Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo | SEM5000

Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focados em Ga+ O Microscópio Eletrônico de Varredura de Feixe Iônico Focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de espécimes. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa tensão e alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons proporcionam uma fonte de íons metálicos líquidos de Ga+ com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.

Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.

Estável, versátil, flexível e eficiente O CIQTEK SEM4000X é estável, versátil, flexível e eficiente microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (FE-SEM) . Ele atinge uma resolução de 1,9 nm a 1,0 kV e enfrenta facilmente desafios de imagens de alta resolução para vários tipos de amostras. Pode ser atualizado com um modo de desaceleração de ultra-feixe para aprimorar ainda mais a resolução em baixa tensão. O microscópio utiliza tecnologia multidetectora, com um detector de elétrons (UD) na coluna capaz de detectar sinais SE e BSE, proporcionando desempenho de alta resolução. O detector de elétrons (LD) montado na câmara incorpora tubos cintiladores de cristal e fotomultiplicadores, oferecendo maior sensibilidade e eficiência, resultando em imagens estereoscópicas de excelente qualidade. A interface gráfica do usuário é intuitiva, com funções de automação como brilho e contraste automáticos, foco automático, estigmatizador automático e alinhamento automático, permitindo a captura rápida de imagens de ultra-alta resolução.

SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenho Microscópio O Microscópio SEM CIQTEK SEM3200 é um excelente Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) de Filamento de Tungstênio para uso geral, com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelentes capacidades de expansão.