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Amostragem de Precisão em Nanoescala com DualBeam FIB-SEM: Aplicações da Nanomanipulação em Pesquisa Biomédica e de Semicondutores

Jun 30 , 2025

Por que a amostragem precisa em nanoescala é importante Em áreas de ponta como ciência dos materiais, ciências biológicas e pesquisa de dispositivos semicondutores, a amostragem de precisão em nanoescala é frequentemente um pré-requisito para resultados significativos. Seja extraindo um local específico de falha de um chip semicondutor ou isolando organelas de uma única célula, os métodos convenci...

Tag : FIB-SEM para extração de amostras Análise FIB SEM de alta resolução SEM de feixe duplo para análise de nanoestrutura
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Visualização e quantificação da porosidade em estruturas ósseas bioativas impressas em 3D usando microscópios SEM

Jul 10 , 2025

Compreendendo o papel da porosidade na engenharia do tecido ósseo Os arcabouços ósseos bioativos impressos em 3D desempenham um papel fundamental na engenharia de tecidos ósseos, onde a porosidade é um parâmetro fundamental que influencia a adesão celular, a proliferação, o transporte de nutrientes e a formação de novos ossos. Níveis de porosidade excessivamente altos ou baixos podem impactar nega...

Tag : Imagens SEM de andaimes porosos microscopia eletrônica de varredura para biomateriais SEM para pesquisa biomédica
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Os 5 principais recursos a serem procurados em um SEM de alta velocidade para laboratórios de pesquisa

Jul 31 , 2025

Ao escolher um microscópio eletrônico de varredura de alta velocidade (MEV) Para um laboratório de pesquisa, não se trata mais apenas de ampliação ou resolução. A pesquisa moderna exige soluções de imagem mais rápidas, inteligentes e flexíveis . Quer você esteja trabalhando em ciência de materiais, ciências biológicas, nanotecnologia ou manufatura aditiva, o SEM certo pode acelerar drasticamente s...

Tag : SEM de alta velocidade SEM de baixa tensão SEM de alta resolução
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Um guia completo para resolução SEM, ampliação SEM e modos de imagem

Aug 13 , 2025

Para pesquisadores e engenheiros, compreender as especificações básicas de um Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) é essencial para obter resultados precisos. Entre os parâmetros mais importantes estão Resolução SEM , Ampliação SEM , e Modos de imagem SEM Esses três fatores definem o nível de detalhe, a escala e o tipo de informação que pode ser capturada de uma amostra. Saber como eles funci...

Tag : Resolução SEM Ampliação SEM Imagem SEM
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