A Synergie4 está atualmente apresentando os produtos de microscópio eletrônico da CIQTEK na E-MRS 2025, França
A Synergie4 está atualmente apresentando os produtos de microscópio eletrônico da CIQTEK na E-MRS 2025, França
May 28, 2025
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produtos no Encontro e Exposição E-MRS 2025. O evento acontecerá em Estrasburgo, França, de 26 a 30 de maio, com estande localizado no Estande 27.
A E-MRS conta atualmente com mais de 4.000 membros, oriundos da indústria, governo, academia e laboratórios de pesquisa. Seus encontros servem como plataforma para discussões sobre os mais recentes avanços tecnológicos em materiais funcionais. Diferentemente de muitas sociedades profissionais de disciplina única, a E-MRS promove a troca de informações entre cientistas, engenheiros e gestores de pesquisa em nível interdisciplinar.
Esta participação no Encontro e Exposição E-MRS 2025 não só apresenta
CIQTEK's
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elétron
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microscópio
produtos, mas também ressalta seu comprometimento em permanecer na vanguarda da ciência dos materiais e dos avanços em pesquisa.
A presença da Synergie4 neste prestigiado evento destaca o espírito colaborativo e a dedicação à excelência que a CIQTEK e seus parceiros incorporam em sua busca pelo avanço da ciência e tecnologia de materiais.
SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenho Microscópio O Microscópio SEM CIQTEK SEM3200 é um excelente Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) de Filamento de Tungstênio para uso geral, com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelentes capacidades de expansão.
Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo de Ultra-alta Resolução (FESEM) O CIQTEK SEM5000X É um FESEM de ultra-alta resolução com design otimizado de coluna de óptica eletrônica, reduzindo as aberrações gerais em 30% e alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa de materiais nanoestruturais avançados, bem como no desenvolvimento e na fabricação de chips de circuitos integrados semicondutores de alta tecnologia.
Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo de feixe de íons focados em Ga+ O Microscópio Eletrônico de Varredura de Feixe Iônico Focalizado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Possui uma coluna de feixe de íons focalizado para nanoanálise e preparação de espécimes. Utiliza tecnologia de óptica eletrônica de "supertúnel", baixa aberração e design de objetiva não magnética, além de possuir o recurso de "baixa tensão e alta resolução" para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons proporcionam uma fonte de íons metálicos líquidos de Ga+ com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa para nanoanálise e fabricação, com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software de interface gráfica (GUI) de fácil utilização.