A CIQTEK apresenta soluções de microscopia eletrônica na The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, EUA.
A CIQTEK apresenta soluções de microscopia eletrônica na The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, EUA.
March 18, 2026
CIQTEK
participou do
Encontro e Exposição Anual da TMS 2026
, realizada de 15 a 19 de março de 2026 em San Diego, Califórnia, EUA. Nossa equipe nos EUA e nosso parceiro de distribuição local receberam os visitantes em
Estande nº 307
, onde apresentamos nosso mais recente trabalho
soluções para microscopia eletrônica
para aplicações em ciência dos materiais.
Sobre o TMS 2026
Organizado por
A Sociedade de Minerais, Metais e Materiais (TMS)
Este encontro anual é um evento fundamental para a comunidade global de ciência dos materiais. Ele reúne pesquisadores, engenheiros e profissionais da indústria que atuam em áreas como metalurgia, materiais avançados, manufatura aditiva e tecnologias de caracterização.
O evento oferece uma plataforma sólida para a troca de ideias, a descoberta de novas tecnologias e a discussão de desafios reais na pesquisa e produção de materiais.
Soluções SEM personalizadas para pesquisa de materiais
A CIQTEK apresentou soluções de microscopia eletrônica projetadas para dar suporte a uma ampla gama de aplicações em ciência dos materiais.
Nossos sistemas são ideais para:
Análise da microestrutura de metais e ligas
Análise de falhas e investigação de defeitos
Caracterização de pós e partículas
Manufatura aditiva e pesquisa de novos materiais
Muitos visitantes demonstraram particular interesse em como os sistemas CIQTEK oferecem desempenho de imagem estável, mantendo a facilidade de operação. Para laboratórios que precisam equilibrar desempenho, usabilidade e orçamento, essa combinação é especialmente importante.
Também tivemos discussões aprofundadas com os usuários sobre seus desafios diários, como melhorar a eficiência da geração de imagens, simplificar os fluxos de trabalho e lidar com amostras complexas. Essas conversas nos ajudam a alinhar melhor nossas soluções às necessidades reais das aplicações.
Forte presença e apoio local nos EUA
A participação na TMS 2026 faz parte da estratégia mais ampla da CIQTEK para expandir seus negócios de microscopia eletrônica no mercado americano.
Oferecemos:
UM
centro de demonstração com sede nos EUA
para avaliação prática
Suporte técnico e de aplicação local nos EUA
Resposta mais rápida para serviços e treinamento.
Continuamos a investir em equipes locais, infraestrutura e parcerias para melhor apoiar pesquisadores e usuários da indústria. Ao combinar tecnologia competitiva com atendimento localizado, a CIQTEK visa tornar a microscopia eletrônica de alta qualidade mais acessível em toda a América do Norte.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.
Ga + Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focalizado O Microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de amostras. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa voltagem, alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons facilitam um Ga + Fonte de íons metálicos líquidos com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.