A microscopia eletrônica da CIQTEK amplia sua presença global na ESEM 2025 no Egito
A microscopia eletrônica da CIQTEK amplia sua presença global na ESEM 2025 no Egito
October 13, 2025
CIQTEK
sente-se honrado por ter participado do
Conferência Internacional da Sociedade Egípcia de Microscopia Eletrônica (ESEM) 2025
, realizada de 13 a 15 de outubro no
Instituto de Pesquisa Theodor Bilharz (TBRI)
em Gizé, Egito. O evento reuniu especialistas em microscopia eletrônica, pesquisadores e representantes da indústria de todo o Oriente Médio, África e outros lugares, expandindo as fronteiras da microscopia tanto nas ciências biológicas quanto na pesquisa de materiais.
O tema deste ano,
“O papel da microscopia eletrônica na iluminação do invisível”
, repercutiu em sessões sobre neuropatologia, biópsia renal, agentes infecciosos, imagens de nanoestrutura e técnicas emergentes de microscopia. O TBRI desempenhou um papel central na organização do evento, em cooperação com universidades egípcias como Tanta e Assiut.
Contribuições e engajamento do CIQTEK
Na ESEM 2025, a CIQTEK apresentou seu
Linha de produtos SEM
, incluindo
FIBSEM
,
FESEM
, e
Filamento de tungstênio SEM
. Nosso estande atraiu o interesse de pesquisadores de ciências biológicas e de materiais, interessados em ver imagens de amostras reais, desempenho de baixa voltagem e integração analítica.
Além das exposições, os representantes do CIQTEK se envolveram em intercâmbios técnicos, discutindo como ferramentas SEM avançadas podem fortalecer a infraestrutura de pesquisa regional. Ressaltamos nosso compromisso com
fornecendo instrumentos de alto desempenho, preços competitivos e redes de suporte locais
para facilitar a adoção em diversos laboratórios da região.
Impacto e Perspectivas
A conferência destacou como a microscopia continua a revelar o invisível — da ultraestrutura celular aos fenômenos dos nanomateriais. Para muitos participantes, esta foi uma rara oportunidade de acessar um amplo espectro de técnicas de imagem em um único lugar e de conversar diretamente com fornecedores como a CIQTEK.
Ao se envolver com cientistas e instituições locais, o CIQTEK aprofunda seu alcance global e contribui para o crescimento da microscopia em regiões sub-representadas. Esperamos continuar nosso apoio na África e no Oriente Médio por meio de instalações de instrumentos, treinamento e atendimento ágil.
Analítico Schottky Microscópio Eletrônico de Varredura de Emissão de Campo (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro É um modelo analítico FE-SEM equipado com um canhão de elétrons de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida útil. Seu design de lente eletromagnética de três estágios oferece vantagens significativas em aplicações analíticas como EDS/EDX, EBSD, WDS e outras. O modelo vem de fábrica com um modo de baixo vácuo e um detector de elétrons secundários de baixo vácuo de alto desempenho, bem como um detector de elétrons retrodispersos retrátil, o que beneficia a observação de espécimes pouco condutivos ou não condutivos.
Ga + Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focalizado O Microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de amostras. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa voltagem, alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons facilitam um Ga + Fonte de íons metálicos líquidos com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.
SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenho Microscópio O Microscópio SEM CIQTEK SEM3200 é um excelente Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) de Filamento de Tungstênio para uso geral, com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelente capacidade de expansão.