CIQTEK at the 2026 MMMS Annual Spring Meeting in Illinois, USA
CIQTEK at the 2026 MMMS Annual Spring Meeting in Illinois, USA
February 11, 2026
March 27, 2026 – Evanston, Illinois, USA
CIQTEK is excited to join the Annual Spring Meeting of the Midwest Microscopy and Microanalysis Society (MMMS) on March 27, 2026, hosted at Northwestern University in Evanston, Illinois. This gathering is a must-attend event for researchers, microscopists, and industry professionals across the Midwest, providing a platform to share the latest in electron microscopy, microanalysis, and cutting-edge lab techniques.
Meet CIQTEK's Electron Microscopy USA Team
Our US local team will be on-site to meet attendees, discuss real-world lab challenges, and share insights into CIQTEK's full line of electron microscopy solutions. From routine SEMs to advanced field-emission systems, CIQTEK designs instruments that deliver reliable imaging, high performance, and practical usability for academic, industrial, and research labs.
The MMMS Spring Meeting is more than a conference; it’s a chance to see the latest technology in action, exchange ideas with peers, and explore tools that can make everyday lab work easier and more efficient. CIQTEK is proud to be part of this vibrant microscopy community, supporting innovation and practical solutions for researchers across the Midwest.
Come meet us in Evanston on March 27!
Explore our SEM lineup, chat with our team, and discover how CIQTEK instruments can support your microscopy and microanalysis needs.
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.
Ga + Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focalizado O Microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de amostras. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa voltagem, alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons facilitam um Ga + Fonte de íons metálicos líquidos com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.