CIQTEK e SciMed encerram presença de sucesso na MMC 2025
CIQTEK e SciMed encerram presença de sucesso na MMC 2025
July 07, 2025
CIQTEK
tem o prazer de anunciar a conclusão bem-sucedida de nossa participação no
Congresso de Microscopia de Microciências (MMC) 2025
, realizado de 1 a 3 de julho em Manchester, Reino Unido. Como um dos maiores e mais influentes eventos dedicados à microscopia na Europa, o MMC reuniu pesquisadores líderes, fabricantes de instrumentos e inovadores de todo o mundo.
Sobre a MMC:
O Microscience Microscopy Congress é uma das principais conferências de microscopia da Europa, organizada pela Royal Microscopical Society. Apresenta uma exposição vibrante, sessões de conferências internacionais e workshops práticos, atraindo milhares de profissionais em imagem e análise.
Este ano, a CIQTEK uniu forças com nosso valioso parceiro do Reino Unido, SciMed Ltd., para expor em um estande compartilhado, apresentando nosso
Microscópio Eletrônico de Varredura de Filamento de Tungstênio SEM3200
,
uma solução econômica e de alto desempenho para análise de imagens e materiais de rotina.
Ao longo dos três dias do evento, tivemos o prazer de interagir com pesquisadores, engenheiros e entusiastas da microscopia do meio acadêmico e da indústria. Os visitantes tiveram a oportunidade de assistir a demonstrações ao vivo, discutir as necessidades de aplicação e explorar como
Tecnologia SEM da CIQTEK
podem dar suporte ao seu trabalho com desempenho de imagem confiável, operação fácil de usar e preços acessíveis.
Além do nosso estande conjunto com a SciMed, temos orgulho de ter outro CIQTEK
Filamento de tungstênio SEM3200 SEM
em destaque no estande da Bruker. Agradecemos sinceramente à Bruker pela colaboração e por fornecer esta plataforma para apresentar nossa tecnologia a um público mais amplo, permitindo que os visitantes vejam em primeira mão a poderosa integração do SEM da CIQTEK com as soluções analíticas avançadas da Bruker.
Agradecemos de coração a todos que visitaram nosso estande e compartilharam feedback valioso. Um agradecimento especial à SciMed pelo forte apoio e colaboração ininterrupta antes e durante o evento. Estamos ansiosos para aprofundar nossa parceria e continuar a servir a comunidade de microscopia do Reino Unido juntos.
De alta velocidade Emissão de campo totalmente automatizada Microscópio Eletrônico de Varredura Estação de trabalho CIQTEK HEM6000 tecnologias de instalações como o canhão de elétrons de corrente de feixe grande de alto brilho, sistema de deflexão de feixe de elétrons de alta velocidade, desaceleração de estágio de amostra de alta tensão, eixo óptico dinâmico e lente objetiva combinada eletromagnética e eletrostática de imersão para obter aquisição de imagem em alta velocidade, garantindo resolução em nanoescala. O processo de operação automatizada foi projetado para aplicações como um fluxo de trabalho de geração de imagens de alta resolução em grandes áreas, mais eficiente e inteligente. Sua velocidade de geração de imagens é mais de cinco vezes mais rápida do que a de um microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (FESEM) convencional.
Ultra Alta Resolução Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio O CIQTEK SEM3300 Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons em lentes e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias ao microscópio de filamento de tungstênio, o antigo limite de resolução desse tipo de microscópio eletrônico de varredura (MEV) é superado, permitindo que o MEV de filamento de tungstênio realize tarefas de análise de baixa voltagem, antes possíveis apenas com MEVs de emissão de campo.
Microscópio eletrônico de transmissão de emissão de campo de 120kV (TEM) 1. Espaços de trabalho divididos: Os usuários operam o TEM em uma sala dividida com conforto, reduzindo a interferência ambiental no TEM. 2. Alta eficiência operacional: O software designado integra processos altamente automatizados, permitindo interação eficiente de TEM com monitoramento em tempo real. 3. Experiência Operacional Atualizada: Equipado com um canhão de elétrons de emissão de campo com um sistema altamente automatizado. 4. Alta capacidade de expansão: Existem interfaces suficientes reservadas para os usuários atualizarem para uma configuração superior, que atende a diversos requisitos de aplicação.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.