CIQTEK participará da Reunião Anual da GLMS de 2026 em Michigan, EUA
CIQTEK participará da Reunião Anual da GLMS de 2026 em Michigan, EUA
September 29, 2026
CIQTEK participará da Reunião Anual da Great Lakes Microscopy Society (GLMS) de 2026 em 9 de outubro de 2026, na Michigan Technological University em Houghton, Michigan.
O encontro reúne pesquisadores, estudantes e profissionais de microscopia que trabalham em microscopia eletrônica, microanálise, ciência dos materiais e pesquisa biológica.
Conheça a equipe de ME da CIQTEK nos EUA
Na GLMS 2026, a CIQTEK apresentará suas soluções de microscopia eletrônica para uma ampla gama de aplicações de pesquisa.
Nossa Equipe de Microscopia Eletrônica dos EUA estará no local para se conectar com os participantes e discutir aplicações reais de microscopia e necessidades de fluxo de trabalho.
Gerentes de Soluções de ME experientes também estarão disponíveis para responder a perguntas técnicas e ajudar os pesquisadores a explorar soluções de microscopia adequadas para seus laboratórios.
Data: 9 de outubro de 2026 Local: Michigan Technological University, Houghton, Michigan, EUA
SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenho Microscópio O Microscópio SEM CIQTEK SEM3200 é um excelente Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) de Filamento de Tungstênio para uso geral, com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelente capacidade de expansão.
De alta velocidade Emissão de campo totalmente automatizada Microscópio Eletrônico de Varredura Estação de trabalho CIQTEK HEM6000 tecnologias de instalações como o canhão de elétrons de corrente de feixe grande de alto brilho, sistema de deflexão de feixe de elétrons de alta velocidade, desaceleração de estágio de amostra de alta tensão, eixo óptico dinâmico e lente objetiva combinada eletromagnética e eletrostática de imersão para obter aquisição de imagem em alta velocidade, garantindo resolução em nanoescala. O processo de operação automatizada foi projetado para aplicações como um fluxo de trabalho de geração de imagens de alta resolução em grandes áreas, mais eficiente e inteligente. Sua velocidade de geração de imagens é mais de cinco vezes mais rápida do que a de um microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (FESEM) convencional.
Ga + Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focalizado O Microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de amostras. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa voltagem, alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons facilitam um Ga + Fonte de íons metálicos líquidos com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.