TEM+FIB! CIQTEK recebeu alto reconhecimento dos especialistas presentes no CEMS

A Conferência Nacional sobre Microscopia Eletrônica(CEMS) foi realizada em Dongguan de 17 a 21 de outubro de 2024. A conferência atraiu cerca de 2.000 especialistas, acadêmicos e representantes de universidades, instituições de pesquisa, empresas e empresas de tecnologia de instrumentos.

CIQTEK apresentou o Microscópio Eletrônico de Varredura com Feixe de Íons Focado DB550 e o Field Transmissão de Emissão Microscópio Eletrônico TH-F120 e realizou demonstrações ao vivo no local, que receberam grande atenção dos participantes.

"NTecnologia e progresso de detecção seletiva de elétrons de sinal no eixo de geração externa

no desenvolvimento de microscópio eletrônico de varredura FEG frio"

Sr. Cao Feng, vice-presidente da CIQTEK, fez um discurso de abertura durante a conferência, apresentando os mais recentes avanços tecnológicos e conquistas inovadoras da empresa no campo da microscopia eletrônica e recebendo alto reconhecimento de os especialistas presentes.

Para fornecer aos usuários uma experiência tangível das conquistas de desenvolvimento de microscópios eletrônicos de ponta e demonstrar o desempenho real dos produtos, CIQTEK mais uma vez montou o "Laboratório de Microscópio Eletrônico" no local da conferência.

Com cuidadosa organização por uma equipe profissional, o estande não apenas recriou um ambiente de laboratório, mas também realizou a demonstração ao vivo do Microscópio Eletrônico de Varredura com Feixe de Íons Focados DB550 e do Microscópio Eletrônico de Transmissão de Emissão de Campo TH-F120. A preparação de amostras e imagens no local demonstraram plenamente o desempenho superior dos microscópios eletrônicos de alta qualidade produzidos internamente, atraindo um grande número de visitantes profissionais para trocas de visitas.