos para evitar riscos. Monitoramento múltiplo em tempo real: monitoramento multiângulo em tempo real da posição do wafer. Navegação óptica externa: O design da estrutura ultraestável suprime a trepidação da imagem. Imagens de alta definição com um campo de visão preciso para exibição de wafer completo. A iluminação profissional antirreflexo reduz o reflexo da superfície do wafer. Faixa de observação de wafer Solução para microscópio eletrônico de feixe duplo CIQTEK combina hardware excepcional com sistemas de software inteligentes, permitindo detecção eficiente de defeitos e otimização de processos por meio de ajuste de brilho e contraste com um clique, foco automático e saída de imagem multiformato, capacitando os usuários a concluir toda a cadeia de tarefas, desde a descoberta de defeitos até a otimização do processo.

Nas ciências biológicas, alcançar análises estruturais e dinâmicas 3D de alta precisão e em larga escala de amostras biológicas, como células e tecidos, tornou-se essencial para superar gargalos na pesquisa. CIQTEK introduziu um rota multitecnológica Microscopia Eletrônica Volumétrica (MEV) solução, integrando SS-SEM, SBF-SEM e FIB-SEM . Isso fornece uma plataforma completa, de alto desempenho e inteligente para reconstrução biológica 3D, ajudando os pesquisadores a descobrir os mistérios da vida em nível micro. Três Rotas Técnicas Avançadas 01. Imagem de alta velocidade SS-SEM Ao combinar o seccionamento serial externo com o CIQTEK SEM HEM6000-Bio de alta velocidade Esta solução permite a obtenção rápida de imagens e a aquisição automatizada de amostras de grande volume. A eficiência da aquisição de dados é mais de 5 vezes maior do que a do SEM convencional, permitindo operação autônoma de alto rendimento 24 horas por dia, 7 dias por semana. 02. Seccionamento In Situ SBF-SEM Com base no CIQTEK SEM5000X de ultra-alta resolução Com um micrótomo integrado, esta abordagem permite ciclos de seccionamento e geração de imagens in situ. Oferece operação simples, alta automação e evita efetivamente a contaminação da superfície. 03. FIB-SEM Análise de alta precisão Utilizando sistemas de feixe duplo de íons focalizados e feixes de elétrons, esta rota oferece resolução nanométrica do eixo Z para analisar estruturas finas, como organelas e membranas. Ela permite a reconstrução 3D in situ sem fatiamento físico. Integração Inteligente e Amplas Aplicações A solução CIQTEK VEM integra-se profundamente Algoritmos de IA e uma plataforma de software multilíngue , suportando um fluxo de trabalho completo, desde a aquisição de dados, alinhamento de imagens e segmentação até a visualização 3D. Compatível com softwares de reconstrução convencionais, reduz significativamente a curva de aprendizado. Os casos de aplicação abrangem neurociência, biologia celular e microbiologia patogênica, oferecendo uma ferramenta poderosa para o avanço da pesquisa em ciências biológicas.

A pesquisa sobre o comportamento microscópico dos materiais está entrando em uma nova era de acoplamento multi-cenário e caracterização dinâmica in-situ . CIQTEK lançou um inovador Solução de teste mecânico in situ , projetado com excelente abertura e compatibilidade. Permite a integração perfeita de toda a gama de CIQTEK microscópios eletrônicos com dispositivos de teste in situ convencionais, fornecendo uma plataforma flexível e eficiente para análise acoplada em diversos cenários de pesquisa. Quebrando as limitações dos sistemas fechados, a solução integra todos os elementos críticos necessários para EM in situ adaptabilidade, apresentando: Corrente de farol alto : >100 nA, ideal para análise rápida de EDS/EBSD Espaço amplo : 360 × 310 × 288 mm (C × L × A) Alta capacidade de carga : 5 kg (até 10 kg com acessórios personalizados) CCDs multivisualização : garantindo a segurança do sistema durante a operação in situ Múltiplas interfaces : suporte a acessórios de flange personalizados Pré-aceitação : depuração completa de acessórios antes da entrega, garantindo funcionalidade completa sem problemas de instalação no local A solução pode ser configurada em A gama completa de produtos de microscopia eletrônica da CIQTEK , incluindo CIQTEK SEM3200 , SEM5000X , Sistemas de feixe duplo DB550 e muito mais. Também oferece compatibilidade perfeita com estágios de tração, estágios de aquecimento, nanoindentadores e estações de trabalho eletroquímicas de fornecedores líderes mundiais. Essa arquitetura aberta permite que os pesquisadores combinem com flexibilidade os equipamentos mais adequados, maximizando o desempenho experimental. Solução de estágio in-situ da CIQTEK apoiou os clientes na publicação de um papel de alto impacto (DOI: 10.1126/science.adq6807). Solução mecânica in-situ da CIQTEK também suporta acoplamento multicampo (mecânico, térmico, eletroquímico), permitindo a observação em nanoescala de materiais em tempo real em ambientes complexos. Ao sincronizar imagens de alta resolução com sinais in situ, os pesquisadores podem capturar fenômenos críticos, como propagação de trincas, transições de fase e reações interfaciais, com precisão. Com uma faixa de temperatura de -170 a 1200 °C, controle avançado de carga e sistemas de resposta rápida, ele simula com precisão as condições de serviço de materiais em diversos setores. Combinado com EBSD e EDS, fornece conjuntos de dados abrangentes para a compreensão do comportamento dos materiais sob estímulos acoplados. Aplicado com sucesso em materiais aeroespaciais, novos dispositivos de energia e materiais biomédicos , esta solução demonstra a compatibilidade e escalabilidade excepcionais do CIQTEK em plataformas avançadas de microscopia eletrônica.