A CIQTEK apresentará tecnologia avançada de microscopia eletrônica de varredura (MEV) e suporte local nos EUA na SEMS 2026.

Estável, versátil, flexível e eficiente. O CIQTEK SEM4000X É estável, versátil, flexível e eficiente. microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (MEV-FEG) Atinge uma resolução de 1,8 nm a 1,0 kV e lida facilmente com desafios de imagem de alta resolução para diversos tipos de amostras. Pode ser atualizado com um modo de desaceleração de feixe ultra-rápido para melhorar ainda mais a resolução em baixa tensão. O microscópio utiliza tecnologia multidetectora, com um detector de elétrons (UD) na coluna capaz de detectar sinais de elétrons secundários (SE) e elétrons retroespalhados (BSE), proporcionando alta resolução. O detector de elétrons (LD) montado na câmara incorpora um cristal cintilador e tubos fotomultiplicadores, oferecendo maior sensibilidade e eficiência, resultando em imagens estereoscópicas de excelente qualidade. A interface gráfica do usuário é intuitiva e apresenta funções de automação como ajuste automático de brilho e contraste, foco automático, estigmatizador automático e alinhamento automático, permitindo a captura rápida de imagens de altíssima resolução.

Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.

Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.