CIQTEK na Conferência da Sociedade Egípcia de Microscopia Eletrônica de 2025
CIQTEK na Conferência da Sociedade Egípcia de Microscopia Eletrônica de 2025
August 19, 2025
C
e,
CIQTEK,
estão satisfeitos em
convidamos você para a Conferência de Microscopia Eletrônica 2025,
mantido
de 13 a 15 de outubro de 2025, no Centro de Pesquisa Theodor Bilharz
Instituto,
Egito.
O tema da conferência deste ano é: “A importância da
Microscopia Eletrônica na Iluminação do Invisível". Ela reflete a
profundo impacto que a microscopia eletrônica continua a ter
em diversas disciplinas científicas, da biologia aos materiais
ciência.
Ao longo dos três dias da conferência, teremos a
oportunidade de participar de tutoriais aprofundados, sessões principais,
e explorar os últimos avanços tecnológicos no
campo de
Microscópios Eletrônicos
.
Ele vai
seguem um formato híbrido, permitindo participantes de todo o mundo
o mundo para se juntar a nós pessoalmente e virtualmente, garantindo uma
experiência inclusiva e acessível para todos.
Encontre-nos em
ESEM
Data:
13 de outubro
- 15
, 2025
Localização
:
Pesquisa Theodor Bilharz
Instituto,
Egito
Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focados em Ga+ O Microscópio Eletrônico de Varredura de Feixe Iônico Focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de espécimes. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa tensão e alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons proporcionam uma fonte de íons metálicos líquidos de Ga+ com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.
SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenho Microscópio O Microscópio SEM CIQTEK SEM3200 é um excelente Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) de Filamento de Tungstênio para uso geral, com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelente capacidade de expansão.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.