Para dar suporte à implantação, a equipe de engenharia da CIQTEK ofereceu treinamento abrangente no local à equipe da JH Technologies. Isso incluiu operação detalhada do sistema, demonstrações de aplicações e discussões técnicas adaptadas a casos de uso reais. A colaboração aprimorou as capacidades da equipe da JH na demonstração e no suporte aos instrumentos da CIQTEK.
Após a entrega, a JH Technologies organizou um evento de sucesso
Casa Aberta
em suas instalações em Fremont, com demonstrações ao vivo de ambos os sistemas. O evento atraiu grande participação de profissionais acadêmicos e da indústria, gerando interesse significativo e feedback positivo. Encorajada pelo sucesso, a JH Technologies planeja organizar mais eventos de Portas Abertas em breve para promover ainda mais as soluções avançadas de imagem da CIQTEK.
Tecnologia de imagem comprovada para aplicações exigentes
O
SEM3300
Combina uma fonte tradicional de filamento de tungstênio com óptica moderna, oferecendo desempenho de alta resolução em baixas tensões de aceleração. Oferece uma solução poderosa e acessível para análises e pesquisas de rotina.
O
SEM5000X
Oferece imagens de altíssima resolução e recursos avançados de automação, tornando-o ideal para ciência de materiais, inspeção de semicondutores e pesquisa em nanotecnologia. Ambos os sistemas oferecem interfaces de usuário intuitivas e opções de configuração flexíveis para atender às diversas necessidades de aplicação.
Olhando para o futuro
A colaboração da CIQTEK com a JH Technologies reflete uma visão compartilhada de fornecer instrumentos SEM de classe mundial, apoiados por uma sólida expertise local. Ao combinar desempenho, usabilidade e acessibilidade, a CIQTEK está rapidamente ganhando força entre os usuários dos EUA em pesquisa, fabricação e educação.
Aleks Zhang, Diretor Adjunto do Grupo de Negócios Internacionais da CIQTEK, comentou: "Estamos orgulhosos de ver nossos instrumentos SEM nas mãos de um parceiro tão profissional e competente. O mercado americano está em forte crescimento e estamos comprometidos em aprofundar nosso suporte aos clientes locais por meio de uma cooperação estreita com distribuidores como a JH Technologies."
De alta velocidade Emissão de campo totalmente automatizada Microscópio Eletrônico de Varredura Estação de trabalho CIQTEK HEM6000 tecnologias de instalações como o canhão de elétrons de corrente de feixe grande de alto brilho, sistema de deflexão de feixe de elétrons de alta velocidade, desaceleração de estágio de amostra de alta tensão, eixo óptico dinâmico e lente objetiva combinada eletromagnética e eletrostática de imersão para obter aquisição de imagem em alta velocidade, garantindo resolução em nanoescala. O processo de operação automatizada foi projetado para aplicações como um fluxo de trabalho de geração de imagens de alta resolução em grandes áreas, mais eficiente e inteligente. Sua velocidade de geração de imagens é mais de cinco vezes mais rápida do que a de um microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (FESEM) convencional.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.