A CIQTEK apresentará tecnologia avançada de microscopia eletrônica de varredura (MEV) e suporte local nos EUA na SEMS 2026.
A CIQTEK apresentará tecnologia avançada de microscopia eletrônica de varredura (MEV) e suporte local nos EUA na SEMS 2026.
March 19, 2026
CIQTEK
A [Nome da Empresa], fabricante líder mundial de instrumentos científicos de alta tecnologia, tem o orgulho de anunciar sua participação na 61ª Reunião Anual da Southeastern Microscopy Society (SEMS), de 11 a 13 de maio de 2026, em Athens, Geórgia.
Equipe CIQTEK EUA: Conhecimento especializado e suporte local
Para melhor atender o mercado norte-americano, a CIQTEK estabeleceu uma equipe local dedicada nos EUA. Na SEMS 2026, nossos especialistas em aplicações e engenheiros de serviço fornecerão consultoria no local, demonstrando nossa ágil rede de suporte local — desde a instalação e o desenvolvimento de aplicações até a manutenção técnica contínua — garantindo uma experiência perfeita para nossos clientes.
Significado estratégico: envolvimento acadêmico e crescimento regional
Participar da SEMS 2026 é um passo fundamental no compromisso da CIQTEK com o crescimento regional. Estamos ansiosos para interagir com pesquisadores de instituições de ponta como a UGA, a fim de identificar as necessidades do mercado e impulsionar a inovação futura. Este evento também fortalece nossa presença nos setores industriais do sudeste dos EUA.
Em consonância com o foco principal da conferência, a CIQTEK apresentará sua série de Microscópios Eletrônicos de Varredura de alto desempenho (por exemplo, SEM3300). Essas plataformas oferecem imagens de alta resolução, estabilidade excepcional e fluxos de trabalho inteligentes, proporcionando soluções de caracterização precisas para pesquisas em ciências de materiais e ciências da vida.
Entre em contato diretamente com nossa equipe nos EUA:
info.usa@ciqtek.com
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.
Estável, versátil, flexível e eficiente. O CIQTEK SEM4000X É estável, versátil, flexível e eficiente. microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (MEV-FEG) Atinge uma resolução de 1,8 nm a 1,0 kV e lida facilmente com desafios de imagem de alta resolução para diversos tipos de amostras. Pode ser atualizado com um modo de desaceleração de feixe ultra-rápido para melhorar ainda mais a resolução em baixa tensão. O microscópio utiliza tecnologia multidetectora, com um detector de elétrons (UD) na coluna capaz de detectar sinais de elétrons secundários (SE) e elétrons retroespalhados (BSE), proporcionando alta resolução. O detector de elétrons (LD) montado na câmara incorpora um cristal cintilador e tubos fotomultiplicadores, oferecendo maior sensibilidade e eficiência, resultando em imagens estereoscópicas de excelente qualidade. A interface gráfica do usuário é intuitiva e apresenta funções de automação como ajuste automático de brilho e contraste, foco automático, estigmatizador automático e alinhamento automático, permitindo a captura rápida de imagens de altíssima resolução.