CIQTEK no Analytica Lab Africa 2023, Joanesburgo, África do Sul

CIQTEK SEM5000 é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo com capacidade de imagem e análise de alta resolução, apoiado por funções abundantes, benefícios de design avançado de coluna óptica eletrônica, com tecnologia de túnel de feixe de elétrons de alta pressão (SuperTunnel), baixa aberração e não imersão lente objetiva, alcança imagens de baixa tensão e alta resolução, a amostra magnética também pode ser analisada. Com navegação óptica, funcionalidades automatizadas, interface de usuário de interação humano-computador cuidadosamente projetada e operação e processo de uso otimizados, não importa se você é um especialista ou não, você pode começar rapidamente e concluir o trabalho de análise e imagem de alta resolução.

Microscópio SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenho O microscópio SEM CIQTEK SEM3200 é um excelente microscópio eletrônico de varredura (SEM) de filamento de tungstênio de uso geral com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelentes recursos.

Microscopia eletrônica de varredura por emissão de campo de resolução ultra-alta (FESEM) desafia os limites O CIQTEK SEM5000X é um FESEM de resolução ultra-alta com design de coluna óptica eletrônica otimizado, reduzindo as aberrações gerais em 30%, alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm@15 kV e 1,0 nm@1 kV . Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa avançada de materiais nanoestruturais, bem como no desenvolvimento e fabricação de chips IC semicondutores de nó de alta tecnologia.

Alta resolução sob baixa excitação O CIQTEK SEM5000Pro é um microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo Schottky (FE-SEM) especializado em alta resolução mesmo sob baixa tensão de excitação. O emprego de uma avançada tecnologia de óptica eletrônica "Super-Túnel" facilita um caminho de feixe sem cruzamento, juntamente com um design de lente composta eletrostática-eletromagnética. Esses avanços reduzem o efeito de carga espacial, minimizam as aberrações da lente, melhoram a resolução da imagem em baixa tensão e alcançam uma resolução de 1,2 nm a 1 kV, o que permite a observação direta de amostras não condutoras ou semicondutoras, reduzindo efetivamente a amostra danos por irradiação.

Microscópio eletrônico de varredura de alta velocidade para imagens em escala cruzada de espécimes de grande volume CIQTEK HEM6000 instala tecnologias como o canhão de elétrons de corrente de feixe grande de alto brilho, sistema de deflexão de feixe de elétrons de alta velocidade, desaceleração de estágio de amostra de alta tensão, eixo óptico dinâmico e lentes objetivas combinadas eletromagnéticas e eletrostáticas de imersão para obter aquisição de imagem em alta velocidade e, ao mesmo tempo, garantir resolução em nanoescala. O processo de operação automatizado foi projetado para aplicações como um fluxo de trabalho de imagem de alta resolução em grandes áreas mais eficiente e inteligente. A velocidade de imagem pode chegar a 5 vezes mais rápida do que um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo convencional (FESEM).

Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio de última geração O CIQTEK SEM3300 microscópio eletrônico de varredura (SEM) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons na lente e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias no microscópio de filamento de tungstênio, o limite de resolução de longa data de tal SEM é superado, permitindo que o SEM de filamento de tungstênio execute tarefas de análise de baixa tensão que antes só eram possíveis com SEMs de emissão de campo.

Microscópio eletrônico de transmissão de emissão de campo de 120kV (TEM) 1. Espaços de trabalho divididos: Os usuários operam o TEM em uma sala dividida com conforto, reduzindo a interferência ambiental no TEM. 2. Alta eficiência operacional: O software designado integra processos altamente automatizados, permitindo interação eficiente de TEM com monitoramento em tempo real. 3. Experiência Operacional Atualizada: Equipado com um canhão de elétrons de emissão de campo com um sistema altamente automatizado. 4. Alta capacidade de expansão: Existem interfaces suficientes reservadas para os usuários atualizarem para uma configuração superior, que atende a diversos requisitos de aplicação.