CIQTEK apresentará Volume EM de alta velocidade no Fórum de Tecnologia vEM 2026
CIQTEK apresentará Volume EM de alta velocidade no Fórum de Tecnologia vEM 2026
September 28, 2026
CIQTEK participará do 2026 vEM Technology Forum na Universidade de Pequim em Pequim, apresentando nossas mais recentes soluções de Microscopia Eletrônica de Volume (Volume EM).
Os visitantes podem encontrar a equipe da CIQTEK em nosso estande para explorar como MEV de alta velocidade, imagem de alta resolução em baixa voltagem (kV), aquisição automatizada de grandes áreas e reconstrução 3D podem ajudar os pesquisadores a lidar com conjuntos de dados de microscopia de volume cada vez maiores e mais complexos.
Apresentação de Pôster da CIQTEK
No fórum, Xin Ren (Luke), Gerente Sênior de Soluções de Microscopia Eletrônica da CIQTEK, apresentará nosso trabalho mais recente sobre MEV de alta velocidade para Volume EM em larga escala.
Título do Pôster: Desbloqueando o Poder da Microscopia Eletrônica de Varredura de Alta Velocidade Única sem Comprometer a Excelente Resolução de Imagem em Baixa Voltagem (kV) para Aplicações de Microscopia de Volume em Larga Escala da CIQTEK
O pôster explorará como o HEM6000 combina alta velocidade de imagem, forte resolução em baixa voltagem (kV), imagem de grande área e automação inteligente para apoiar fluxos de trabalho de Volume EM em larga escala.
Encontre a CIQTEK em Pequim
O 2026 vEM Technology Forum reúne pesquisadores e especialistas em microscopia para trocar ideias sobre tecnologias de Volume EM, fluxos de trabalho, automação, imagem em larga escala, processamento de dados e aplicações emergentes.
Estamos ansiosos para conhecer a comunidade de vEM, compartilhar nossos desenvolvimentos mais recentes e ouvir sobre os desafios reais de imagem nos quais os pesquisadores estão trabalhando.
Visite o estande da CIQTEK, conheça nossa equipe de ME e descubra o que a Volume EM de alta velocidade pode trazer para sua pesquisa.
Data: 11 a 15 de outubro de 2026 Localização: Universidade de Pequim, Pequim, China
De alta velocidade Emissão de campo totalmente automatizada Microscópio Eletrônico de Varredura Estação de trabalho CIQTEK HEM6000 tecnologias de instalações como o canhão de elétrons de corrente de feixe grande de alto brilho, sistema de deflexão de feixe de elétrons de alta velocidade, desaceleração de estágio de amostra de alta tensão, eixo óptico dinâmico e lente objetiva combinada eletromagnética e eletrostática de imersão para obter aquisição de imagem em alta velocidade, garantindo resolução em nanoescala. O processo de operação automatizada foi projetado para aplicações como um fluxo de trabalho de geração de imagens de alta resolução em grandes áreas, mais eficiente e inteligente. Sua velocidade de geração de imagens é mais de cinco vezes mais rápida do que a de um microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (FESEM) convencional.