A CIQTEK participará da 60ª Reunião Anual da Sociedade de Microscopia do Texas (TSM 2026).
A CIQTEK participará da 60ª Reunião Anual da Sociedade de Microscopia do Texas (TSM 2026).
January 15, 2026
CIQTEK
tem o prazer de anunciar sua participação no
60ª Reunião Anual da Sociedade de Microscopia do Texas (TSM)
, que ocorrerá em
19 a 20 de fevereiro de 2026
, no
Universidade do Texas em Austin, EUA
.
Celebrando seis décadas de contribuições para a comunidade de microscopia, a TSM 2026 reúne pesquisadores, gestores de instalações e profissionais da indústria para discutir tanto o legado quanto o futuro da microscopia. A CIQTEK tem a honra de participar deste evento histórico e de interagir com a comunidade de microscopia do Texas e dos Estados Unidos em geral.
Apoio à microscopia avançada com soluções práticas e de alto desempenho para microscopia eletrônica.
Na TSM 2026, a CIQTEK apresentará seu crescente portfólio de
microscópios eletrônicos (ME)
Projetado para atender às necessidades em constante evolução da pesquisa acadêmica, instalações compartilhadas e laboratórios industriais.
Linha de produtos EM da CIQTEK
Abrange uma ampla gama de aplicações, desde imagens de rotina até a caracterização avançada de materiais, incluindo:
Em todo o portfólio, a CIQTEK se concentra em entregar
Desempenho de imagem confiável, operação intuitiva do sistema e valor de propriedade a longo prazo.
, ajudando os laboratórios a obter resultados consistentes sem complexidade desnecessária.
Interagindo com a comunidade de microscopia
A CIQTEK vê conferências como a TSM não apenas como uma oportunidade para apresentar instrumentação, mas também como uma plataforma para uma troca técnica significativa. Durante o encontro, a equipe da CIQTEK espera discutir desafios reais da microscopia, considerações sobre a seleção de sistemas e necessidades operacionais de longo prazo com usuários das áreas de ciência dos materiais, ciências da vida e aplicações industriais.
Para os participantes interessados em saber mais sobre as soluções de EM da CIQTEK ou em explorar possíveis colaborações, a CIQTEK convida a todos para conversas durante o encontro em Austin!
Suporte local da CIQTEK EUA
Para melhor atender os clientes na América do Norte,
A CIQTEK mantém uma filial local nos Estados Unidos.
, oferecendo suporte de vendas regional, consultoria de aplicações e assistência técnica de longo prazo para usuários de microscopia eletrônica.
Para obter mais informações sobre as soluções CIQTEK EM ou para entrar em contato com a equipe da CIQTEK USA, entre em contato conosco pelo endereço:
info.usa@ciqtek.com
.
Microscópio eletrônico de transmissão de emissão de campo de 120kV (TEM) 1. Espaços de trabalho divididos: Os usuários operam o TEM em uma sala dividida com conforto, reduzindo a interferência ambiental no TEM. 2. Alta eficiência operacional: O software designado integra processos altamente automatizados, permitindo interação eficiente de TEM com monitoramento em tempo real. 3. Experiência Operacional Atualizada: Equipado com um canhão de elétrons de emissão de campo com um sistema altamente automatizado. 4. Alta capacidade de expansão: Existem interfaces suficientes reservadas para os usuários atualizarem para uma configuração superior, que atende a diversos requisitos de aplicação.
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.
Ga + Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focalizado O Microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de amostras. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa voltagem, alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons facilitam um Ga + Fonte de íons metálicos líquidos com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.