A análise de falhas raramente começa com uma amostra perfeita.
No ISTFA 2026, o 52º Simpósio Internacional de Testes e Análise de Falhas, muitas das nossas conversas começaram com desafios do mundo real: defeitos ocultos, cortes transversais difíceis, contraste de material sutil e estruturas que exigem mais do que imagens de nível superficial.
De 4 a 8 de outubro em San Antonio, Texas, CIQTEK Equipe de Microscopia Eletrônica dos EUA reuniu-se com engenheiros de análise de falhas, pesquisadores de semicondutores e especialistas em microscopia no estande nº 317 para discutir SEM e FIB-SEMfluxos de trabalho práticos.
Da Imagem de Superfície à Análise de Defeitos Ocultos
As discussões no ISTFA cobriram uma ampla gama de aplicações, incluindo:
- Inspeção de dispositivos semicondutores e wafers
- Imagens de alta resolução em baixa voltagem (low-kV)
- Análise de defeitos superficiais e morfologia
- Análise de contraste de material e contaminação
- Corte transversal em locais específicos
- Caracterização de defeitos ocultos e interfaces
O SEM ajuda a revelar a morfologia da superfície, interfaces, partículas e contraste de material, enquanto o FIB-SEM estende a análise abaixo da superfície por meio de fresagem precisa e preparação de corte transversal direcionado.
A CIQTEK também apresentou suas soluções de microscopia eletrônica, incluindo a Série SEM5000 e o FIB-SEM DB550, para análise de falhas em semicondutores e caracterização avançada de materiais.
Conversas Valiosas no Estande nº 317
Além das especificações dos instrumentos, muitas discussões focaram em necessidades reais de laboratório, como tipo de amostra, condições de imagem, configuração do detector, eficiência do fluxo de trabalho e qualidade do corte transversal.
Essas conversas deram à nossa equipe uma visão valiosa sobre os desafios enfrentados pelos laboratórios de semicondutores e de análise de falhas nos EUA.
Obrigado a todos que visitaram nosso estande e compartilharam suas aplicações e ideias conosco.
Estamos ansiosos para continuar a conversa e apoiar mais laboratórios com soluções práticas de microscopia eletrônica para análise de falhas e caracterização de defeitos.
