CIQTEK Conclui com Sucesso a Exposição na SCANDEM 2026 em Oulu, Finlândia
CIQTEK Conclui com Sucesso a Exposição na SCANDEM 2026 em Oulu, Finlândia
July 03, 2026
CIQTEKA CIQTEK, uma fornecedora líder de soluções de medição de precisão e microscopia eletrônica, tem o prazer de anunciar a conclusão bem-sucedida de sua participação na Reunião Anual SCANDEM 2026 da Sociedade Nórdica de Microscopia, realizada de 9 a 12 de junho de 2026, em Oulu, Finlândia.
Visão geral do evento
A SCANDEM é uma das conferências anuais de microscopia mais antigas e influentes da região nórdica. A reunião deste ano foi organizada conjuntamente pelo Centro de Análise de Materiais do Biocenter Oulu e pela Sociedade Nórdica de Microscopia, sendo realizada no Edifício Kieppi do Biocenter Oulu. A conferência abrangeu duas grandes áreas temáticas: ciências da vida (desde imagens de organismos inteiros até técnicas em nível molecular) e ciência dos materiais (metalurgia, geologia, catalisadores, nanopartículas e muito mais). O programa contou com palestras plenárias, apresentações científicas, sessões de pôsteres e um salão de exposições, recebendo aproximadamente 120–150 participantes e cerca de 20 fornecedores de instrumentos. Notavelmente, Oulu foi designada Capital Europeia da Cultura de 2026, oferecendo aos visitantes de todo o mundo uma atmosfera cultural única e um ambiente vibrante de inovação.
Destaques do estande da CIQTEK
O estande da CIQTEK estava localizado em II.5na área de exposição. A equipe europeia (Frank, Miles, Markus, Changming) esteve presente para apresentar dois produtos principais de microscopia eletrônica e fornecer consultas técnicas profissionais aos participantes.
Produtos em destaque:
MEV5000X FESEM de Ultra-Alta Resolução: O microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo principal da CIQTEK, com um sistema óptico eletrônico avançado que oferece imagens de ultra-alta resolução, ideal para análise nanoestrutural de precisão em ciência dos materiais, semicondutores e ciências da vida.
MEV HEM6000 de Alta Velocidade: Uma estação de trabalho de alto rendimento projetada para inspeção de grandes áreas e em lotes, com excelente alta corrente de feixe, estabilidade excepcional e fluxos de trabalho automatizados, acelerando significativamente as velocidades de aquisição de imagens para controle de qualidade industrial e pesquisa avançada.
Apresentação da empresa
A CIQTEK realizou uma apresentação em Sessão 1 (Sessão da Empresa LS1+MS1, Sala 101A) das aproximadamente 11:00 às 11:10.
Apresentador: Miles, especialista em soluções da CIQTEK
Tema: "Desbloqueando o poder da solução exclusiva de microscopia eletrônica de varredura de alta velocidade da CIQTEK"
A apresentação explorou os princípios fundamentais por trás da Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo (FESEM) de alta velocidade e revelou como essa tecnologia de ponta está transformando imagens e análises em diferentes escalas e com grandes volumes de dados. Miles explicou o que torna o FESEM de alta velocidade da CIQTEK excepcionalmente diferente e destacou as aplicações nas quais ele mais se destaca. Os participantes também aprenderam como o pacote integrado de microscopia de alta velocidade da CIQTEK combina múltiplas tecnologias para liberar uma verdadeira largura de banda, proporcionando um avanço revolucionário em rendimento enquanto mantém uma excelente resolução de imagem.
Principais tópicos da apresentação
Durante a Sessão da Empresa, a apresentação da CIQTEK abordou:
Pacote de Tecnologia de Imagem de Alta Velocidade e Alto Desempenho: Integrando fonte de elétrons de alta corrente de feixe grande e alto brilho, controlador de varredura de alta velocidade, deflexão eletrostática de feixe de alta velocidade, processamento de imagens de alta velocidade, aquisição de elétrons de sinal de alta velocidade, transmissão de sinal de vídeo de alta velocidade, estágio de amostra com movimento de alta velocidade e fluxo de trabalho altamente automatizado — proporcionando maior velocidade de imagem, mais horas de imagem contínua e fluxo de trabalho inteligente.
Sistema Automático de Troca de Amostras: Com funcionalidade de limpador de plasma para preparação e manuseio eficientes de amostras.
Especificações do HEM6000: Parâmetros técnicos detalhados incluindo resolução (1,5 nm @ 1 kV SE, 1,3 nm @ 3 kV SE, 1,5 nm @ 15 kV BSE), ampliação (66× – 1.000.000×), tensão de aceleração (100 V – 30 kV), capacidades do estágio de amostra e velocidade de aquisição (10 ns/pixel, 2×100M pixels/s).
Sede da CIQTEK: Localizada no Nº 1969, Kongquetai Road, Zona de Alta Tecnologia, Hefei, Anhui, China. A instalação ocupa uma área de terreno de 76.000 m² com uma área total construída de 280.000 m², abriga mais de 800 funcionários e inclui uma sala limpa de 4.000 m² (Classe 10.000, parcialmente Classe 100).
Suporte da equipe europeia
Esta exposição foi gerenciada pela equipe europeia da CIQTEK, que trouxe ampla experiência em instrumentação de microscopia e experiência em serviços do mercado local para oferecer demonstrações profissionais e eficientes de produtos e suporte técnico. Folhetos de produtos e unidades USB personalizadas estavam disponíveis para os visitantes no estande.
Conclusão
A participação da CIQTEK na SCANDEM 2026 marcou mais um passo importante na estratégia de expansão global da empresa. O evento proporcionou uma excelente plataforma para interagir com pesquisadores e especialistas líderes da comunidade global de microscopia, apresentar as tecnologias avançadas de microscopia eletrônica da CIQTEK e fortalecer a presença da empresa no mercado europeu. A CIQTEK permanece comprometida em impulsionar a inovação em microscopia eletrônica e espera continuar sua colaboração com a comunidade científica internacional.
Sobre a CIQTEK
A CIQTEK é uma fornecedora líder de soluções de medição de precisão e microscopia eletrônica, dedicada a oferecer tecnologias de ponta para pesquisa científica e aplicações industriais. Com um forte compromisso com inovação e excelência, a CIQTEK continua a expandir os limites da tecnologia de microscopia e medição em todo o mundo.