Celebrando a instalação bem -sucedida do CIQTEK SEM5000X no GSEM na Coréia

Microscópio Eletrônico de Varredura de Emissão de Campo Analítico (FESEM) com Grande Feixe I CIQTEK SEM4000Pro é um modelo analítico de FE-SEM, equipado com um canhão de elétrons de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida. O design da lente eletromagnética de 3 estágios oferece vantagens significativas em aplicações analíticas como EDS/EDX, EBSD, WDS e muito mais. Ele vem de fábrica com um modo de baixo vácuo e detector de elétrons secundários de baixo vácuo de alto desempenho, bem como um detector de elétrons retroespalhados retrátil, que beneficia a observação de amostras pouco condutoras ou não condutoras.

Microscopia eletrônica de varredura de emissão de campo de resolução ultra-alta (Feseem)O CIQTEK SEM5000X é um fesem de resolução ultra-alta com design de coluna óptica de elétrons otimizada, reduzindo as aberrações gerais em 30%, alcançando uma resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa avançada de materiais nanoestruturais, bem como no desenvolvimento e fabricação de chips de IC semicondutores de nó de alta tecnologia.

SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenhoMicroscópio OMicroscópio SEM CIQTEK SEM3200é um excelente Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) de Filamento de Tungstênio para uso geral, com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelentes capacidades de expansão.