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Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo FESEM | SEM5000Pro

CIQTEK SEM5000Pro é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo (FESEM) com capacidade de imagem e análise de alta resolução, apoiado por funções abundantes, benefícios de design avançado de coluna óptica eletrônica, com tecnologia de túnel de feixe de elétrons de alta pressão (SuperTunnel), baixa aberração e Lente objetiva MFL, obtém imagens de baixa tensão e alta resolução, a amostra magnética também pode ser analisada.

Com navegação óptica, funcionalidades automatizadas, interface de usuário de interação humano-computador cuidadosamente projetada e operação e processo de uso otimizados, não importa se você é um especialista ou não, você pode começar rapidamente e concluir trabalhos de análise e imagem de alta resolução.

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• Imagens de alta resolução com baixa tensão de aceleração.

• A objetiva composta eletromagnética melhora a resolução de baixa tensão e permite a observação de amostras magnéticas.

• A tecnologia de tunelamento de alta pressão (SuperTunnel) garante resolução de baixa tensão.

• O caminho óptico eletrônico sem cruzamento reduz efetivamente a aberração do sistema e melhora a resolução.

• Lente objetiva de temperatura constante resfriada a água, para garantir a estabilidade, confiabilidade e repetibilidade do trabalho da lente objetiva.

• Sistema de diversas aberturas magnéticas defletidas com seis furos, com aberturas comutáveis ​​automaticamente, sem necessidade de ajuste mecânico, alcança imagens de alta resolução ou modo de análise de feixe grande por meio de uma comutação rápida com clique.

 

Scanning Electron Microscope applications

Parâmetros principais Resolução

0,8 nm a 15 kV, SE

1,2 nm a 1,0 kV, SE

Tensão de aceleração 0,02 ~ 30kV
Ampliação 1 ~ 2.500.000x
Tipo de arma de elétrons Pistola de elétrons de emissão de campo Schottky de alto brilho
Câmara de Amostras Sistema de vácuo Controle totalmente automático, sistema de vácuo sem óleo
Câmera Câmeras duplas (navegação óptica + monitor de câmara)
Faixa de palco

X: 110 mm, Y: 110 mm, Z: 50 mm

T: -10°~ +70°, R: 360°

Detectores e extensões Padrão

Detector Inlens SE

Detector Everhart-Thornley (ETD)

Opcional

Detector retrátil de elétrons retroespalhados (BSED)

Microscópio eletrônico de transmissão de varredura retrátil (STEM)

Espectroscopia de Dispersão de Energia (EDS, EDX)

Padrão de difração de retroespalhamento de elétrons (EBSD)

Câmara de ar

Painel de controle do trackball e botão

Programas Linguagem Inglês
Sistema operacional janelas
Navegação Nav-Cam, navegação por gestos
Funções Automáticas Brilho e contraste automáticos, foco automático, estigma automático

 

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