A CIQTEK apresenta soluções de microscopia eletrônica na The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, EUA.
A CIQTEK apresenta soluções de microscopia eletrônica na The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, EUA.
March 18, 2026
CIQTEK
participou do
Encontro e Exposição Anual da TMS 2026
, realizada de 15 a 19 de março de 2026 em San Diego, Califórnia, EUA. Nossa equipe nos EUA e nosso parceiro de distribuição local receberam os visitantes em
Estande nº 307
, onde apresentamos nosso mais recente trabalho
soluções para microscopia eletrônica
para aplicações em ciência dos materiais.
Sobre o TMS 2026
Organizado por
A Sociedade de Minerais, Metais e Materiais (TMS)
Este encontro anual é um evento fundamental para a comunidade global de ciência dos materiais. Ele reúne pesquisadores, engenheiros e profissionais da indústria que atuam em áreas como metalurgia, materiais avançados, manufatura aditiva e tecnologias de caracterização.
O evento oferece uma plataforma sólida para a troca de ideias, a descoberta de novas tecnologias e a discussão de desafios reais na pesquisa e produção de materiais.
Soluções SEM personalizadas para pesquisa de materiais
A CIQTEK apresentou soluções de microscopia eletrônica projetadas para dar suporte a uma ampla gama de aplicações em ciência dos materiais.
Nossos sistemas são ideais para:
Análise da microestrutura de metais e ligas
Análise de falhas e investigação de defeitos
Caracterização de pós e partículas
Manufatura aditiva e pesquisa de novos materiais
Muitos visitantes demonstraram particular interesse em como os sistemas CIQTEK oferecem desempenho de imagem estável, mantendo a facilidade de operação. Para laboratórios que precisam equilibrar desempenho, usabilidade e orçamento, essa combinação é especialmente importante.
Também tivemos discussões aprofundadas com os usuários sobre seus desafios diários, como melhorar a eficiência da geração de imagens, simplificar os fluxos de trabalho e lidar com amostras complexas. Essas conversas nos ajudam a alinhar melhor nossas soluções às necessidades reais das aplicações.
Forte presença e apoio local nos EUA
A participação na TMS 2026 faz parte da estratégia mais ampla da CIQTEK para expandir seus negócios de microscopia eletrônica no mercado americano.
Oferecemos:
UM
centro de demonstração com sede nos EUA
para avaliação prática
Suporte técnico e de aplicação local nos EUA
Resposta mais rápida para serviços e treinamento.
Continuamos a investir em equipes locais, infraestrutura e parcerias para melhor apoiar pesquisadores e usuários da indústria. Ao combinar tecnologia competitiva com atendimento localizado, a CIQTEK visa tornar a microscopia eletrônica de alta qualidade mais acessível em toda a América do Norte.
Ga + Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focalizado O Microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de amostras. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa voltagem, alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons facilitam um Ga + Fonte de íons metálicos líquidos com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.