Detectores de microscópio eletrônico de varredura

O Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) é uma ferramenta poderosa para diversas aplicações em ciências de materiais, ciências biológicas e outros campos. Diferentes tipos de detectores foram desenvolvidos para obter mais informações e melhorar o desempenho do SEM. A seguir estão alguns tipos comuns de detectores SEM :

Detector de elétrons retroespalhados (BSE): Os detectores de BSE são usados ​​para detectar elétrons espalhados pelos núcleos de átomos e elementos de alto número atômico dentro de uma substância. Os detectores de BSE fornecem imagens de alto contraste que podem ser usadas para análise de composição de materiais e caracterização de microestruturas.

Detector de elétrons secundários (SE): O detector SE é usado para detectar elétrons secundários na superfície de um material excitado por um feixe de elétrons de varredura. Como a morfologia da superfície e a composição do material influenciam os elétrons secundários, o detector SE fornece uma imagem de alta resolução da topografia da superfície.

Detector de elétrons de transmissão (TED): Os detectores TED são usados ​​para detectar elétrons de transmissão que passam através de uma fina folha de material e são focados no detector. Os detectores TED são adequados para análises composicionais e estruturais de materiais de alta resolução, por exemplo, caracterização de nanopartículas em nível atômico.

Espectroscopia de raios X por dispersão de energia (EDS): Detectores EDS são usados ​​para analisar a composição elementar de materiais. Quando um feixe de elétrons de varredura interage com uma amostra, raios X característicos são produzidos, e o detector EDS coleta e mede o espectro de energia desses raios X para determinar a composição química e a distribuição elementar do material.

Detector de Campo Retardador (RFD): O detector RFD é usado para medir a carga transportada pelos elétrons gerados na superfície da amostra. Este tipo de detector é muito útil para estudar a condutividade elétrica e as propriedades de carga superficial dos materiais.

Estes são apenas alguns dos detectores SEM comuns; na verdade, existem muitos outros tipos de detectores, cada um com vantagens e aplicações diferentes. A seleção do detector adequado depende dos objetivos do estudo e da informação a ser obtida.

O SEM desenvolvido pela CIQTEK oferece uma ampla gama de detectores para escolher, comoBSED, STEM, EDS, EDX, EBSD, In-lens, ETD, etc.