CIQTEK SEM3200 instalado com sucesso no laboratório da Universidade de Monterrey, México

Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.

Microscópio eletrônico de transmissão de emissão de campo de 120kV (TEM) 1. Espaços de trabalho divididos: Os usuários operam o TEM em uma sala dividida com conforto, reduzindo a interferência ambiental no TEM. 2. Alta eficiência operacional: O software designado integra processos altamente automatizados, permitindo interação eficiente de TEM com monitoramento em tempo real. 3. Experiência Operacional Atualizada: Equipado com um canhão de elétrons de emissão de campo com um sistema altamente automatizado. 4. Alta capacidade de expansão: Existem interfaces suficientes reservadas para os usuários atualizarem para uma configuração superior, que atende a diversos requisitos de aplicação.

SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenho Microscópio O Microscópio SEM CIQTEK SEM3200 é um excelente Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) de Filamento de Tungstênio para uso geral, com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelentes capacidades de expansão.