A solução CIQTEK Cryo-SEM permite imagens de alta resolução e sem danos de amostras biológicas
A solução CIQTEK Cryo-SEM permite imagens de alta resolução e sem danos de amostras biológicas
September 18, 2025
Nas áreas de ciências biológicas, biomedicina, inspeção de alimentos e pesquisa de matéria mole, obter imagens de alta resolução de amostras hidratadas e sensíveis ao feixe sempre foi um grande desafio. Métodos convencionais de preparação de amostras, como fixação química, desidratação e secagem, frequentemente resultam em encolhimento, deformação ou danos estruturais, levando a resultados que se desviam do estado real da amostra.
Aproveitando seu avançado
microscopia eletrônica de varredura
tecnologia,
CIQTEK
introduziu o
Solução Crio-SEM
, que integra congelamento em baixa temperatura e transferência a vácuo. Isso permite a observação microscópica in situ, não destrutiva e de alta fidelidade de amostras biológicas e sensíveis, realmente "congelando" os detalhes microscópicos da vida.
Com a tecnologia de congelamento rápido por congelamento rápido com nitrogênio líquido, as amostras podem ser vitrificadas instantaneamente a -210 °C, preservando ao máximo sua morfologia e composição química originais. O sistema integrado de criopreparação combina criofratura, revestimento por sublimação e transferência em baixa temperatura, evitando a complexidade e os potenciais erros da preparação manual convencional. Durante todo o processo, as amostras são mantidas em condições de vácuo criogênico e transferidas para o estágio criogênico do SEM, onde a geração de imagens de alta resolução a -180 °C suprime eficazmente os danos causados pelo feixe de elétrons e melhora significativamente a qualidade da imagem.
Folha de buxo criopreparada mostrando estruturas de nervuras intactas
, enquanto a amostra não tratada apresenta retração severa.
Iogurte
Mofo
Amostra de iogurte criopreparado revela claramente redes de proteínas e hifas fúngicas.
O
Solução CIQTEK Cryo-SEM
é mais do que apenas um conjunto de instrumentos. Ele incorpora uma abordagem científica dedicada a restaurar fielmente o mundo microscópico. Capacita pesquisadores a superar limitações técnicas, capturar detalhes críticos na microescala da vida e impulsionar a pesquisa fundamental e o desenvolvimento aplicado a novos patamares.
26 a 30 de setembro, Wuhan
No
Conferência Acadêmica Chinesa de Microscopia Eletrônica de 2025
, a CIQTEK irá revelar
oito soluções EM de ponta
.
Ga + Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focalizado O Microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de amostras. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa voltagem, alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons facilitam um Ga + Fonte de íons metálicos líquidos com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.