Demonstração prática CIQTEK FIB-SEM - Preparação de amostra de transmissão de aço ferrita-martensita

Demonstração prática CIQTEK FIB-SEM

Microscópio eletrônico de varredura por feixe de íons focado (FIB-SEM) são essenciais para diversas aplicações, como diagnóstico de defeitos, reparo, implantação de íons, processamento in-situ, reparo de máscara, gravação, modificação de projeto de circuito integrado, fabricação de dispositivos de chip, processamento sem máscara, fabricação de nanoestruturas, nanopadrões complexos, imagens tridimensionais e análise de materiais, análise de superfície ultra-sensível, modificação de superfície e preparação de amostras para microscopia eletrônica de transmissão.

CIQTEK lançou o FIB-SEM DB550, que apresenta um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo (FE-SEM) controlável de forma independente com foco Colunas de feixe de íons (FIB). É uma ferramenta elegante e versátil de análise em nanoescala e preparação de amostras, que adota a tecnologia de óptica eletrônica “SuperTunnel”, baixa aberração e não- design de objetivo magnético com baixa tensão e capacidade de alta resolução para garantir a análise em nanoescala. A coluna de íons facilita uma fonte de íons metálicos líquidos Ga+ com um feixe de íons altamente estável e de alta qualidade para garantir capacidade de nanofabricação. O DB550 possui um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás, mecanismo elétrico anticontaminação para a lente objetiva e software GUI fácil de usar, que facilita um análise e fabricação em nanoescala tudo-em-um estação de trabalho.

Para mostrar o excelente desempenho do DB550, a CIQTEK planejou um evento especial chamado "Demonstração Prática CIQTEK FIB-SEM." Este programa apresentará vídeos demonstrando as amplas aplicações deste equipamento de ponta em campos como ciência dos materiais, indústria de semicondutores e pesquisa biomédica. Os espectadores compreenderão os princípios de funcionamento do DB550, apreciarão suas impressionantes imagens em microescala e explorarão as implicações significativas desta tecnologia para a pesquisa científica e o desenvolvimento industrial.

Preparação de uma amostra de transmissão de aço ferrita-martensita

O FIB-SEM DB550 desenvolvido pela CIQTEK possui a capacidade de preparar amostras de transmissão de aço ferrita-martensita perfeitamente. Essa capacidade permite que pesquisadores no domínio da nanoescala observem diretamente as características da interface, a morfologia microestrutural e o processo de evolução das fases de ferrita e martensita. Essas observações são passos cruciais para aprofundar a compreensão da relação entre cinética de transformação de fase, organização microestrutural e propriedades mecânicas do aço ferrite-martens.