As soluções CIQTEK SEM foram destacadas no 2º Dia da Microscopia Eletrônica do IESMAT, na Espanha.
As soluções CIQTEK SEM foram destacadas no 2º Dia da Microscopia Eletrônica do IESMAT, na Espanha.
November 10, 2025
O
2º Dia da Microscopia Eletrônica do IESMAT
O evento foi realizado com sucesso em 6 de novembro de 2025, em Madri, Espanha, reunindo dezenas de especialistas em microscopia, pesquisadores e profissionais de diversas áreas.
Espanha e Portugal
O evento serviu como uma plataforma valiosa para compartilhar conhecimento, explorar as mais recentes tecnologias de microscopia e fortalecer os laços dentro da comunidade ibérica de microscopia.
Como
Parceiro oficial da CIQTEK em Espanha e Portugal
,
IESMAT
Oferece suporte local e serviço profissional para soluções de microscopia eletrônica da CIQTEK na região. Este ano, o evento também foi reconhecido por
Sociedade Portuguesa de Microscopia
, ampliando ainda mais seu alcance e influência nas comunidades científica e industrial.
Durante a reunião, a IESMAT apresentou uma introdução detalhada a
Portfólio de produtos de microscopia eletrônica da CIQTEK
, destacando recursos avançados e vantagens de aplicação do
Série CIQTEK SEM
. Um
demonstração ao vivo usando o
Filamento de tungstênio CIQTEK SEM3200
A sessão prática permitiu que os participantes experimentassem em primeira mão os recursos de imagem de alta resolução e a operação intuitiva do equipamento. A atividade gerou discussões animadas, com muitos participantes interagindo diretamente com os especialistas da IESMAT para obter informações técnicas e orientações práticas.
IESMAT demonstrando o CIQTEK SEM3200
O evento também contou com uma série de apresentações técnicas e debates abertos sobre aplicações da microscopia em ciência dos materiais, nanotecnologia e ciências da vida, refletindo o crescente interesse e a demanda por ferramentas de microscopia de alto desempenho e fáceis de usar no mercado ibérico.
Olhando para o futuro, a CIQTEK e a IESMAT continuarão a aprofundar sua colaboração para fornecer
tecnologias de microscopia eletrônica de ponta
,
suporte completo ao cliente
, e
oportunidades de treinamento
para pesquisadores e laboratórios na Espanha e em Portugal. Juntos, eles visam impulsionar a descoberta científica e a inovação por meio de instrumentação acessível e de alta qualidade.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.
SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenho Microscópio O Microscópio SEM CIQTEK SEM3200 é um excelente Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) de Filamento de Tungstênio para uso geral, com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelente capacidade de expansão.
Ga + Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focalizado O Microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de amostras. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa voltagem, alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons facilitam um Ga + Fonte de íons metálicos líquidos com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.