CIQTEK participará da ISTFA 2026 nos EUA com soluções de microscopia eletrônica para análise de falhas

CIQTEK participará do ISTFA 2026, o 52º Simpósio Internacional de Testes e Análise de Falhas, que ocorrerá de 4 a 8 de outubro em San Antonio, Texas.

Visite-nos no Estande nº 317 para explorar as soluções de SEM e FIB-SEM da CIQTEK para análise de falhas em semicondutores, caracterização de defeitos e microscopia eletrônica avançada. Nossa Equipe de Microscopia Eletrônica dos EUA, incluindo experientes Gerentes de Soluções de ME, estará no local para discutir suas aplicações e ajudar a identificar as soluções de microscopia certas para o seu laboratório.

Conheça a Comunidade de Análise de Falhas no ISTFA 2026

Organizado pela ASM International, o ISTFA é um evento internacional líder para testes e análise de falhas em microeletrônica, reunindo engenheiros, pesquisadores, profissionais de laboratório e fornecedores de tecnologia da indústria de semicondutores.

A conferência foca em desafios do mundo real em análise de falhas, caracterização de dispositivos, microscopia, localização de defeitos, confiabilidade e tecnologias relacionadas.

SEM para Análise de Falhas em Semicondutores

À medida que os dispositivos semicondutores se tornam menores e mais complexos, a análise de falhas requer imagens de alta resolução e informações confiáveis de estruturas cada vez mais finas.

A CIQTEK oferece uma gama de microscópios eletrônicos de varredura por emissão de campo, incluindo os SEM5000X, SEM5000 e SEM4000Pro, para caracterização de semicondutores e materiais avançados.

Nossas soluções de SEM podem suportar aplicações como:

• Inspeção de dispositivos semicondutores e wafers
• Análise de defeitos superficiais e morfologia
• Imagens de alta resolução em baixa voltagem (low-kV)
• Imagens de BSE para contraste de material
• Análise de partículas e contaminação
• Caracterização de componentes eletrônicos e embalagens

A imagem de SEM em baixa voltagem (low-kV) é especialmente valiosa ao examinar estruturas superficiais finas e características sensíveis. Combinada com opções flexíveis de detectores e imagens de BSE, ela ajuda os pesquisadores a obter informações estruturais e de material de amostras complexas.

Vá mais fundo com FIB-SEM

Nem toda falha pode ser compreendida a partir da superfície.

Para defeitos ocultos, interfaces e estruturas internas, o FIB-SEM combina processamento por feixe de íons focalizado com imagens de SEM de alta resolução, permitindo a preparação e análise de cortes transversais direcionados dentro do mesmo sistema.

Os sistemas DB550 FIB-SEM da CIQTEK suportam aplicações incluindo corte transversal em locais específicos, investigação de defeitos internos, análise de estruturas multicamadas, caracterização de interfaces e preparação avançada de amostras.

Isso oferece às equipes de análise de falhas uma maneira poderosa de passar da localização de um problema para a investigação do que está acontecendo abaixo da superfície.

Fale com a nossa equipe de ME dos EUA no estande nº 317

Escolher o microscópio eletrônico certo não se resume apenas a especificações. O tipo de amostra, os requisitos de imagem, o rendimento, o fluxo de trabalho, a capacidade da câmara, os detectores e as aplicações futuras, tudo isso importa.

É por isso que a nossa equipe de Microscopia Eletrônica dos EUA estará presente na ISTFA 2026, com Gerentes de Soluções de ME experientes disponíveis para responder a perguntas técnicas e discutir suas aplicações específicas.

Esteja você trabalhando com análise de falhas em semicondutores, inspeção de wafers, imagem de baixa voltagem (low-kV), contraste de materiais, análise de seção transversal ou fluxos de trabalho FIB-SEM, teremos o prazer de conversar.

Data: 4 a 8 de outubro de 2026
Local: San Antonio, Texas, EUA
Estande da CIQTEK: nº 317

Passe no estande nº 317 e conheça a equipe de ME da CIQTEK nos EUA. Nos vemos na ISTFA 2026!