Para dar suporte à implantação, a equipe de engenharia da CIQTEK ofereceu treinamento abrangente no local à equipe da JH Technologies. Isso incluiu operação detalhada do sistema, demonstrações de aplicações e discussões técnicas adaptadas a casos de uso reais. A colaboração aprimorou as capacidades da equipe da JH na demonstração e no suporte aos instrumentos da CIQTEK.
Após a entrega, a JH Technologies organizou um evento de sucesso
Casa Aberta
em suas instalações em Fremont, com demonstrações ao vivo de ambos os sistemas. O evento atraiu grande participação de profissionais acadêmicos e da indústria, gerando interesse significativo e feedback positivo. Encorajada pelo sucesso, a JH Technologies planeja organizar mais eventos de Portas Abertas em breve para promover ainda mais as soluções avançadas de imagem da CIQTEK.
Tecnologia de imagem comprovada para aplicações exigentes
O
SEM3300
Combina uma fonte tradicional de filamento de tungstênio com óptica moderna, oferecendo desempenho de alta resolução em baixas tensões de aceleração. Oferece uma solução poderosa e acessível para análises e pesquisas de rotina.
O
SEM5000X
Oferece imagens de altíssima resolução e recursos avançados de automação, tornando-o ideal para ciência de materiais, inspeção de semicondutores e pesquisa em nanotecnologia. Ambos os sistemas oferecem interfaces de usuário intuitivas e opções de configuração flexíveis para atender às diversas necessidades de aplicação.
Olhando para o futuro
A colaboração da CIQTEK com a JH Technologies reflete uma visão compartilhada de fornecer instrumentos SEM de classe mundial, apoiados por uma sólida expertise local. Ao combinar desempenho, usabilidade e acessibilidade, a CIQTEK está rapidamente ganhando força entre os usuários dos EUA em pesquisa, fabricação e educação.
Aleks Zhang, Diretor Adjunto do Grupo de Negócios Internacionais da CIQTEK, comentou: "Estamos orgulhosos de ver nossos instrumentos SEM nas mãos de um parceiro tão profissional e competente. O mercado americano está em forte crescimento e estamos comprometidos em aprofundar nosso suporte aos clientes locais por meio de uma cooperação estreita com distribuidores como a JH Technologies."
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.