Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo | SEM5000

Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo (FE-SEM) com colunas de feixe de íons focados (FIB) O microscópio eletrônico de varredura por feixe de íons focado CIQTEK DB550 (FIB-SEM) possui uma coluna de feixe de íons focado para nanoanálise e preparação de amostras. Ele utiliza tecnologia de óptica eletrônica de “supertúnel”, baixa aberração e design objetivo não magnético, e possui o recurso de “baixa tensão, alta resolução” para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons facilitam uma fonte de íons metálicos líquidos Ga+ com feixes de íons altamente estáveis ​​e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa de nanoanálise e fabricação com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software GUI fácil de usar.

Microscopia eletrônica de varredura de emissão de campo de resolução ultra-alta (Feseem)O CIQTEK SEM5000X é um fesem de resolução ultra-alta com design de coluna óptica de elétrons otimizada, reduzindo as aberrações gerais em 30%, alcançando uma resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa avançada de materiais nanoestruturais, bem como no desenvolvimento e fabricação de chips de IC semicondutores de nó de alta tecnologia.

Estável, versátil, flexível e eficiente O CIQTEK SEM4000X é um microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (FE-SEM) estável, versátil, flexível e eficiente. Ele atinge uma resolução de 1,9nm@1,0kV e enfrenta facilmente desafios de imagem de alta resolução para vários tipos de amostras. Ele pode ser atualizado com um modo de desaceleração de ultra-feixe para melhorar ainda mais a resolução de baixa tensão. O microscópio utiliza tecnologia de múltiplos detectores, com um detector de elétrons (UD) na coluna capaz de detectar sinais SE e BSE enquanto fornece desempenho de alta resolução. O detector de elétrons (LD) montado em câmara incorpora cintilador de cristal e tubos fotomultiplicadores, oferecendo maior sensibilidade e eficiência, resultando em imagens estereoscópicas de excelente qualidade. A interface gráfica do usuário é fácil de usar, apresentando funções de automação como brilho e contraste automáticos, foco automático, estigma automático e alinhamento automático, permitindo a captura rápida de imagens de altíssima resolução.

Microscópio SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenho O microscópio SEM CIQTEK SEM3200 é um excelente microscópio eletrônico de varredura (SEM) de filamento de tungstênio de uso geral com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelentes recursos.