【Entrevista exclusiva com o primeiro autor de um artigo científico】Vamos utilizar microscópios eletrônicos CIQTEK!
【Entrevista exclusiva com o primeiro autor de um artigo científico】Vamos utilizar microscópios eletrônicos CIQTEK!
June 11, 2025
Recentemente, o principal periódico acadêmico internacional "Science" publicou um artigo de pesquisa intitulado "Fadiga do ânodo de metal de lítio em baterias de estado sólido" pelo Professor Wei Luo da Universidade Tongji, juntamente com o Professor Yunhui Huang da Universidade Huazhong de Ciência e Tecnologia e outros colaboradores.
Este estudo revelou pela primeira vez o fenômeno de falha por fadiga do ânodo metálico de lítio em baterias de estado sólido, revelou um novo mecanismo de falha por fadiga e propôs novas estratégias para inibir a falha por fadiga e melhorar o desempenho de baterias de estado sólido.
Nesta pesquisa, a equipe utilizou a
Filamento de tungstênio SEM
da CIQTEK
para testes de fadiga SEM in-situ e obteve excelentes resultados de teste.
Recentemente, o primeiro autor deste artigo, Professor Bo Chen da Universidade Tongji, foi convidado a visitar o CIQTEK e nos concedeu uma entrevista.
O professor Bo Chen apresenta: "Nosso grupo de pesquisa concentra-se principalmente em dois aspectos: um é a geração de imagens com raios X síncrotron e o outro envolve imagens por microscopia eletrônica, como no CIQTEK. O trabalho de todo o nosso grupo de pesquisa gira em torno das nano e microestruturas de materiais, particularmente nas nano e microestruturas tridimensionais de materiais. Portanto, todo o nosso grupo de pesquisa pode ser chamado de grupo de pesquisa de nano e microestruturas de materiais."
Sobre o artigo publicado recentemente na "Science", o professor Bo Chen declarou: "O artigo abordou um fenômeno que não havia sido amplamente considerado antes, que é a fadiga do lítio metálico. Anteriormente, todos acreditavam que se tratava de fadiga eletroquímica gerada durante os processos de carga e descarga, mas, na realidade, também apresenta fadiga mecânica durante esses processos."
A principal descoberta desta pesquisa é que o lítio apresenta não apenas fadiga eletroquímica durante a carga e a descarga, mas também fadiga mecânica, manifestada durante esses processos, que combinados são as principais causas da destruição do lítio metálico das baterias de estado sólido. O artigo sugere ainda que, ao se adicionar lítio metálico à liga para aprimorar suas propriedades físicas, a vida útil das baterias de estado sólido pode ser aumentada. Esta é uma descoberta inovadora e bastante intrigante.
Ao projetar os experimentos, a equipe observou ambos os tipos de fadiga instalando dispositivos de fadiga no microscópio eletrônico. Como o grupo de pesquisa dispunha apenas de um microscópio eletrônico, para realizar a observação completa, utilizou-se uma platina de tração in situ desenvolvida pelo Professor Jixue Li, da Hangzhou Yuanwei Technology Company. O Professor Bo Chen afirmou: "Com a ajuda do Professor Li, criamos em conjunto um dispositivo de teste de fadiga por tração. O experimento de fadiga mecânica do lítio metálico foi conduzido pelo Professor Li utilizando o microscópio eletrônico da CIQTEK para testes de tração in situ."
Quando questionado sobre suas opiniões sobre
Microscópios Eletrônicos CIQTEK
O professor Bo Chen foi muito franco e sincero: "Para nós, a única exigência é que o equipamento tenha um bom desempenho."
Como cientista pesquisador que aprecia a exploração prática, o Professor Bo Chen também compartilhou algumas percepções pessoais sobre o uso de instrumentos CIQTEK. Ele mencionou que, quando o instrumento oferece qualidade e custo-benefício, aumenta significativamente o interesse dos pesquisadores em mexer com a máquina, reduz a sensação de alienação em relação a instrumentos caros e incentiva os pesquisadores a utilizar a máquina de forma mais eficaz, liberando assim mais criatividade em pesquisa.
Terminando com as palavras do Professor Bo Chen,
CIQTEK
continuará aderindo ao slogan: Clientes bem-sucedidos, companheiros bem-sucedidos!
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.
De alta velocidade Emissão de campo totalmente automatizada Microscópio Eletrônico de Varredura Estação de trabalho CIQTEK HEM6000 tecnologias de instalações como o canhão de elétrons de corrente de feixe grande de alto brilho, sistema de deflexão de feixe de elétrons de alta velocidade, desaceleração de estágio de amostra de alta tensão, eixo óptico dinâmico e lente objetiva combinada eletromagnética e eletrostática de imersão para obter aquisição de imagem em alta velocidade, garantindo resolução em nanoescala. O processo de operação automatizada foi projetado para aplicações como um fluxo de trabalho de geração de imagens de alta resolução em grandes áreas, mais eficiente e inteligente. Sua velocidade de geração de imagens é mais de cinco vezes mais rápida do que a de um microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (FESEM) convencional.
Fácil de usar Filamento de tungstênio compacto Microscópio Eletrônico de Varredura O Microscópio SEM CIQTEK SEM2100 Apresenta um processo operacional simplificado e segue os padrões da indústria e os hábitos do usuário em seu design de "Interface do Usuário". Apesar da interface de software minimalista, ele oferece funções automatizadas abrangentes, ferramentas de medição e anotação, recursos de gerenciamento de pós-processamento de imagens, navegação óptica de imagens e muito mais. O design do SEM2100 concretiza perfeitamente a ideia de "Simplicidade sem sacrificar a funcionalidade".
SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenho Microscópio O Microscópio SEM CIQTEK SEM3200 é um excelente Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) de Filamento de Tungstênio para uso geral, com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelentes capacidades de expansão.