CIQTEK apresentará inovação em SEM de alta velocidade na Microscopia e Microanálise 2026
CIQTEK apresentará inovação em SEM de alta velocidade na Microscopia e Microanálise 2026
July 15, 2026
CIQTEK, um fabricante global líder de instrumentos científicos de alta gama, tem o prazer de anunciar sua participação na conferência Microscopia e Microanálise (M&M) 2026 que acontecerá de 2 a 6 de agosto de 2026, no Baird Center em Milwaukee, Wisconsin, EUA.
A conferência M&M é o maior encontro científico e reunião de profissionais de microscopia e microanálise, acadêmicos, técnicos, estudantes e expositores do mundo. Ela oferece um fórum de destaque para a apresentação e discussão de uma ampla variedade de técnicas de microscopia e microanálise e suas aplicações nas ciências biológicas e físicas.
Detalhes do evento
Tabela
Data
2 a 6 de agosto de 2026
Localização
Baird Center, Milwaukee, WI
Número do estande
718
Tutorial do fornecedor: Desbloqueando o poder da MEV de alta velocidade exclusiva
A CIQTEK tem a honra de apresentar um Tutorial do fornecedor na M&M 2026, apresentando nosso mais recente avanço na tecnologia de microscopia eletrônica de varredura.
Data: Segunda-feira, 3 de agosto de 2026
Horário: 17h45 – 18h45
Título:Desbloqueando o poder da microscopia eletrônica de varredura de alta velocidade exclusiva sem comprometer a excelente resolução de imagem em baixo kV para aplicações de microscopia de volume em larga escala da CIQTEK
Este tutorial demonstrará como as soluções exclusivas de MEV de alta velocidade da CIQTEK permitem que pesquisadores obtenham aquisição rápida de dados mantendo uma excelente resolução de imagem em baixo kV — uma capacidade essencial para aplicações de microscopia de volume em larga escala. Tradicionalmente, os pesquisadores precisavam escolher entre velocidade de imagem e resolução; a CIQTEK eliminou essa troca, fornecendo imagens cristalinas em altas velocidades sem comprometer a integridade da amostra.
Apresentação de pôster
A CIQTEK também tem o prazer de compartilhar que um resumo de pesquisa foi aceito para apresentação de pôster na conferência, demonstrando ainda mais o compromisso da empresa em avançar as fronteiras da microscopia e da microanálise.
Discussões técnicas no local com especialistas em aplicações e engenheiros de serviço da CIQTEK
Consultoria em soluções de pesquisa personalizada às suas necessidades científicas específicas
Demonstrações ao vivo da MEV de filamento de tungstênio da CIQTEK
Orientação sobre a seleção de sistemas desde imagens de rotina até microscopia avançada de volume em grande escala
O portfólio de microscopia eletrônica da CIQTEK abrange uma ampla variedade de aplicações, incluindo MEV de filamento de tungstênio, FE-MEV de alta resolução, FIB-MEV e sistemas especializados de MEV de alta velocidade projetados para microscopia eletrônica volumétrica (VEM) em pesquisas de ciência dos materiais e ciências da vida.
Conecte-se com a CIQTEK em Milwaukee
Convidamos todos os participantes a participar do nosso Tutorial do fornecedor na segunda-feira, 3 de agosto, às 17h45 e a visitar o Estande 718 durante toda a conferência para obter informações detalhadas sobre produtos e consultas individuais com nossos especialistas técnicos.
Para obter mais informações sobre a M&M 2026, incluindo inscrição e o programa completo da conferência, visite o site oficial da conferência.
Entre em contato com a CIQTEK
Para solicitações de reuniões ou dúvidas antes e durante o evento, entre em contato diretamente com a equipe da CIQTEK nos EUA: info.usa@ciqtek.com
Esperamos nos conectar com você em Milwaukee e explorar como as soluções avançadas de microscopia da CIQTEK podem acelerar sua pesquisa.