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FESEM | SEM4000Pro

Analítico Schottky Microscópio Eletrônico de Varredura de Emissão de Campo (FESEM)

CIQTEK SEM4000Pro É um modelo analítico FE-SEM equipado com um canhão de elétrons de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida útil. Seu design de lente eletromagnética de três estágios oferece vantagens significativas em aplicações analíticas como EDS/EDX, EBSD, WDS e outras. O modelo vem de fábrica com um modo de baixo vácuo e um detector de elétrons secundários de baixo vácuo de alto desempenho, bem como um detector de elétrons retrodispersos retrátil, o que beneficia a observação de espécimes pouco condutivos ou não condutivos.

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▶ Óptica Eletrônica

sem4000pro Electron Optics

▶ Modo de baixo vácuo

No modo de baixo vácuo, é possível atingir uma faixa de 10 a 180 Pa sem uma abertura limitadora de pressão. A câmara de vácuo da lente objetiva especialmente projetada minimiza o caminho livre médio do elétron em condições de baixo vácuo e atinge uma resolução de 1,5 nm a 30 kV no modo de baixo vácuo.

A emissão secundária de elétrons da superfície da amostra ioniza moléculas de ar e, simultaneamente, gera elétrons, íons e fótons. Os elétrons gerados ionizam ainda mais outras moléculas de ar. O detector de elétrons secundários (LVD) de baixo vácuo captura uma grande quantidade de sinais de fótons produzidos nesse processo.

O feixe de elétrons incidente ioniza as moléculas de ar na superfície da amostra, gerando elétrons e íons. Esses íons neutralizam a carga da superfície, reduzindo assim o efeito de carga.

▶ Software de análise de partículas e poros (partículas) *Opcional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

O software CIQTEK SEM Microscope emprega vários algoritmos de detecção e segmentação de alvos, adequados para diferentes tipos de amostras de partículas e poros. Ele permite a análise quantitativa de estatísticas de partículas e poros e pode ser aplicado em áreas como ciência dos materiais, geologia e ciência ambiental.

▶ Software de pós-processamento de imagem *Opcional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Execute pós-processamento de imagens on-line ou off-line em imagens capturadas por microscópios eletrônicos e integre funções de processamento de imagens EM comumente usadas, medição conveniente e ferramentas de anotação.

▶ Medição automática *Opcional

SEM Microscope software Auto Measure

Reconhecimento automático de bordas de largura de linha, resultando em medições mais precisas e maior consistência. Suporta múltiplos modos de detecção de bordas, como Linha, Espaço, Passo, etc. Compatível com diversos formatos de imagem e equipado com diversas funções de pós-processamento de imagem comumente utilizadas. O software é fácil de usar, eficiente e preciso.

▶ Kit de Desenvolvimento de Software (SDK) *Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fornece um conjunto de interfaces para controlar o microscópio SEM, incluindo aquisição de imagens, configurações de condições operacionais, ligar/desligar, controle de platina, etc. Definições concisas de interface permitem o desenvolvimento rápido de scripts e softwares específicos para operação de microscópio eletrônico, permitindo o rastreamento automatizado de regiões de interesse, aquisição de dados para automação industrial, correção de desvio de imagem e outras funções. Pode ser usado para desenvolvimento de software em áreas especializadas, como análise de diatomáceas, inspeção de impurezas de aço, análise de limpeza, controle de matéria-prima, etc.

▶ AutoMap *Opcional

FESEM Microscope software Auto Measure

Especificações do microscópio CIQTEK SEM4000Pro FESEM
Óptica Eletrônica Resolução Alto vácuo

0,9 nm a 30 kV, SE

Baixo vácuo

2,5 nm a 30 kV, BSE, 30 Pa

1,5 nm a 30 kV, SE, 30 Pa

Tensão de aceleração 0,2 kV ~ 30 kV
Ampliação (Polaroid) 1 ~ 1.000.000 x
Tipo de arma de elétrons Canhão de elétrons de emissão de campo Schottky
Câmara de Amostras Baixo vácuo Máx. 180 Pa
Câmera Câmeras duplas (navegação óptica + monitoramento de câmara)
Alcance XY 110 milímetros
Faixa Z 65 milímetros
Faixa T -10° ~ +70°
Faixa R 360°
Detectores e extensões SEM Padrão

Detector Everhart-Thornley (ETD)

Detector de baixo vácuo (LVD)

Detector de elétrons retrodispersos (BSED)

Opcional

Detector retrátil de microscopia eletrônica de transmissão de varredura (STEM)

Espectrômetro de Energia Dispersiva (EDS / EDX)

Padrão de difração de retroespalhamento de elétrons (EBSD)

Trava de carga para troca de espécimes (4 polegadas / 8 polegadas)

Painel de controle de trackball e botão

Interface do usuário Linguagem Inglês
SO Windows
Navegação Navegação óptica, Navegação rápida por gestos, Trackball (opcional)
Funções Automáticas Brilho e contraste automáticos, foco automático, estigmatizador automático
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