Celebrando a instalação bem -sucedida do CIQTEK SEM5000X no GSEM na Coréia
Celebrando a instalação bem -sucedida do CIQTEK SEM5000X no GSEM na Coréia
February 26, 2025
Celebrando a instalação bem -sucedida do CIQTEK SEM5000X no GSEM na Coréia
Esta conquista marca um marco significativo na colaboração entre CIQTEK e GSEM, permitindo que os pesquisadores experimentem o melhor do mundo Emissão de campo Microscópio eletrônico de varredura(Fe-SEM) recursos
CIQTEK tem orgulho de anunciar a integração de seu SEM3200, Fesem SEM4000PRO, e Fesem SEM5000XModelos no GSEM, permitindo que os pesquisadores explorem uma ampla gama de aplicações de imagem e análise Esses sistemas SEM avançados oferecem desempenho incomparável, fornecendo imagens de alta resolução, análise elementar e caracterização da superfície
Com a instalação de CIQTEK Fesem Sem5000x, pesquisadores e engenheiros agora têm acesso a recursos SEM de classe mundial, abrindo novas fronteiras em pesquisa científica A CIQTEK espera uma cooperação contínua com o GSEM, que impulsionará os avanços da microscopia e contribuirá para o progresso do conhecimento científico.
Analítico Schottky Microscópio Eletrônico de Varredura de Emissão de Campo (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro É um modelo analítico FE-SEM equipado com um canhão de elétrons de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida útil. Seu design de lente eletromagnética de três estágios oferece vantagens significativas em aplicações analíticas como EDS/EDX, EBSD, WDS e outras. O modelo vem de fábrica com um modo de baixo vácuo e um detector de elétrons secundários de baixo vácuo de alto desempenho, bem como um detector de elétrons retrodispersos retrátil, o que beneficia a observação de espécimes pouco condutivos ou não condutivos.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.
SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenho Microscópio O Microscópio SEM CIQTEK SEM3200 é um excelente Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) de Filamento de Tungstênio para uso geral, com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelentes capacidades de expansão.