A CIQTEK apresentará soluções de microscopia eletrônica na The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, nos EUA.
A CIQTEK apresentará soluções de microscopia eletrônica na The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, nos EUA.
January 20, 2026
CIQTEK
está animado para participar em
Encontro e Exposição Anual da Sociedade de Minerais, Metais e Materiais (TMS) 2026
,
15 a 19 de março de 2026
no
Centro de Convenções de San Diego e Hilton San Diego Bayfront
Em San Diego, Califórnia, EUA.
Nossa equipe nos EUA estará presente para fornecer suporte local e consultoria sobre o produto.
.
A TMS é um encontro internacional de longa data que reúne cientistas de materiais, engenheiros, pesquisadores e profissionais da indústria. O evento atrai mais de 4.000 participantes de todo o mundo e apresenta sessões técnicas, workshops e uma exposição focada no lado prático da pesquisa e tecnologia de minerais, metais e materiais.
Conheça as soluções de microscopia eletrônica da CIQTEK no estande nº 307.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.
Ga + Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focalizado O Microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de amostras. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa voltagem, alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons facilitam um Ga + Fonte de íons metálicos líquidos com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.
Microscópio eletrônico de transmissão de emissão de campo de 120kV (TEM) 1. Espaços de trabalho divididos: Os usuários operam o TEM em uma sala dividida com conforto, reduzindo a interferência ambiental no TEM. 2. Alta eficiência operacional: O software designado integra processos altamente automatizados, permitindo interação eficiente de TEM com monitoramento em tempo real. 3. Experiência Operacional Atualizada: Equipado com um canhão de elétrons de emissão de campo com um sistema altamente automatizado. 4. Alta capacidade de expansão: Existem interfaces suficientes reservadas para os usuários atualizarem para uma configuração superior, que atende a diversos requisitos de aplicação.