Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo FESEM | SEM5000Pro

CIQTEK SEM4000 é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo térmico analítico equipado com um canhão eletrônico de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida útil. O design de lente magnética de três estágios, com corrente de feixe grande e continuamente ajustável, tem vantagens óbvias em EDS, EBSD, WDS e outras aplicações. Suporta modo de baixo vácuo, pode observar diretamente a condutividade de amostras fracas ou não condutoras. O modo de navegação óptica padrão, bem como uma interface de operação intuitiva, facilitam o seu trabalho de análise.

CIQTEK SEM3200 é um microscópio eletrônico de varredura com filamento de tungstênio de alto desempenho. Possui excelentes recursos de qualidade de imagem nos modos de alto e baixo vácuo. Ele também possui uma grande profundidade de campo com uma interface amigável para permitir aos usuários caracterizar amostras e explorar o mundo da imagem e análise microscópica.

CIQTEK DB500 é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo (FE-SEM) com uma coluna de feixe de íons focados (FIB) para nanoanálise e preparação de amostras, que é aplicado com tecnologia “SuperTunnel”, baixa aberração e design de lente objetiva sem magnetismo, com capacidade de baixa tensão e alta resolução que garante sua capacidade analítica em nanoescala. A coluna de íons facilita uma fonte de íons metálicos líquidos Ga+ com um feixe de íons altamente estável e de alta qualidade para garantir capacidade de nanofabricação.   O DB500 é equipado com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás, mecanismo elétrico anticontaminação para a lente objetiva e 24 portas de expansão, tornando-o uma plataforma versátil de nanoanálise e fabricação com configurações abrangentes e capacidade de expansão.

CIQTEK SEM5000X é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo de resolução ultra-alta (FE-SEM) com resolução inovadora de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Beneficiando-se do processo de engenharia de coluna atualizado, da tecnologia “SuperTunnel” e do design de lentes objetivas de alta resolução, o SEM5000X pode obter melhorias adicionais na resolução de imagens de baixa tensão. As portas da câmara de amostra se estendem até 16, e a trava de carga para troca de amostra suporta tamanhos de wafer de até 8 polegadas (diâmetro máximo de 208 mm), expandindo bastante as aplicações. cobertura. Os modos de digitalização avançados e as funções automatizadas aprimoradas proporcionam um desempenho mais forte e uma experiência ainda mais otimizada.