CIQTEK e USTC comemoram um ano de colaboração no Laboratório Conjunto de Microscopia Eletrônica In Situ de Alta Tecnologia.
CIQTEK e USTC comemoram um ano de colaboração no Laboratório Conjunto de Microscopia Eletrônica In Situ de Alta Tecnologia.
December 30, 2025
Instrumentos avançados por si só não impulsionam descobertas científicas. O verdadeiro progresso acontece quando a tecnologia e os pesquisadores trabalham em estreita colaboração.
Um ano após o lançamento do
Laboratório Conjunto de Microscopia Eletrônica In Situ de Alta Tecnologia
, a colaboração entre o Centro Experimental de Engenharia e Ciência dos Materiais e
CIQTEK
demonstrou como uma mentalidade de inovação compartilhada pode desbloquear novas possibilidades em
pesquisa de materiais in situ, micro e nanofabricação e estudos relacionados à mecânica
.
"Escolher a CIQTEK nunca foi apenas uma questão de comprar um instrumento", diz o Professor Ming Gong, Vice-Diretor do Centro Experimental de Engenharia e Ciência dos Materiais. "Escolhemos um parceiro que pudesse trabalhar conosco para explorar e solucionar desafios científicos de vanguarda."
Uma plataforma central de pesquisa impulsionada pela microscopia eletrônica in situ.
O Centro Experimental de Engenharia e Ciência dos Materiais é uma das seis plataformas experimentais públicas de nível universitário da Universidade de Ciência e Tecnologia da China. Ele oferece suporte a uma ampla gama de disciplinas, incluindo mecânica, engenharia mecânica, instrumentação e termofísica aplicada à engenharia.
O centro desempenha um papel fundamental no avanço da pesquisa sobre o comportamento mecânico de materiais, sistemas fluidos complexos, medição de precisão, fabricação de micro e nanodispositivos e materiais para energias renováveis. Ao combinar acesso aberto com serviços analíticos profissionais, ele possibilita a colaboração interdisciplinar e conecta a pesquisa acadêmica com as necessidades reais da indústria.
Dentro desse contexto,
microscopia eletrônica in situ
tornou-se uma capacidade essencial. Permite aos pesquisadores observar diretamente as mudanças estruturais e funcionais dos materiais em condições reais, fornecendo informações que os métodos tradicionais de pós-análise não conseguem oferecer.
À medida que a pesquisa em ciência dos materiais avança em direção a escalas de comprimento menores e processos mais dinâmicos, os métodos tradicionais de preparação de amostras já não são suficientes. Os estudos modernos exigem cada vez mais
Preparação específica do local, observação in situ e reconstrução tridimensional.
em escala micro e nano.
Para atender a essas demandas, o centro introduziu um
Microscópio eletrônico de feixe duplo FIB-SEM
, fornecido por
CIQTEK
Essa instrumentação científica avançada permite a micro e nanofabricação precisas, mantendo ao mesmo tempo um alto desempenho de imagem, tornando-se uma ferramenta essencial para pesquisas de ponta.
"Nosso objetivo era muito claro", explica o Professor Gong. "Queríamos proporcionar condições experimentais avançadas que apoiassem avanços na ciência e engenharia de ponta, ao mesmo tempo que oferecíamos uma base técnica sólida para a futura inovação industrial."
CIQTEK FIBSEM no Laboratório Conjunto de Microscopia Eletrônica In Situ de Alta Resolução
Escolhendo a CIQTEK: Tecnologia, Confiabilidade e Colaboração
Durante o processo de seleção dos instrumentos, o centro concentrou-se em três fatores principais:
Estabilidade do sistema, precisão de desempenho e suporte técnico a longo prazo.
.
"As especificações principais de
FIB-SEM da CIQTEK
"Já estão em pé de igualdade com os sistemas líderes mundiais", diz o Professor Gong. "Isso nos deu confiança desde o início. O que realmente nos convenceu, no entanto, foi a abertura da CIQTEK à colaboração."
A CIQTEK trabalhou em estreita colaboração com os pesquisadores para entender as reais necessidades experimentais, oferecendo suporte flexível no desenvolvimento de aplicações e na compatibilidade de software. Essa abordagem transformou o...
microscópio eletrônico de feixe duplo
em uma plataforma que pudesse evoluir continuamente com a pesquisa em andamento, em vez de permanecer com uma configuração fixa.
Mais do que equipamentos: um parceiro de pesquisa de longo prazo
Após mais de um ano de operação diária, o CIQTEK
Microscópio eletrônico de feixe duplo FIB-SEM
Demonstrou ser estável e confiável em condições de pesquisa de alta intensidade.
"A experiência geral superou nossas expectativas", afirma Yu Bai, engenheiro do Centro Experimental de Engenharia e Ciência dos Materiais. "O sistema apresenta um desempenho consistentemente bom tanto na microfabricação quanto na nanofabricação e na obtenção de imagens de alta resolução, o que é essencial para nossa pesquisa de materiais in situ."
Igualmente importante, a CIQTEK continua a acompanhar o feedback dos usuários e a traduzir os desafios da pesquisa em orientações concretas de otimização e atualização. Essa interação contínua garante que o instrumento permaneça alinhado com as necessidades experimentais em constante evolução.
Resposta rápida a desafios experimentais não convencionais
Um exemplo ilustra claramente o valor dessa colaboração. Durante um projeto que ultrapassou os cenários de aplicação padrão do sistema, a equipe de pesquisa deparou-se com um gargalo técnico crítico.
"Os engenheiros de aplicação da CIQTEK chegaram ao local imediatamente", lembra Bai. "Eles trabalharam conosco para aprimorar a abordagem experimental e entregaram rapidamente uma atualização de software personalizada."
Essa resposta rápida permitiu que a equipe concluísse o experimento com sucesso e demonstrou como
colaboração universidade-indústria
pode acelerar diretamente o progresso científico.
"Naquele momento, sentimos verdadeiramente o que significa ter um parceiro", acrescenta Bai. "Não apenas um fornecedor de equipamentos, mas uma equipe que permanece conosco durante todo o processo de inovação."
Olhando para o futuro: Avançando juntos na pesquisa de materiais in situ
A colaboração entre o Centro Experimental de Engenharia e Ciência dos Materiais e o CIQTEK oferece um exemplo claro de como instrumentação científica avançada e estreita cooperação podem apoiar a inovação independente.
Como o
Laboratório Conjunto de Microscopia Eletrônica In Situ de Alta Tecnologia
À medida que o desenvolvimento continua, ambas as partes se concentrarão ainda mais em
Pesquisa de materiais in situ relacionada à mecânica, micro e nanofabricação e metodologias experimentais avançadas.
Por meio da colaboração contínua, eles visam fornecer um forte suporte técnico para pesquisas de alto nível e futuros avanços científicos.
Ga + Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focalizado O Microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de amostras. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa voltagem, alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons facilitam um Ga + Fonte de íons metálicos líquidos com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.