CIQTEK hospeda programa de treinamento operacional avançado de microscópios SEM para GSEM KOREA
CIQTEK hospeda programa de treinamento operacional avançado de microscópios SEM para GSEM KOREA
August 15, 2024
A CIQTEK , fornecedora líder de instrumentos científicos avançados, anuncia a conclusão bem-sucedida de um programa de treinamento abrangente focado na operação e aplicação da série de microscópios eletrônicos (SEM) de ponta S com a GSEM KOREA . O treinamento ocorreu no CIQTEK Application Center de 7 a 8 de agosto e teve como objetivo aprimorar a experiência do agente em imagens de alta resolução para diversas disciplinas científicas, fornecendo informações valiosas sobre os recursos e funcionalidades avançadas .
O programa contou com uma equipe de instrutores experientes e especialistas técnicos da CIQTEK , que orientaram os participantes nas complexidades das operações SEM . Os participantes obtiveram insights sobre técnicas de preparação de amostras, otimização de parâmetros de imagem e metodologias de análise de dados para obter imagens de alta qualidade e extrair informações valiosas das amostras com precisão.
Lisa, Cientista Sênior de Aplicações da CIQTEK , expressou seu entusiasmo pela colaboração bem-sucedida com a GSEM KOREA , afirmando: "Estamos entusiasmados com a parceria com a GSEM KOREA para oferecer este programa de treinamento abrangente. E por meio desse treinamento, pretendemos equipar os pesquisadores com as competências necessárias para aproveitar estes instrumentos de forma eficaz."
A CIQTEK está comprometida em promover avanços científicos e capacitar pesquisadores com tecnologias de ponta. Ao organizar programas de formação e estabelecer parcerias com empresas líderes como a GSEM KOREA , a CIQTEK continua a facilitar a troca de conhecimento e a promover a inovação na investigação científica.
Analítico Schottky Microscópio Eletrônico de Varredura de Emissão de Campo (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro É um modelo analítico FE-SEM equipado com um canhão de elétrons de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida útil. Seu design de lente eletromagnética de três estágios oferece vantagens significativas em aplicações analíticas como EDS/EDX, EBSD, WDS e outras. O modelo vem de fábrica com um modo de baixo vácuo e um detector de elétrons secundários de baixo vácuo de alto desempenho, bem como um detector de elétrons retrodispersos retrátil, o que beneficia a observação de espécimes pouco condutivos ou não condutivos.
SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenho Microscópio O Microscópio SEM CIQTEK SEM3200 é um excelente Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) de Filamento de Tungstênio para uso geral, com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelentes capacidades de expansão.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.
Microscópio eletrônico de transmissão de emissão de campo de 120kV (TEM) 1. Espaços de trabalho divididos: Os usuários operam o TEM em uma sala dividida com conforto, reduzindo a interferência ambiental no TEM. 2. Alta eficiência operacional: O software designado integra processos altamente automatizados, permitindo interação eficiente de TEM com monitoramento em tempo real. 3. Experiência Operacional Atualizada: Equipado com um canhão de elétrons de emissão de campo com um sistema altamente automatizado. 4. Alta capacidade de expansão: Existem interfaces suficientes reservadas para os usuários atualizarem para uma configuração superior, que atende a diversos requisitos de aplicação.