O que você está procurando?
Pesquisas populares
field emission scanning electron microscope fe sem

FESEM | SEM4000Pro

Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo analítico (FESEM) equipado com um canhão eletrônico de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida útil

Com o projeto de coluna óptica eletrônica condensadora de três estágios para correntes de feixe de até 200 nA, o SEM4000Pro oferece vantagens em EDS, EBSD, WDS e outras aplicações analíticas. O sistema suporta o modo de baixo vácuo, bem como um detector de elétrons secundários de baixo vácuo de alto desempenho e um detector de elétrons retroespalhados retrátil, que pode ajudar a observar diretamente amostras pouco condutoras ou mesmo não condutoras.

O modo de navegação óptica padrão e uma interface de operação do usuário intuitiva facilitam o trabalho de análise.

Pergunte agora

• Equipado com canhão de elétrons de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida

• Alta resolução de 0,9 nm a 30 kV

• Design de lente condensadora de três estágios, ampla faixa ajustável de corrente de feixe com correntes máximas de feixe de até 200 nA

• Modo padrão de baixo vácuo, detector de elétrons secundários de baixo vácuo de alto desempenho e detector de elétrons retroespalhados retrátil

• Design de lente objetiva livre de campo magnético sem imersão, pode observar diretamente amostras magnéticas

• Modo de navegação óptica padrão

Parâmetros Chave Resolução Alto Vácuo

0,9 nm a 30 kV, SE
Baixo Vácuo

2,5 nm a 30 kV, BSE, 30 Pa

1,5 nm a 30 kV, SE, 30 Pa
Tensão de aceleração 0,2 ~ 30kV
Ampliação 1 ~ 1.000.000 x
Tipo de arma eletrônica Pistola de elétrons de emissão de campo Schottky de alto brilho
Câmara de Amostras Sistema de vácuo Controle totalmente automatizado
Baixo Vácuo (Opcional) Máx. 180Pa
Câmera Câmeras duplas (navegação óptica + monitoramento de câmara)
Distância

X: 110mm

Y: 110mm

Z: 65mm

T: -10°~ +70°

D: 360°
Detetores e Extensões Padrão

Detector Everhart-Thornley (ETD)

Detector de Baixo Vácuo (LVD)

Detector de elétrons retroespalhados (BSED)

Opcional

Detector STEM

Espectrômetro Dispersivo de Energia (EDS)

Padrão de difração de retroespalhamento de elétrons (EBSD)

Bloqueio de carregamento de troca de amostra

Painel de controle do trackball e botão
Software Idioma Inglês
SO Janelas
Navegação Nav-Cam, navegação rápida por gestos
Funções Automáticas Brilho e contraste automáticos, foco automático, estigma automático
Tags quentes : Fabricante de microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo, fornecedor global Detectores SEM EDX, EDS, EBSD, BSE, CL, STEM alta resolução FESEM melhor preço Pistola de elétrons de emissão de campo Schottky de alto brilho Melhor Microscopia Eletrônica de Varredura de Emissão de Campo de Ampliação Aplicações de microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo pdf Notas do microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo
Deixe um recado
Não hesite em contactar-nos para mais detalhes, solicitar um orçamento ou agendar uma demonstração online! Responderemos assim que pudermos.
Assunto : FESEM | SEM4000Pro
Enviar
produtos relacionados
fib sem microscopy
FIB-SEM | DB500

Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo (FE-SEM) com colunas de feixe de íons focados (FIB) O microscópio eletrônico de varredura por feixe de íons focado CIQTEK DB500 (FIB-SEM) adota tecnologia de óptica eletrônica “SuperTunnel”, baixa aberração e design de objetivo não magnético com baixa tensão e capacidade de alta resolução para garantir a análise em nanoescala. A coluna de íons facilita uma fonte de íons metálicos líquidos Ga+ com um feixe de íons altamente estável e de alta qualidade para nanofabricação. FIB-SEM DB500 possui um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás, mecanismo elétrico anticontaminação para a lente objetiva e 24 portas de expansão, tornando-o uma plataforma versátil de nanoanálise e fabricação com configurações abrangentes e capacidade de expansão .

Saber mais
fesem edx
FESEM de resolução ultra-alta | SEM5000X

Microscopia Eletrônica de Varredura de Emissão de Campo de resolução ultra-alta (FESEM): 0,6 nm@15 kV e 1,0 nm@1 kV O CIQTEK SEM5000X FESEM de resolução ultra-alta utiliza o processo de engenharia de coluna atualizado, tecnologia “SuperTunnel” e design de lente objetiva de alta resolução para melhorar a resolução de imagens de baixa tensão. As portas da câmara de amostra FESEM SEM5000X se estendem até 16, e a trava de carga para troca de amostra suporta tamanho de wafer de até 8 polegadas (diâmetro máximo de 208 mm), expandindo significativamente as aplicações. Os modos de digitalização avançados e funções automatizadas aprimoradas proporcionam desempenho mais forte e uma experiência ainda mais otimizada.

Saber mais
scanning electron microscope machine
Filamento de tungstênio SEM | SEM3200

Microscópio SEM de filamento de tungstênio de alto desempenho com excelentes recursos de qualidade de imagem nos modos de alto e baixo vácuo O CIQTEK SEM3200 Microscópio SEM tem uma grande profundidade de campo com uma interface amigável para permitir que os usuários caracterizem amostras e explorem o mundo da imagem e análise microscópica.

Saber mais
sem microscope price
Histórias de clientes de microscópios SEM CIQTEK

Leia os insights dos clientes SEM da CIQTEK e saibamais sobre os pontos fortes e as conquistas da CIQTEK como líder do setor de SEM! E-mail: info@ciqtek.com

Saber mais
Principal

Deixe um recado
Deixe um recado
Não hesite em contactar-nos para mais detalhes, solicitar um orçamento ou agendar uma demonstração online! Responderemos assim que pudermos.
Enviar

Lar

Produtos

Bater papo

contato