FESEM de resolução ultra-alta | SEM5000X

Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo (FE-SEM) com colunas de feixe de íons focados (FIB) O microscópio eletrônico de varredura por feixe de íons focado CIQTEK DB500 (FIB-SEM) adota tecnologia de óptica eletrônica “SuperTunnel”, baixa aberração e design de objetivo não magnético com baixa tensão e capacidade de alta resolução para garantir a análise em nanoescala. A coluna de íons facilita uma fonte de íons metálicos líquidos Ga+ com um feixe de íons altamente estável e de alta qualidade para nanofabricação. FIB-SEM DB500 possui um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás, mecanismo elétrico anticontaminação para a lente objetiva e 24 portas de expansão, tornando-o uma plataforma versátil de nanoanálise e fabricação com configurações abrangentes e capacidade de expansão .

Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo analítico (FESEM) equipado com um canhão eletrônico de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida útil Com o projeto de coluna óptica eletrônica condensadora de três estágios para correntes de feixe de até 200 nA, o SEM4000Pro oferece vantagens em EDS, EBSD, WDS e outras aplicações analíticas. O sistema suporta o modo de baixo vácuo, bem como um detector de elétrons secundários de baixo vácuo de alto desempenho e um detector de elétrons retroespalhados retrátil, que pode ajudar a observar diretamente amostras pouco condutoras ou mesmo não condutoras. O modo de navegação óptica padrão e uma interface de operação do usuário intuitiva facilitam o trabalho de análise.

Microscópio SEM de filamento de tungstênio de alto desempenho com excelentes recursos de qualidade de imagem nos modos de alto e baixo vácuo O CIQTEK SEM3200 Microscópio SEM tem uma grande profundidade de campo com uma interface amigável para permitir que os usuários caracterizem amostras e explorem o mundo da imagem e análise microscópica.

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