Demonstração Prática CIQTEK FIB SEM - Preparação de Amostras Nano Micropilares

Demonstração prática CIQTEK FIB-SEM

Microscópio eletrônico de varredura por feixe de íons focado (FIB-SEM) são essenciais para diversas aplicações, como diagnóstico de defeitos, reparo, implantação de íons, processamento in-situ, reparo de máscara, gravação, modificação de projeto de circuito integrado, fabricação de dispositivos de chip , processamento sem máscara, fabricação de nanoestruturas, nanopadrões complexos, imagens tridimensionais e análise de materiais, análise de superfície ultrassensível, modificação de superfície e preparação de amostras para microscopia eletrônica de transmissão.

CIQTEK lançou o FIB-SEM DB550, que apresenta um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo (FE-SEM) controlável de forma independente com feixe de íons focado ( FIB) Colunas. É uma ferramenta elegante e versátil de análise em nanoescala e preparação de amostras, que adota tecnologia de óptica eletrônica “SuperTunnel”, baixa aberração e design objetivo não magnético com baixa tensão e capacidade de alta resolução para garantir a análise em nanoescala. A coluna de íons facilita uma fonte de íons metálicos líquidos Ga+ com um feixe de íons altamente estável e de alta qualidade para garantir capacidade de nanofabricação. O DB550 possui um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás, mecanismo elétrico anticontaminação para a lente objetiva e software GUI fácil de usar, facilitando uma estação de trabalho completa de análise e fabricação em nanoescala.

Para mostrar o excelente desempenho do DB550, CIQTEK planejou um evento especial chamado "Demonstração Prática CIQTEK FIB-SEM." Este O programa apresentará vídeos que demonstram as amplas aplicações deste equipamento de ponta em áreas como ciência de materiais, indústria de semicondutores e pesquisa biomédica. Os espectadores compreenderão os princípios de funcionamento do DB550, aprecie suas impressionantes imagens em microescala e explore as implicações significativas desta tecnologia para a pesquisa científica e o desenvolvimento industrial.

Preparação da amostra Nano-Micropilar S

A preparação de amostra Snanomicropilar foi alcançada com sucesso, demonstrando os poderosos recursos do CIQTEK Microscópio Eletrônico de Varredura com Feixe de Íons Focado em processamento e análise em nanoescala. O desempenho do produto fornece suporte de teste preciso, eficiente e multimodal para clientes envolvidos em testes nanomecânicos, facilitando avanços na pesquisa de materiais.