CIQTEK participa da Conferência Anual de Microscopia Eletrônica de Pequim de 2023, Pequim, China

Analítico Schottky Microscópio Eletrônico de Varredura de Emissão de Campo (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro É um modelo analítico FE-SEM equipado com um canhão de elétrons de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida útil. Seu design de lente eletromagnética de três estágios oferece vantagens significativas em aplicações analíticas como EDS/EDX, EBSD, WDS e outras. O modelo vem de fábrica com um modo de baixo vácuo e um detector de elétrons secundários de baixo vácuo de alto desempenho, bem como um detector de elétrons retrodispersos retrátil, o que beneficia a observação de espécimes pouco condutivos ou não condutivos.

Estável, versátil, flexível e eficiente O CIQTEK SEM4000X é estável, versátil, flexível e eficiente microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (FE-SEM) . Ele atinge uma resolução de 1,9 nm a 1,0 kV e enfrenta facilmente desafios de imagens de alta resolução para vários tipos de amostras. Pode ser atualizado com um modo de desaceleração de ultra-feixe para aprimorar ainda mais a resolução em baixa tensão. O microscópio utiliza tecnologia multidetectora, com um detector de elétrons (UD) na coluna capaz de detectar sinais SE e BSE, proporcionando desempenho de alta resolução. O detector de elétrons (LD) montado na câmara incorpora tubos cintiladores de cristal e fotomultiplicadores, oferecendo maior sensibilidade e eficiência, resultando em imagens estereoscópicas de excelente qualidade. A interface gráfica do usuário é intuitiva, com funções de automação como brilho e contraste automáticos, foco automático, estigmatizador automático e alinhamento automático, permitindo a captura rápida de imagens de ultra-alta resolução.

Alta resolução sob baixa excitação O CIQTEK SEM5000Pro é um Schottky de alta resolução microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (FE-SEM) Especializada em alta resolução, mesmo sob baixa tensão de excitação. A utilização de uma avançada tecnologia óptica eletrônica "Super-Túnel" facilita um caminho de feixe sem cruzamento e um design de lente composta eletrostática-eletromagnética. Esses avanços reduzem o efeito de carga espacial, minimizam as aberrações da lente, melhoram a resolução da imagem em baixa voltagem e alcançam uma resolução de 1,2 nm a 1 kV, o que permite a observação direta de amostras não condutoras ou semicondutoras, reduzindo efetivamente os danos causados pela irradiação da amostra.

CIQTEK SEM5000 é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo com capacidade de imagem e análise de alta resolução, apoiado por funções abundantes, benefícios de design avançado de coluna óptica eletrônica, com tecnologia de túnel de feixe de elétrons de alta pressão (SuperTunnel), baixa aberração e não imersão lente objetiva, alcança imagens de baixa tensão e alta resolução, a amostra magnética também pode ser analisada. Com navegação óptica, funcionalidades automatizadas, interface de usuário de interação humano-computador cuidadosamente projetada e operação e processo de uso otimizados, não importa se você é um especialista ou não, você pode começar rapidamente e concluir o trabalho de análise e imagem de alta resolução.

SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenho Microscópio O Microscópio SEM CIQTEK SEM3200 é um excelente Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) de Filamento de Tungstênio para uso geral, com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelentes capacidades de expansão.

Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.

Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.

Microscópio eletrônico de transmissão de emissão de campo de 120kV (TEM) 1. Espaços de trabalho divididos: Os usuários operam o TEM em uma sala dividida com conforto, reduzindo a interferência ambiental no TEM. 2. Alta eficiência operacional: O software designado integra processos altamente automatizados, permitindo interação eficiente de TEM com monitoramento em tempo real. 3. Experiência Operacional Atualizada: Equipado com um canhão de elétrons de emissão de campo com um sistema altamente automatizado. 4. Alta capacidade de expansão: Existem interfaces suficientes reservadas para os usuários atualizarem para uma configuração superior, que atende a diversos requisitos de aplicação.

De alta velocidade Emissão de campo totalmente automatizada Microscópio Eletrônico de Varredura Estação de trabalho CIQTEK HEM6000 tecnologias de instalações como o canhão de elétrons de corrente de feixe grande de alto brilho, sistema de deflexão de feixe de elétrons de alta velocidade, desaceleração de estágio de amostra de alta tensão, eixo óptico dinâmico e lente objetiva combinada eletromagnética e eletrostática de imersão para obter aquisição de imagem em alta velocidade, garantindo resolução em nanoescala. O processo de operação automatizada foi projetado para aplicações como um fluxo de trabalho de geração de imagens de alta resolução em grandes áreas, mais eficiente e inteligente. Sua velocidade de geração de imagens é mais de cinco vezes mais rápida do que a de um microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (FESEM) convencional.