O que é SEM EDS EDX?

Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) é uma técnica de microscopia que usa um feixe de elétrons focado para criar imagens detalhadas da superfície de uma amostra. O feixe de elétrons varre a amostra em um padrão raster, e os sinais resultantes gerados pelas interações entre o feixe de elétrons e a superfície da amostra são detectados e usados ​​para formar uma imagem. SEM fornece imagens de superfície tridimensionais de alta resolução e é amplamente utilizado em vários campos, incluindo caracterização de materiais, nanotecnologia e pesquisa biológica.

Espectroscopia de raios X por dispersão de energia (EDS): EDS é uma técnica analítica frequentemente usada com SEM. Ele detecta raios X característicos emitidos por uma amostra quando ela é bombardeada com um feixe de elétrons. A energia e a intensidade desses raios X fornecem informações sobre a composição elementar da amostra. SEM EDS permite a identificação e quantificação de elementos presentes na amostra, oferecendo informações valiosas sobre sua composição elementar e caracterização química.

Análise de raios X por dispersão de energia (EDX): EDX é outro termo para EDS e refere-se à análise e investigação de amostras usando espectroscopia de raios X por dispersão de energia. Envolve a detecção e análise dos raios X emitidos por uma amostra, que carrega informações sobre os elementos presentes e suas concentrações. SEM EDX é uma ferramenta poderosa para análise elementar qualitativa e quantitativa, identificando oligoelementos e mapeando a distribuição elementar em uma amostra.

A combinação de SEM e EDS/EDX oferece diversas vantagens e aplicações:

1. Análise Elementar

SEM EDS/EDX permite análise elementar qualitativa e quantitativa de amostras. Ele pode identificar a composição química e a distribuição elementar dentro de um material, incluindo oligoelementos.

2. Caracterização de Materiais

Esta técnica é amplamente utilizada para caracterizar diversos materiais, como metais, minerais, polímeros, cerâmicas e amostras biológicas. Ajuda a determinar a composição elementar, a presença de impurezas e a identificação de fases ou compostos em uma amostra.

3. Análise de falhas

SEM EDS/EDX é valioso na investigação de falhas e defeitos relacionados a materiais. Ele pode identificar as causas das falhas analisando a composição elementar e identificando partículas estranhas ou contaminantes.

4. Análise Geológica

SEM EDS/EDX é amplamente utilizado em geologia para estudar a composição e estrutura de rochas, minerais e solo. Auxilia na identificação de minerais, no estudo de texturas rochosas e na análise de processos geológicos.

5. Ciência Forense

SEM EDS/EDX desempenha um papel crucial em investigações forenses, auxiliando na análise de vestígios de evidências, como fibras, resíduos de armas de fogo, lascas de tinta e fragmentos de vidro. Pode ajudar a identificar e comparar materiais encontrados na cena do crime.

No geral, EDS/EDX em SEM é uma ferramenta analítica poderosa que combina imagens e análise elementar. Ele encontra aplicações em vários campos, incluindo ciência dos materiais, geologia, ciência forense, análise ambiental, biologia e arqueologia.

Os microscópios SEM desenvolvidos pela CIQTEK  oferecem uma ampla gama de detectores de elétrons, comoBSED, STEM, EDS, EDX, EBSD, In-lens, ETD, etc.