CIQTEK na Reunião Anual de Primavera da MMMS de 2026 em Illinois, EUA.
CIQTEK na Reunião Anual de Primavera da MMMS de 2026 em Illinois, EUA.
February 11, 2026
27 de março de 2026 – Evanston, Illinois, EUA
CIQTEK
está animado para se juntar ao
Reunião anual de primavera da Sociedade de Microscopia e Microanálise do Meio-Oeste (MMMS)
sobre
27 de março de 2026
, hospedado em
Universidade Northwestern em Evanston, Illinois
Este encontro é um evento imperdível para pesquisadores, microscopistas e profissionais da indústria em todo o Centro-Oeste, proporcionando uma plataforma para compartilhar as últimas novidades em microscopia eletrônica, microanálise e técnicas de laboratório de ponta.
Conheça a equipe de Microscopia Eletrônica da CIQTEK nos EUA
Nossa equipe local nos EUA estará presente para receber os participantes, discutir desafios reais de laboratório e compartilhar informações sobre a CIQTEK.
linha completa de soluções para microscopia eletrônica
. De
Desde microscopias eletrônicas de varredura (MEV) de rotina até sistemas avançados de emissão de campo.
A CIQTEK projeta instrumentos que oferecem
Imagens confiáveis, alto desempenho e usabilidade prática.
Para laboratórios acadêmicos, industriais e de pesquisa.
O Encontro de Primavera da MMMS é mais do que uma conferência; é uma oportunidade de ver as tecnologias mais recentes em ação, trocar ideias com colegas e explorar ferramentas que podem tornar o trabalho diário em laboratório mais fácil e eficiente. A CIQTEK orgulha-se de fazer parte desta vibrante comunidade de microscopia, apoiando a inovação e soluções práticas para pesquisadores em todo o Centro-Oeste americano.
Venha nos encontrar em Evanston no dia 27 de março!
Explore nossa linha de microscópios eletrônicos de varredura (MEV), converse com nossa equipe e descubra como os instrumentos da CIQTEK podem atender às suas necessidades de microscopia e microanálise.
Ga + Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focalizado O Microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de amostras. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa voltagem, alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons facilitam um Ga + Fonte de íons metálicos líquidos com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.